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日立分析儀器(上海)有限公司

化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>分析儀器>光譜>微波等離子體光譜儀(MPT、MIP)>Prodigy高色散型全譜直讀光譜儀 全譜直讀ICP發(fā)射光譜儀

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Prodigy高色散型全譜直讀光譜儀 全譜直讀ICP發(fā)射光譜儀

具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱 克拉克中國
  • 品牌
  • 型號 Prodigy高色散型全譜直讀光譜儀
  • 產(chǎn)地 美國利曼
  • 廠商性質 代理商
  • 更新時間 2015/12/4 8:05:29
  • 訪問次數(shù) 932

聯(lián)系我們時請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,謝謝!


克拉克(中國)有限公司從事可靠性測試設備的銷售和測試服務。    

一、金屬鑄件,巖石,橡膠輪胎等檢測: 工業(yè)CT,X射線實時成像系統(tǒng),X光機,透視機。( 工業(yè)CT高精度計算機斷層掃描系統(tǒng)鑄件密度分割容積計算空間分布 )

二、激光測振儀(進口)位移分辨率高達0.008納米。測量物體振動的速度,加速度,位移,運動軌跡,頻率.全場激光測振實現(xiàn)整面物體的XY軸的振動測量可以彩色動畫輸出。三維激光測振可以實現(xiàn)三軸振動測量。多點激光測振可以同時實現(xiàn)16個振動點振動并可以測量物體瞬間振動和實時的振動模擬.

三、 耗材: 磁粉探傷,滲透探傷        

     磁粉探傷:磁粉對導磁材料鋼,鐵,鈷,鎳等,材料表面微小裂紋的檢測。 如,發(fā)動機,軸承,鋼管的表面裂紋的快速檢測。滲透探傷包括熒光法和著色法。熒光法是將含有熒光物質的滲透液涂敷在被探傷件表面,通過毛細作用滲入表面缺陷中,然后清洗去表面的滲透液,將缺陷中的滲透液保留下來,進行顯象。典型的顯象方法是將均勻的白色粉末撒在被探傷件表面,將滲透液從缺陷處吸出并擴展到表面。這時,在暗處用紫外線燈照射表面,缺陷處發(fā)出明亮的熒光。 著色法與熒光法相似,只是滲透液內不含熒光物質,而含著色染料,使?jié)B透液鮮明可見,可在白光或日光下檢查。


過程補償聲共振測試系統(tǒng)-在線無損檢測工件結構缺陷

    它是一種工藝過程補償?shù)穆暪舱駲z測系統(tǒng) 使用給定的頻率振動工件并記錄工件的響應情況. 將工件的共振狀態(tài)與存儲的數(shù)據(jù)(圖形)進行比較 VIPR軟件將對所存儲的樣品組的每一只工件樣品的共振記錄進行分析,來確定可以準確區(qū)分良品和不良品的樣式,從而建立分選模塊。.自動判定工件的好壞..  PCRI檢測缺陷的類型: 常見缺陷----所有工藝裂縫, 夾渣, 化學物質, 性能缺失, ,充填不足, 尺寸差異PCRI檢測工藝加工而成的缺陷類型鑄鋁: 氧化物; 冷疤;收縮孔隙;吹砂孔;延伸度(距角).鑄鐵: 氧化物; 冷疊邊;收縮孔隙;球化率;t熱處理; 碳化物.粉末冶金:氧化物;齒缺陷;多孔性;燒結;模壓缺陷; 脫碳.鍛造:  端料工件; 重復鍛壓;疊壓工件; 淬火;材質差異.

   

四、 環(huán)境可靠性試驗   工業(yè)冷熱沖擊箱、工業(yè)烤箱、恒溫恒濕實驗箱、溫濕度循環(huán)實驗箱、工業(yè)壓力鍋蒸煮實驗箱


五、電子行業(yè)的失效分析設備銷售及測試服務

芯片分析手段匯總(微焦點xray,SAT;DECAP)

芯片分析手段有:

     1   SAT(超聲掃描),無損檢查:1.材料內部的晶格結構,雜質顆粒.夾雜物.沉淀物.2. 內部裂紋. 3.分層缺陷.4.空洞,氣泡,空隙等.

     2   微焦點XRay  用途:半導體BGA,線路板等內部位移的分析 ;利于判別空焊,虛焊等BGA焊接缺陷

   XRAY:微焦點X射線可以穿過塑封料并對包封內部的金屬部件成像,因此,它特別適用于評價由流動誘導應力引起的引線變形 在電路測試中,引線斷裂的結果是開路,而引線交叉或引線壓在芯片焊盤的邊緣上或芯片的金屬布線上,則表現(xiàn)為短路。X射線分析也評估氣泡的產(chǎn)生和位置,塑封料中那些直徑大于1毫米的大空洞,很容易探測到. ), 德國Feinfocus

     3  日本UNION HISOMET 測量工具顯微鏡   測量焊球、邦定線高度 Z軸測量誤差低于2微米.

     4  BGA LED推拉力測試儀 焊接強度測試儀 采用了AUTO-RANGE技術和VPM垂直定位技術,測試傳感器采用自動量程設計,分辨率高達0.0001克.

激光測振儀,芯片推拉力測試儀,HISOMET,納米CT,滲透探傷

美國利曼 全譜直讀等離子體發(fā)射光譜儀ICP 
儀器用途:全譜直讀型,同時定性和定量測定地質礦產(chǎn)等樣品中70余種微量、痕量元素。

2.儀器主機
一體化臺式設計,全譜直讀型等離子體原子發(fā)射光譜,紫外和可見光同時測定。垂直炬管配置(垂直觀測),波長連續(xù)覆蓋165-1100 nm,包括高頻發(fā)生器、等離子體及進樣系統(tǒng)、恒溫分光系統(tǒng)、固體檢測器、分析軟件和計算機系統(tǒng),全自動控制。


 
Prodigy高色散型全譜直讀光譜儀是Leeman Labs公司應用科技開發(fā)的一款ICP光譜儀,它采用了超大面積的L-PAD固態(tài)檢測器,一次曝光即可獲取全譜信息,高達10個數(shù)量級的線性范圍使其具有的分析性能。120-1100nm的波長覆蓋范圍遠非一般光譜儀可比擬,除了常規(guī)元素的檢測外,還可勝任鹵素、氮等位于遠紫外區(qū)的元素的檢測。
     L-PAD的全譜接收能力以及單獨配置的Pentium CPU處理系統(tǒng)賦予了Prodidy*的數(shù)據(jù)處理能力。如今,Prodigy在應用領域越來越體現(xiàn)出*的優(yōu)勢。激光燒蝕進樣、指紋譜圖分析、時序譜圖解析、離子色譜聯(lián)用、高效液相色譜聯(lián)用等技術的成功應用,已經(jīng)遠遠突破了傳統(tǒng)ICP概念,其優(yōu)異的升級和拓展能力也必將ICP技術發(fā)展的一次新的革命。
 
主要特點
1.大面積、程序化固態(tài)檢測器陣列L-PAD,較原CID檢測器大4倍 
2.高色散率、高分辨率、高準確度 
3.檢測器像素≥100萬,全譜直讀檢測,一次曝光完成 
4.非破壞性智能數(shù)據(jù)讀取處理,超級檢出能力 
5.超穩(wěn)定光學結構,科技 


工作條件:
環(huán)境溫度              15-30℃
              相對濕度              8% - 80%
電源:            220V ±10%交流, 50Hz,單相(< 50A)
 *3.2 分析元素數(shù)量:  一次曝光完成ICP可分析的全部70余鐘元素,并且同時測定各譜峰值及背景
 3.3 分析速度:           1分鐘內快速分析70余種元素
 3.4 分析方式:           分析各元素時,儀器應該能夠同時測定選定的各內標元素并完成背景校正
 3.5 開機穩(wěn)定時間:    ≤35分鐘
 3.6 紫外波段保護:    對190nm以下波長,光學系統(tǒng)采用氬氣或氮氣吹掃。
 * 3.7 動態(tài)分析范圍: ≥1010
       3.8 觀測方式:      垂直觀測
*3.9 分析精度:           RSD≤0.5%(按5ppm的濃度,標準溶液10次測定)
3.10       光譜儀結構:    固定式結構,且為紫外、可見波長同光路一次色散設計
*3.11分光系統(tǒng):     必須采用中階梯光柵-棱鏡交叉色散系統(tǒng)。中階梯光柵刻線:≥50條/mm
*3.12分辨率:            ≤0.005 nm(在200nm處)
*3.13波長范圍:     165-1100nm,全波長覆蓋;紫外和可見區(qū)必須同時完成測定而不需要狹縫切換。
*3.14焦距:         800nm
3.15雜散光:       <0.01ppm As當量,用20,000ppm Ca溶液在As 193.696nm處觀察
3.16波長校正:   自動汞燈波長校準。
3.17*光譜儀恒溫:光學元件均密封于恒溫室中,恒溫溫度在~35℃,可根據(jù)實驗室條件設定。
3.18*檢測器:     固體檢測器(CID)感光單元≥1百萬像素,同時測定信號和背景。
3.19檢測器冷卻: 三級半導體制冷
*3.20 RF射頻發(fā)生器:40.28兆赫,循環(huán)水冷卻、自激式直接串聯(lián)耦合設計
*3.21功率范圍:    750-2000W,多級可調,計算機控制RF功能輸出
3.22蠕動泵可由計算機控制改變速度、進樣量和清洗速度。
3.23操作軟件:基于Windows XP Professional 平臺。
3.24具有多于 300,000條譜線的在線譜圖庫。
3.25軟件可以自動診斷并有在線幫助功能。
3.26具有自動安全連鎖系統(tǒng)。
*3.27自動積分功能;可一次曝光同時測定高含量元素和痕量元素。
3.28 靈活的多譜線選擇,每種元素不同的靈敏線適用于不同的元素含量范圍,這樣使儀器的動態(tài)線性范圍得到擴展。
3.29譜圖自動解析功能:自動保存樣品全譜譜圖,可進行譜圖差減、比較分析,樣品譜圖特征分析。
3.30 完善的軟件自動計算功能,如:標準加入自動濃度計算,多條元素線計算濃度結果的自動數(shù)學運算。自動計算雜質含量等。
3.31儀器制造*符合ISO 9001標準及CE 標志

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