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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>實驗室常用設(shè)備>其它實驗室常用設(shè)備>其它實驗室設(shè)備> TFMS-LD反射光譜薄膜測厚儀

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TFMS-LD反射光譜薄膜測厚儀

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

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　　沈陽科晶立足國內(nèi)市場實際情況，以提供Z為實用的產(chǎn)品為己任。產(chǎn)品的質(zhì)量、精度在向國外企業(yè)看齊的基礎(chǔ)上，產(chǎn)品的價格定位卻僅僅是其幾分之一。性價比不僅吸引了眾多國內(nèi)客戶，而且令挑剔的外國客商也稱贊不已，產(chǎn)品遠銷于印度、馬來西亞、土耳其、波蘭、突尼斯、澳大利亞等國家，并大量出口于美國。

　　沈陽科晶為了更好地服務(wù)客戶，專門設(shè)立了開放式專業(yè)實驗室，配備了優(yōu)秀的專業(yè)技術(shù)人員。在這里，不僅可以提供親身的產(chǎn)品體驗環(huán)境，而且還可得到專業(yè)人員的操作指導(dǎo)。開設(shè)以來，制作的樣品達上千件，接待來訪客參觀戶百余次，其中包括多次外國友人的來訪。在此，沈陽科晶全體員工誠摯地歡迎您的到來，并希望您能提出寶貴的意見與建議。

　　沈陽科晶一路走過的歷程，是為我國材料研究事業(yè)全力貢獻的歷程，是以實際行動將自己打造成國內(nèi)材料分析設(shè)備品牌的歷程，是與國外同行不斷縮小差距的歷程，是與廣大客戶相扶相持的成長歷程。雖一路充滿坎坷與荊棘，但堅持不懈的沈陽科晶人仍全力以赴的前行。秉承這份堅持，相信在不久的將來，沈陽科晶也將會成為市場上專業(yè)的、杰出的材料分析設(shè)備品牌，沈陽科晶的明天會更加燦爛輝煌。

 

★我們擁有同類型中優(yōu)質(zhì)性價比的產(chǎn)品！　　　　　　　　　　　　　　　　　

　　    您正在為材料與設(shè)備無從下手而焦急嗎？

★歡迎來到沈陽科晶，我們是國內(nèi)實驗室樣品制備設(shè)備領(lǐng)域的專家！

 

 

 

 

 

 

 

 

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產(chǎn)地類別 國產(chǎn)

      TFMS-LD反射光譜薄膜測厚儀是一款利用反射光譜測試薄膜厚度的儀器，可快速精確地測量透明或半透明薄膜的厚度而不損傷樣品表面的薄膜，是一款無損測厚儀，其測量膜厚范圍為15nm-50um，測量膜厚范圍廣，尤其適用于超薄薄膜厚度的測量。儀器所發(fā)出測試光的波長范圍為400nm-1100nm，波長范圍廣，因此，測試薄膜厚度的范圍廣。TFMS-LD反射光譜薄膜測厚儀測試系統(tǒng)的理論基礎(chǔ)為鏡面光纖反射探頭，該儀器尺寸小巧可節(jié)省實驗室空間，操作方便，讀數(shù)直觀，方便于在實驗室中擺放和使用。

產(chǎn)品型號

  TFMS-LD反射光譜薄膜測厚儀

測量膜厚范圍

15nm-50um

光譜波長

400 nm - 1100 nm

主要測量透明或半透明薄膜厚度

  • 氧化物

  • 氮化物

  • 光刻膠

  • 半導(dǎo)體（硅，單晶硅，多晶硅等）

  • 半導(dǎo)體化合物（ALGaAs,InGaAs,CdTe,CIGS等）

  • 硬涂層（碳化硅，類金剛石炭）

  • 聚合物涂層(聚對二甲苯，聚甲基丙烯酸甲酯，聚酰胺)

  • 金屬膜

        

特點

  • 測量和數(shù)據(jù)分析同時進行，可測量單層膜，多層膜，無基底和非均勻膜

  • 包含了500多種材料的光學(xué)常數(shù)，新材料參數(shù)也可很容易地添加，支持多重算法:

    Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等

  • 體積較小，方便擺放和操作

  • 可測量薄膜厚度，材料光學(xué)常數(shù)和表面粗糙度

  • 使用電腦操作，界面中點擊，即可進行測量和分析

精度

0.01nm或0.01%

準(zhǔn)確度

0.2%或1nm

穩(wěn)定性

0.02nm或0.02%

光斑尺寸

標(biāo)準(zhǔn)3mm,可以小至3um

要求樣品大小

大于1mm

分光儀/檢測器

400 - 1100 nm 波長范圍

光譜分辨率: < 1 nm

電源 100-250 VAC, 50/60 Hz 20W

 

光源

5W的鎢鹵素?zé)?/span>

色溫：2800K

使用壽命:1000小時

反射探針

光學(xué)纖維探針，400um纖維芯

配有分光儀和光源支架

載樣臺

測量時用于放置測量的樣品

 

通訊接口

USB接口，方便與電腦對接

 

TFCompanion軟件

強大的數(shù)據(jù)庫包含兩500多種材料的光學(xué)常數(shù)（n：折射率，K：消失系數(shù)）

 

誤差分析和模擬系統(tǒng)，保證在不同環(huán)境下對樣品測量的準(zhǔn)確性

可分析簡單和復(fù)雜的膜系

設(shè)備尺寸

200x250x100mm

重量

4.5kg

 

 



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