冷熱沖擊試驗(yàn)箱產(chǎn)品介紹

產(chǎn)品特點(diǎn)：
1、高低溫沖擊試驗(yàn)箱可選擇二箱式或三箱式。
2、二箱設(shè)備區(qū)分為高溫區(qū)，低溫區(qū)兩部分，測(cè)試產(chǎn)品置于提籃中，沖擊時(shí)提籃將測(cè)試產(chǎn)品移進(jìn)高溫區(qū)或低溫區(qū)進(jìn)行沖擊，測(cè)試產(chǎn)品為動(dòng)態(tài)式
3、三箱設(shè)備區(qū)分為高溫區(qū)，低溫區(qū)，測(cè)試區(qū)三部分，測(cè)試產(chǎn)品*靜止。采用*之蓄熱，蓄冷結(jié)構(gòu)，強(qiáng)制冷熱風(fēng)路切換方式導(dǎo)入測(cè)試區(qū)完成冷熱溫度沖擊測(cè)試可獨(dú)立設(shè)定高溫，低溫及冷熱沖擊三種不同條件之功能，執(zhí)行冷熱沖擊條件時(shí)，可選擇二箱或三箱之功能并具有高低溫試驗(yàn)箱的功能。
4、冷卻采用二元冷凍系統(tǒng)，降溫效果快速，冷卻方式為風(fēng)冷式或水冷式。

5、采用觸控式彩色液晶顯示人機(jī)界面控制器，操作簡(jiǎn)單、學(xué)習(xí)容易。
6、溫度控制精度高，全部采用PID自動(dòng)演算控制。
7、沖擊方式應(yīng)用風(fēng)路切換方式將溫度導(dǎo)入測(cè)試區(qū)，做冷熱沖擊測(cè)試。
8、高溫沖擊或低溫沖擊時(shí)，zui大時(shí)間可達(dá)999H，zui大循環(huán)周期可達(dá)9999次。
9、系統(tǒng)可作自動(dòng)循環(huán)衙擎或手動(dòng)選擇性沖擊并可設(shè)定二區(qū)或三區(qū)沖擊及冷沖熱沖啟始。
10、冷卻采二元冷凍系統(tǒng)，降溫效果快速，冷卻方式為水冷式。
11、試料槽*靜止，可由測(cè)試孔外加負(fù)載配線。
12、蓄熱方式可避免使用職業(yè)傷害。
13、可選擇始動(dòng)位置，高溫或低溫開始循環(huán)。
14、具有預(yù)約起動(dòng)功能。
15、可設(shè)定循環(huán)次數(shù)及自動(dòng)除霜。
16、可設(shè)定循環(huán)次數(shù)及除霜次數(shù)自動(dòng)（手動(dòng)）除霜。運(yùn)轉(zhuǎn)中狀態(tài)顯示及曲線，異常及故障點(diǎn)顯示說(shuō)明及排除方法。
17、有異常或故障顯示及排除方法說(shuō)明。
18、歐美原裝高效率復(fù)疊壓縮冷凍機(jī)組，運(yùn)轉(zhuǎn)噪音低，省能源之設(shè)備。
19、多重保護(hù)裝置，有效的保障系統(tǒng)的安全可靠運(yùn)行。

二、高低溫沖擊試驗(yàn)箱用途：

冷熱沖擊試驗(yàn)箱適用的對(duì)象包括電子、電器、電工、電源、電子元器件、五金、建材、化工、涂料、塑膠、塑料、橡膠、光電、光伏組件、光纖、LED、LCD、PCB、FPC、IC、手機(jī)、電腦、電機(jī)、陶瓷、軍工、航空、等材料，可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。主要用于測(cè)試零部件、材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)*溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，藉以在zui短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。該產(chǎn)品即適用于質(zhì)量控制的實(shí)驗(yàn)室，確定電工電子產(chǎn)品在貯存、運(yùn)輸和使用期間可能遇到的溫度迅速變化的條件下的適應(yīng)性，又可滿足生產(chǎn)過(guò)程中篩選商用和軍用產(chǎn)品。

三、高低溫沖擊試驗(yàn)箱滿足的試驗(yàn)方法：
GB/T2423.1-1989低溫試驗(yàn)方法；
GB/T2423.2-1989高溫試驗(yàn)方法；
GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn)；
GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn)；
GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn)；
GJB367.2-87 405溫度沖擊試驗(yàn)。
SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——一箱式
SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——二箱式
IEC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化
GB/T 2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則
GB/T 2423.22-2002溫度變化
QC/T17-92汽車零部件耐候性試驗(yàn)一般規(guī)則
EIA 364-32熱沖擊（溫度循環(huán)）測(cè)試程序的電連接器和插座的環(huán)境影響評(píng)估