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化工儀器網>產品展廳>光學儀器及設備>電子顯微鏡>掃描探針顯微鏡SPM(原子力顯微鏡AFM)>nanoIR2 納米紅外光譜二代 nanoIR2

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nanoIR2 納米紅外光譜二代 nanoIR2

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        瑪瑞科(上海)貿易有限公司是一家專業代理*進材料表征儀器的新興公司,是美國Anasys儀器公司中國區*代理商。我司將集世界*水準的高技術、高品質服務和良好信譽的材料科研儀器引進到了中國,并已經擁有*的用戶群體,為中國*材料技術領域的科學研究提供了高效的研究手段和優質的技術服務。  

原子顯微鏡,掃描探針顯微鏡/SPM 納米紅外

多功能光熱誘導納米紅外光譜二代(nanoIR2)

                  —100nm以下納米級紅外光譜分析  

美國Anasys公司的納米紅外光譜系列包含有一個原子力顯微鏡用于探測形貌及成像,除此之外,采用一個可調脈沖激光源照射樣品,利用AFM針尖在納米尺度下探測輻射吸收,獲得納米尺度紅外光譜(空間分辨率<100nm) 。特定波長下的掃描成像圖為用戶提供超高分辨率的組分分布。


納米紅外光譜二代工作原理


納米紅外光譜系列二代產品(nanoIR2)采用側面入射光模式,大大簡化制樣過程,操作更加便捷,大大擴展了納米紅外光譜的使用范圍。為了滿足超薄薄膜的測試需求,*技術-共振增強模式*提高了納米紅外光譜的垂直靈敏度,使厚度20nm以下薄膜的光譜分析成為可能(見圖1)

納米紅外光譜廣泛的應用在大量軟質物質的研究中,如聚合物共混物、薄至單層的薄膜、界面和表面、電紡纖維、細胞、細菌、淀粉質物質等。

nanoIR2的主要特點:

□ 簡化制樣過程,操作便捷

□ 納米級空間分辨率(<100nm)的光譜分析

□ 高清晰紅外吸收成像

□ 快速光譜測試,每條譜線采集時間~1min

□ 準確可解析的紅外光譜,可以使用商業的IR數據庫進行化學鑒定

□ 超高垂直靈敏度,可以進行超薄薄膜和單層膜的光譜測試

□ 多功能、互補的測試,可以獲得納米尺寸度下表面形貌、機械性能、熱性和化學信息之間的相關性


技術參數:

納米紅外光譜二代(nanoIR2)

共振增強納米紅外光譜二代(nanoIR2

激光可調范圍

900~2000cm-12250~3600cm-1

1200~1800cm-1

紅外光源線寬

平均4cm-1 

1cm-1 FWHM

zui小樣品厚度

>50nm

<20nm

納米機械性能成像

可以,通過接觸共振模式

不可以

IR吸收成像

可以,

不可以

單層膜測量

不可以

可以

入射光模式

紅外光從樣品上方入射(nanoIR2)

測量技術

光熱誘導共振技術(PTIR

檢測量

紅外光吸收

XY方向掃描范圍

80x80um

Z方向掃描范圍

>7um

空間分辨率

20~100nm

點光譜測量時間

1分鐘

標準成像模式

接觸模式輕敲模式力曲線模式力調制模式

可選成像模式

納米熱分析(nanoTA);洛倫茲接觸共振(LCR);掃描熱顯微鏡(SThM)

導電原子力模式(CAFM);其他模式可增加


應用案例:



半導體器件的化學分析

     半導體器件各層的nanoIR2測量。測試結果揭示了化學組分的多樣性,傳統的紅外光譜無法進行這種測量。

 

聚合物混合物的界面分析

     碳纖維-環氧樹脂復合材料的nanoIR2測量揭示了纖維/環氧樹脂界面化學組分的多樣性。


金屬表面的有機污漬

   共振增強模式測試磁盤上的納米級有機污染物的紅外光譜。污染物顆粒的尺寸約為100nm×100nm×28nm


顯微切片的碳粉顆粒

     調色劑顆粒是一種復雜的多組分混合物,nanoIR2可以在納米級分辨率下對這些組分進行鑒定。


礦物中的碳氫化合物

   AFM形貌圖(左圖)和紅外吸收圖(右圖),通過探測CH鍵的吸收確定碳氫化合物的分布。


聚合物超薄薄膜

 

    共振增強模式能夠對非常薄的薄膜進行高質量的測量。上圖為20nmPMMA薄膜的nanoIR2測量結果。



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