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AL120晶圓搬送機半導(dǎo)體顯微鏡

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

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西努光學(xué)創(chuàng)建于2003 年,主營工業(yè)顯微鏡及制樣設(shè)備、鏡片測定設(shè)備,高速攝像系統(tǒng)、工業(yè)內(nèi)窺鏡、機器視覺等工業(yè)及科研應(yīng)用的檢測設(shè)備及系統(tǒng)集成。
西努光學(xué)秉承“以光學(xué)為核心,為客戶提供解決方案”的經(jīng)驗思路,經(jīng)過16年的努力,成為眾多企業(yè)、高校科研單位提供各種專業(yè)化的光學(xué)系統(tǒng)解決方案。并于2012 年導(dǎo)入SAP 管理系統(tǒng),通過系統(tǒng)資源整合,為客戶提供更優(yōu)質(zhì)、快捷的專業(yè)化服務(wù)。
2016 年,我們積極引進(jìn)檢測設(shè)備的同時導(dǎo)入制樣等配套設(shè)備以豐富我們實驗室平臺,以更好的為客戶提供現(xiàn)場體驗,從微米到納米滿足客戶從制樣到結(jié)果分析的一站式體驗服務(wù)。



奧林巴斯顯微鏡,奧林巴斯工業(yè)內(nèi)窺鏡,iX高速攝像機,標(biāo)樂金相制樣設(shè)備,威爾遜硬度計,navitar鏡頭,日立掃描電鏡,加拿大WDI光學(xué)設(shè)備

AL120晶圓搬送機半導(dǎo)體顯微鏡詳細(xì)介紹

適應(yīng)范圍廣、搭配靈活 對應(yīng)多種尺寸組合

我們推出了200 mm型、200 mm/150 mm兼用型和150 mm型(對應(yīng)小于150 mm的晶圓)的3種型號。除此以外,您還可以根據(jù)檢查模式,選用微觀檢查型號"L型"或微觀•宏觀檢查兼用型號"LMB型"。

晶圓尺寸•厚度對應(yīng)表 薄片檢查

對應(yīng)薄片制造廠家的需求,AL120-LMB-90搭載的新型搬送手臂的設(shè)計可以搬運整盒25枚90 μm的極薄晶圓。
高度實用性
進(jìn)一步優(yōu)化的宏觀檢查


背面宏觀360゜旋轉(zhuǎn)
•宏觀檢查手臂可以360゜旋轉(zhuǎn),更為容易發(fā)現(xiàn)傷痕和微塵。
• 利用360゜旋轉(zhuǎn)功能,*可以目視檢查整個晶圓(包括邊緣)。此外,在表面宏觀檢查中,使用操縱桿可隨意將晶圓zui大傾斜30゜進(jìn)行觀察。

操作便捷

• 為了滿足各種常規(guī)檢查的要求,AL120可以登記多達(dá)10個檢查程序。使用這一功能可以記錄特定的卡盒、晶圓和傳輸速度。快速菜單選擇按鈕則可以讓操作員立刻切換不同程序。
AL120晶圓搬送機半導(dǎo)體顯微鏡的菜單設(shè)置和設(shè)置參數(shù)都會在新型的LCD顯示器上顯示。 使用RECALL按鈕可以顯示檢查時登記的有缺陷的對應(yīng)SLOT,便于操作者再次確認(rèn)。
•AL120使用非接觸光學(xué)定位、查找和對齊缺口/平面,可以減少晶圓和設(shè)備之間的接觸,提高晶圓的清潔度。
高度可靠性 優(yōu)先考慮晶圓和操作者的安全

•為了能夠安全的安裝晶圓,采用了在裝置正面放置片盒的設(shè)計。
•在安全性和人機工學(xué)上通過了SEMI S2/S8檢測,同時,在環(huán)境保護(hù)方面遵守了RoHS指令。
堅固、耐用的顯微鏡底座

AL120搭載奧林巴斯MX專業(yè)晶圓檢查顯微鏡系列,通過各種觀測方法,包括:明視場、暗視場、微分干涉(DIC)、近IR(近紅外線)和DUV(深紫外線),實現(xiàn)了的圖像分辨率和清晰度。電動物鏡轉(zhuǎn)換器和孔徑光闌相互鎖定,可以優(yōu)化各物鏡的照明和對比度。如果特別訂制,AL120還可以應(yīng)用到其他型號的顯微鏡上。
人機工程學(xué)設(shè)計的載物臺

•手動快速釋放真空載物臺可以提高操作員的舒適度和工作效率,標(biāo)準(zhǔn)功能為XY軸控制和晶圓旋轉(zhuǎn)功能。
•可通過操縱桿或預(yù)編程的程序控制電動載物臺,進(jìn)一步將檢查過程自動化。只需一鍵便可驅(qū)動載物臺返回或離開load/unload位置及原點位置。

 規(guī)格
 200 mm型200 mm/150 mm 兼用型150 mm型
AL120- 
LMB8- 
90
AL120- 
LMB86- 
180
AL120- 
L86- 
180
AL120- 
LMB86
AL120- 
L86
AL120- 
LMB6- 
150
AL120- 
L6- 
150
晶圓尺寸(SEMI規(guī)格)200mm200mm / 150mm150mm / 
125mm / 
100mm
晶圓zui小厚度90µm180µm400µm150µm
片盒類型*SEMI規(guī)格:25(26)個slot
片盒數(shù)1
檢查模式全部檢查/抽樣檢查
搬運順序微觀檢查(顯微鏡檢查)
表面宏觀檢查   
背面宏觀檢查   
二次背面宏觀檢查   
晶圓定位(每 90º)非接觸(定位平邊/V型槽)非接觸(定位平邊)
適配顯微鏡型號奧林巴斯半導(dǎo)體檢查顯微鏡 MX61
尺寸(mm)主機部分:640 (W) × 620 (D) × 378 (H),配備顯微鏡時:1100 (W) × 620 (D) × 378 (H)主機部分:570 (W) × 620 (D) × 400 (H),配備顯微鏡時:980 (W) × 620 (D) × 400 (H)
重量(kg)(僅主機部分)44444144414037
使用環(huán)境(電源/真空)AC100 V~120 V、1 A或AC220 V~240 V、0.5 A 50/60 Hz、-67~-80 kPa、20 Liter/min以上


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