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KERN分析天平的校准
KERN分析天平作为一种精密电子仪器，被广泛应用于实验室等科研领域。分析天平虽然比其他称重衡器精度更高，但是对于实验室人士来说，微小的误差都可能导致实验的失败，因此实验室经常要对分析天平的误差进行计算并加以分析。（ 1） e≠d时， 示值误差计算公式应为E= I- L（E：天平示值误差， I： 天平指示值， L： 天平称盘上所加载荷）。（2）当e= d时， 示值误差计算公式应为E= I- L+（1- 2）d- △L（d： 电子天平实际标尺分度值， AL： 在天平称盘上为示值凑整而添加的载荷） 。在所有情况下，规程中所规定的允许误差都是大于或等于各个载荷点的误差。需要对电子天平进行重复性的检定：需要在空载和加载的情况下开始检定，有两种载荷的加载方法：加载和半载。在检定的过程中，对加载和空载的平衡位置，分别的进行读取数值，并记录下来。通常需要在每次加载的载荷后都需要返零。需要对同一载荷进行多次的衡量，并进行衡量结果之间的差值，差值不能够大于该载体在天平测量时允许的zui大误差的值。
检定KERN分析天平的偏载和四角误差检定：质量过关的天平，试验载荷是其zui大zui大称量值，四角误差是zui大示值减去zui小示值zui后所得的差。进入工作状态的电子天平，其zui大载荷的三分之一的数值与测试载荷相等，平均每个点的示值和中心点示值的差的值的zui大数值是四角误差。
KERN天平校准服务
根据政府规定，天平检定工作应在特定领域进行，尤其是涉及到消费者权益保护和公平竞争的领域。
与校准工作有所不同的是，检定工作需在天平上进行
根据立法机构规定，允许可进行检定工作的天平有以下几种：
用于商业用途的天平，商品的价格由称重量决定
用于药房的药物生产以及用于医药学实验室分析的天平
用途的天平
用于生产预封装的天平
由立法机构管理天平、测试砝码和复检工作。
定期复检是法律义务，由当地*实施。
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