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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>分析儀器>質(zhì)譜>有機(jī)質(zhì)譜儀(Organic-MASS)>德國(guó)STOE STADI P 粉末衍射儀

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德國(guó)STOE STADI P 粉末衍射儀

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱(chēng) 源順科技儀器有限公司
  • 品牌
  • 型號(hào) 德國(guó)STOE STADI P
  • 產(chǎn)地 德國(guó)
  • 廠(chǎng)商性質(zhì) 經(jīng)銷(xiāo)商
  • 更新時(shí)間 2018/5/14 9:00:00
  • 訪(fǎng)問(wèn)次數(shù) 2750
產(chǎn)品標(biāo)簽

粉末衍射X射線(xiàn)衍射儀

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源順有限公司

源順有限公司是一家專(zhuān)門(mén)從事納米科技,材料分析,光電產(chǎn)品檢測(cè)及生產(chǎn)設(shè)備銷(xiāo)售和技術(shù)咨詢(xún)的高科技公司。我們*代理具有*水平的分析儀器,產(chǎn)品涵蓋了微觀(guān)結(jié)構(gòu)觀(guān)察,物理性能,力學(xué)性能及電磁學(xué)性能。
Total Solution ,為客戶(hù)提供整體解決方案,是源順公司一貫堅(jiān)持的宗旨。 這個(gè)宗旨象征*、品質(zhì)與客戶(hù)服務(wù),并將在新的世紀(jì)中,全面提升服務(wù)品質(zhì)以伴隨您的闊步發(fā)展。
源順公司秉持企業(yè)文化:『誠(chéng)信』、『品質(zhì)』、『服務(wù)』、『團(tuán)隊(duì)』、『創(chuàng)新』,本著其宗旨『Total Solution』,繼續(xù)將*的技術(shù),以Z佳的成本效益,提供客戶(hù)*質(zhì)的精密分析儀器和生產(chǎn)設(shè)備,并堅(jiān)持Z*的服務(wù)。

公司產(chǎn)品主要有:
LUM公司: 多功能的顆粒狀態(tài)與穩(wěn)定度分析儀
Qudix公司: 奈米 & 微米顆粒大小分析儀。
Scinco公司: 可見(jiàn)光及紫外光光度計(jì)(UV-Vis Spectrophotometer), Colormate。
SOFRASER公司: 在線(xiàn)粘度計(jì)。
ProRheo公司: 高階粘度計(jì)。
Rame-hart公司: 接觸角及表面張力分析儀。
AET 公司: 微波誘電分析儀
NANOFILM公司: 呈象橢偏儀,布氏角顯微鏡,LB 薄膜分析。
UNIOPT公司: 雙折射分析儀。
NonoInk: Dip Pen Nanolithography (DPN) 沾筆式納米制程技術(shù)。
ANASYS 公司: Nano-Thermal Analysis。
PNI公司: 原力顯微鏡(AFM)
Capres公司: MRAM,寫(xiě)磁頭的MTJ 磁阻和隧阻&材料表面 Nano微區(qū)范圍的阻抗分析.
LYNCEETEC公司: DHM (數(shù)字全析顯微鏡)
BEDE公司: 高分辨X射線(xiàn)衍射儀。
OMI公司: Solstice (晶圓或外延片的能階Bandgap分析,Strained Silicon 分析)。
Equinox (IC or MEMS封裝應(yīng)變,3D熱機(jī)械變形及CTE分析)。
Pascal公司: 脈沖雷射濺鍍MBE(PLD MBE) – ZnO, GaN, etc.。
Cambridge Nano Tech: 原子薄膜沉積儀 (ALD).
EpiQuest公司: 研發(fā)型 MOCVD,MBE,VCSEL 氧化系統(tǒng)。


源順公司總部設(shè)在香港,在上海和北京設(shè)立了分公司,深圳和成都設(shè)立了辦事處,并有強(qiáng)大的技術(shù)和維修隊(duì)伍,為客戶(hù)提供Z高水平的產(chǎn)品和服務(wù)。

公司產(chǎn)品主要有:X射線(xiàn)衍射系統(tǒng);多功能穩(wěn)定度分析儀 ;奈米顆粒大小分析儀;光電制造和檢測(cè)系統(tǒng);粘度分析系統(tǒng);粒度及微流變分析系統(tǒng);數(shù)字全析顯微鏡;呈象橢偏儀,布氏角顯微鏡,LB 薄膜分析;接觸角及表面張力分析儀;沾筆式納米制程技術(shù);在線(xiàn)粘度計(jì);原子薄膜沉積儀。

模塊化設(shè)計(jì)使同一光源可以提供給兩個(gè)獨(dú)立(相同或不同)的測(cè)角儀,即透射/德拜-謝樂(lè)模式和布拉格-布倫塔諾模式,而且測(cè)角儀可以采用立式和臥式。

特點(diǎn):
透射/德拜-謝樂(lè)及布拉格-布倫塔諾模式
高分辨衍射模式,使得峰形銳利
Ge(111)單色器提供了純Kα1,可以供Fe, Co, Cu 和Mo靶自動(dòng)或手動(dòng)調(diào)整一個(gè)自由度即可以實(shí)現(xiàn)單色器的調(diào)整
可以分析空氣敏感或濕度敏感以及微量樣品(0.01-0.1mg)
高低溫附件
樣品臺(tái)以及探測(cè)器的互換非常方便

探測(cè)器:

閃爍計(jì)數(shù)器
位敏探測(cè)器
影像板探測(cè)器(IP)



軟件:
STOE Win XPOW
Search/Match物相分析軟件,支持 ICCD PDF2 /PDF4
CSD Rietveld 精修
LAYER反射分析

選配:

零散射箔透射模式樣品臺(tái)支架(適應(yīng)厚度調(diào)整)
開(kāi)放式和封閉式毛細(xì)管樣品臺(tái)支架
可調(diào)反射樣品(粉末或塊狀)支架
高低溫附件臺(tái),可調(diào)溫度在20K到2000K
自動(dòng)樣品轉(zhuǎn)換臺(tái)(透射模式30 /反射12)


重量: 約350Kg
尺寸: 1700*900*1900mm
聚焦圓直徑: 130mm
2范圍: 0-140
掃描模式: 自由選擇
角度重現(xiàn)性 0.0005
zui小步長(zhǎng) 0.0005
探測(cè)器: 線(xiàn)性位敏探測(cè)器,固體探測(cè)器,
閃爍計(jì)數(shù)器,IP探測(cè)器
輻射防護(hù): 全互鎖系統(tǒng)
高壓發(fā)生器: 3.6KW,水冷
計(jì)算機(jī): PC,32位Windows OS


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