炭黑比表面積測定儀
- 公司名稱 上海標卓科學儀器有限公司
- 品牌
- 型號
- 產地
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2024/7/14 16:31:45
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分析方法
比表面測定:BET(單點、多點)比表面、Langmuir比表面、外表面測定
BJH孔徑分布測定:總孔體積、平均孔徑、孔容/孔徑的微分與積分分布
微孔常規分析:微孔總孔體積、總內表面積(t-圖、D&R、MP等)
微孔孔徑分布測試:氮分壓10-5 - 10-1范圍的等溫吸附曲線測定,
0.35-2nm微孔孔徑分布分析(HK或FS法)真密度測試
技術參數
測試方法:低溫氮吸附法,靜態容量法
測試氣體:高純氮氣,也可用氪、氦、二氧化碳等其他氣體
極限真空:4×10-2 Pa (3×10-4 torr)
分壓范圍:P/P0準確可控范圍4×10-5 –0.995
控制精度:測試壓力點控制zui小間隔可小于0.1 KPa (0.75 Torr),
測試點大于1000個點;
測量范圍:0.01(M2/g)-無規定上限(比表面),2 - 500nm(介孔孔徑分析),
0.35 - 2nm(微孔常規分析)
測試精度:重復性誤差±1.5%,
壓力測量: 采用高精度進口薄膜壓力傳感器顯著提高測試精度
樣品數量:采用2個樣品分析站,可進行2個樣品分析,
2個樣品脫氣處理
液位控制:多途徑液氮面控制與校正技術,確保測試的準確性,連續20h不添加液氮
測試效率:多點BET比表面每樣平均20-30min
預 處 理:兩個樣品同位處理,溫度50-400℃,±1℃;升溫速率與時間可單獨控制,
另可配置獨立外置4位預處理機,測試效率更高
軟件:BET(單點、多點)、Langmuir、BJH、t-Plot、MP、D-R、HK、FS等
數據采集:高精度雙向數字采集模塊,zui強的靈活性完成zui全面的數據采集,
誤差小,抗干擾能力強
數據處理:標準的windows窗口界面,易理解、學習、操作,豐富的比表面
和孔分析模型,圖像分辨率高,易于維護,兼顧到系統后期擴展