KP020單點開爾文探針（非掃描）

開爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動電容裝置用于導電材料的功函或半導體或絕緣體材料表面的表面電勢，表面功函由材料表面zui頂部的1-3層原子或分子決定，因而開爾文探針是一種非常靈敏的表面分析技術，KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV業界zui高分辨率的測試系統。

特點
● zui高的功函/表面電勢分辨率：1-3meV（2mm探針）
● 與壓電系統相比采用音圈驅動具有很高的驅動噪聲抑制
● 過零信號檢測系統極大的提高了分辨率，信噪比性能
● 測試和掃描時探針尖與樣品的高度調節功能可得到穩定的、可靠的和重復的結果
● 探針參數全部采用數字控制

系統參數
● 2mm and 50μm探針
● 功函分辨率1-3meV（2mm探針），5-10meV（50μm探針，光學防震臺）
● 手動高度控制（25.4mm KP 平移）
● 跟蹤系統自動控制樣品和探針距離
● 過零信號檢測系統抑制寄生電容
軟件性能
● 數字控制所有開爾文探針參數
● 簡單的信號優化設置過程
● 快速測量模式用于跟蹤實時功函變化(1000points/min at ~20meV分辨率)
選件
● 樣品加熱器 Sample Heater
● 可升級至掃描系統
● 可升級至RHC系統
● 表面光電壓模塊SPV020 and SPS030
● 鍍金探針