專業代理美國Filmetrics薄膜測厚儀F20

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    美國Filmetrics公司生產的薄膜測厚儀是以F20為平臺，具有其系列的所有優點：利用光譜反射的原理，測量精度達到埃級的分辨率，測量快，操作簡單及的薄膜厚度測量設備。Filmetrics公司的設備測量范圍從近紅外到紫外線，波長范圍從200nm到1700nm，測量厚度從30A到500um范圍。凡是光滑的，透明或半透明的，或是對光有吸收的膜層都可以測量。

F20是Filmetrics公司的標配儀器，以其低廉的價格，*的性能贏得客戶的好評，它們在*被用于幾千種用途。厚度和折射率在幾秒鐘內就能得到測量。就像我們所有的臺式儀器一樣，F20需要連接到您裝有Windows計算機的USB端口上并在數分鐘內即可完成設定。

不同的F20膜厚測量儀主要是根據波長范圍來加以區分的。標準的F20是我們zui為普遍的產品。較短的波長，（例如F20-UV），一般用于測量較薄的厚膜，而較長的波長（例如F20-NIR），則可以用來測量更厚、更不平整以及更不透明的薄膜。

產品應用：

半導體行業：光阻、氧化物、氮化物

LCD行業：液晶盒間隙厚度、Polyimides

光電鍍膜應用：硬化膜、抗反射膜、濾波片

LED行業：用F20來測量透明的藍寶石上的光刻膠，ITO，多層氧化硅氧化鈦等薄膜厚度，該機操作簡易，毫秒間就能測量出準確的數據。

具體型號及技術要求咨詢。

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