鍍層厚度檢測儀|Ux-700
參考價 | ¥ 12 |
訂貨量 | ≥1 |
- 公司名稱 深圳市賽銳納特科技有限公司
- 品牌
- 型號
- 產地
- 廠商性質 經銷商
- 更新時間 2016/8/2 21:04:52
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鍍層厚度檢測儀 Ux-700
產品介紹:
本著對插接件等細小結構件的單鍍層和多鍍層厚度的測量,Ux-720更專業小樣品測試腔的設計,帶有聚焦光點的準直器,高分辨率的探測系統,眾多*條件的選擇,保證測試結果的準確性。
X射線熒光技術測試鍍層厚度的應用,提高了大批量生產電鍍產品的檢驗條件,無損、快速和更準確的特點,對在電子和半導體工業中品質的提升有了檢驗的保障。
Ux-720鍍層測厚儀配備了XY軸微移動平臺,可以通過鼠標的點擊操作,選擇樣品的多點測試,特別適應于細小結構多種不同鍍層材料的測試。
Ux-720鍍層測厚儀具有高清晰、高放大倍數的攝像設備,測試樣品的部位清楚明了,同時攝像設備拍抓測試部位的圖片,和測試數據結果一同出現在測試報告中。
Ux-720產品指標: 測厚技術:X射線熒光測厚技術 測試樣品種類:金屬鍍層,合金鍍層 測量下限:0.003um 測量上限:30-50um(以材料元素判定) 測量層數:10層 測量用時:30-120秒 探測器類型:Si-PIN電制冷 探測器分辨率:149eV 高壓范圍:5-50Kv,50W X光管參數:5-50Kv,50W,側窗類; 光管靶材:Mo靶; 濾光片:*****自動切換; CCD觀察:260萬像素 微移動范圍:XY 輸入電壓:AC220V,50/60Hz 測試環境:非真空條件 數據通訊:USB2.0模式 準直器:Ø 軟件方法:FlexFP-Mult 工作區:開放工作區 自定義 樣品腔:********mm 整機重量:
Ux-720鍍層測厚儀采用了華唯技術FlexFp -Multi,不在受標準樣品的限制,在無鍍層標樣的情況下直接可以測試樣品的鍍層厚度。
產品指標:
測厚技術:X射線熒光測厚技術
測試樣品種類:金屬鍍層,合金鍍層
測量下限:0.003um
測量上限:30-50um(以材料元素判定)
測量層數:10層
測量用時:30-120秒
探測器類型:Si-PIN電制冷
探測器分辨率:149eV
高壓范圍:5-50Kv,50W
X光管參數:5-50Kv,50W,側窗類;
光管靶材:Mo靶;
濾光片:鍍層濾光片
CCD觀察:260萬像素
微移動范圍:XY15mm
輸入電壓:AC220V,50/60Hz
測試環境:非真空條件
數據通訊:USB2.0模式
準直器:Ø0.5mm
軟件方法:FlexFP-Mult
工作區:開放工作區 自定義
樣品腔:70*20mm
整機重量:38kg
鍍層測厚方法:
1、 磁性涂層測厚法
使用磁性測厚法可測鐵、鋼導磁金屬上面的所有非導磁金屬和所有非導電層的厚度,如鐵上鍍銅、鋅、鉻、金、銀等,涂的油漆、塑料、橡膠、磷化膜、玻璃鋼等。
2、 渦流層層測厚法
可以測量非導磁導電金屬上面非導電涂層的厚度,如不銹鋼、銅、鋁金屬上的油漆層、氧化膜、磷化膜、玻璃鋼、橡膠等圖層的厚度
3、 X射線熒光法
所有金屬材料/非金屬材料上單金屬成分、2元或多元合金材料的單層和多層厚度的測試,同時可以測試鍍層材料的合金成分含量比例。
常用單位:
微米(um),微英寸(u‘’)俗語“邁”,密耳(mil)
1um=39.4邁, 1um=0.04mil