系統概述

近年來由于電子產業的蓬勃發展，電子組件的發展趨勢朝向高功能、高復雜性、大量生產及低成本的方向。組件的發熱密度提升，伴隨產生的發熱問題也越來越嚴重，而產生的直接結果就是產品可靠度降低，因而熱管理（thermalmanagement）相關技術的發展也越來越重要。電子組件熱管理技術中zui常用也是重要的考量標準之一就是熱阻（thermal   resistance）

 西安易恩電氣ENR0620 熱阻測試系統，本系統測試原理符合 JEDEC51-1 定義的動態及靜態測試方法）運用實時采樣靜態測試方法（Static Method），廣泛用于測試各類 IC（包括二極管、三極管、MOSFET、IGBT、SOC、SIP、MEMS 等）、大功率 LED、導熱材料、散熱器、熱管等的熱阻、熱容及導熱系數、接觸熱阻等熱特性。

測試功能

測試器件

測試功能

IGBT

瞬態阻抗(Thermal Impedance)

從開始加熱到結溫達到穩定這一過程中的瞬態阻抗數據。

MOSFET

二極管

穩態熱阻(Thermal Resistance)

包括：Rja,Rjb,Rjc,Rjl, 當器件在給一定的工作電流后。熱量不斷向外擴散，zui后達到了熱平衡，得到的結果是穩態熱阻值。在沒有達到熱平衡之前測試到的是熱阻抗。

三極管

可控硅

線形調壓器

裝片質量的分析

主要測試器件的粘接處的熱阻抗值，如果有粘接層有氣孔，那么傳熱就要受阻，這樣將導致芯片的溫度上升，因此這個功能夠衡量粘接工藝的穩定性。

LED

MESFET

IC

可以得到用不同占空比方波測試時的阻抗與熱阻值。

內部封裝結構與其散熱能力的相關性分析

多晶片器件的測試

SOA Test

浪涌測試

配置 / 系統單元

配置

組成單元

項目

配置

主機

平臺軟件

功率

2A/10V

采樣單元

測量控制軟件

測試延遲時間

（啟動時間）

1us

數控單元

結果分析軟件

采樣率

1us

功率驅動單元

建模軟件

測試通道數

2（zui大 8 個）

測試通道1-8個

功率放大器

提高驅動能力10~100 倍

擴展選件

電性規格

系統特征

加熱

電流

測量

精度

低電流

測量

02A 系統: ±1mA

10A 系統: ±5mA

20A 系統: (±10mA)

●測試啟動時間僅為 1 s，幾分鐘之內就 可以得到器件的全面熱特性；

●*的靜態實時測量方法，采樣間隔zui快可達 1 s， 采樣點高達 65000 個，有效地保證了數據的準確性和完備性；

高電流

測量

02A 系統: ±4mA

10A 系統: ±20mA

20A 系統: (±40mA)

●市場上zui高的靈敏度 FoM=10000 W/℃，很高的靈 敏度 SNR>4000，

結溫測試精度高達 0.01℃；

加熱電壓測量精度

±0.25% ，

0~50V 熱電偶

測量精度( T 型)

典型 ±0.1°C ,

zui大±0.3°C

●強大的測試軟件和數據分析軟件保證了后期擴展功能的提升。

交流電壓

220VAC，5A，50/60Hz

電壓

（標配）50V

電流

（標配）20A

（選配）200A,400A,800A,1000A

節溫感應電流

1mA, 5mA, 10mA, 20mA, 50mA(標配)