DualScope FMP20雙功能測厚儀標準配置

德國菲希爾Fischer 公司

    50多年來，德國 Helmut Fischer GmbH Institutefor Electronics and Metrology 公司致力于提供滿足zui高質量標準解決方案的檢測儀器。所有儀器繼續在德國Sindelfingen總部工廠研發和生產。我們已取得DIN ISO 9001：2000認證，我們的校準實驗室也取
得DKD認證。

您可信賴的知識、能力和經驗

Fischer 的產品線涵蓋了測量和分析儀器，廣泛應用于各個工業領域。使用合適的測量方法，可以獲得準確的測量結果以及*的重復精度。無論是磁感應或是電渦流方法，β背散射法，庫侖電解法，微硬度法或X射線熒光法, Fischer 都擁有相適應的成熟技術.

鍍層厚度

無論是噴涂還是電鍍，無論被測材料有無鐵磁性——在我們眾多產品中，您總能找到可測量鍍層厚度的儀器.

• 電磁測量法: 袖珍式儀器, 手持式儀器, 臺式儀器, 各種探頭
• X 射線熒光法
• 庫侖法
• β 背散射法
• 微電阻法
• 根據磁感應法和/或電渦流法對涂層停止非破壞性測量.
• 自動識別探頭
• 自動識別基材（FMP 20）
• 用于將數據傳輸到計算機的USB接口
• 顯示常見的統計參數，如平均值、標準偏差、zui小值、zui大值、更改規模
• 可便利地依照樣品外形停止調劑
• 供給的電腦軟件 FISCHER DataCenter 具備如下功效： 傳輸和保留測量值，全面的統計和圖形化評價，輕便天生并打印檢測申報

FISCHER提供各種各樣的大約100根探針，被設計滿足一個寬廣的應用范圍的要求。 這些單位被設計非常健壯和高度有抵抗性佩帶和提供準確測量在延長期，不用表現任何損失(既使當使用repeatably在硬面)。 每根探針根據zui高標準充分地被制造內部，小心地校準在工廠(在幾個參考點)為了提供zui大真實。 另外，所有渦流探查特點FISCHER的給予的傳導性報償，那使能基體材料的各種各樣的傳導性的調整(象各種各樣的鋁合金)，消滅長的本地定標。 這些探針是用途廣泛在所有電磁式測量系統。

DUALSCOPE FMP20

Based on the automatic substrate material recognition and the combination of the two measurement methods 
(magnetic-inductive and eddy-current according to ISO 2178, ASTM D7091 and ISO 2360), this universal instrument can be used to measure numerous coatings both on iron/steel and on non-ferromagnetic metals and non-conducting carrier materials.