Crossbeam340/5 德國蔡司聚焦離子束掃描電子顯微鏡
參考價 | ¥ 17 |
訂貨量 | ≥1 臺 |
- 公司名稱 深圳市廣潤自動化/藝橋科技(香港)有限公司
- 品牌 ZEISS/蔡司
- 型號 Crossbeam340/5
- 產地 德國
- 廠商性質 代理商
- 更新時間 2019/12/30 14:52:34
- 訪問次數 1975
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微間距LED 銀漿高速檢測機、LED金線結構3D檢測、微米級3D測量儀、LED燈絲檢查包裝機,三坐標測量機,熱分析儀、差示掃描量熱儀、熱重力分析儀、熱機械分析儀、動態熱機械分析儀等,精研一體機、3D視頻顯微鏡、正置材料顯微鏡、三離子束切割儀等,
應用領域 | 電子 |
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德國蔡司聚焦離子束掃描電子顯微鏡
提高您的FIB樣品的測試加工效率
通過FIB智能的刻蝕策略,其材料移除速率可提升高達40%。
在鎵離子類型的FIB-SEM中采用了大離子束束流。使用高達100nA的離子束束流可顯著節約時間,同時具有良好的FIB束斑形狀,從而獲得高分辨率。得益于智能的FIB掃描策略,移除材料時高效且精準。可自動批量制取樣品,例如截面,TEM樣品薄片或任何使用者自定義的圖形。
在FIB-SEM分析中體驗優異的三維空間分辨率
體驗整合的三維能譜分析所帶來的優勢
可使用蔡司Atlas
5軟件擴展您的Crossbeam,它是一個針對快速而準確的三維斷層成像的軟硬件包。使用Atlas 5中集成的三維分析模塊可在三維斷層成像的過程中進行能譜分析蔡司Crossbeam將Gemini電子束鏡筒和定制的聚焦離子束鏡筒結合起來,從而獲得高精度與速度。因此FIB-SEM的斷層成像可獲得優異的三維空間分辨率和各向同性的三維體素尺寸。使用Inlens EsB探測器,探測深度小于3nm,可獲得表面敏感的、材料成分襯度圖像。
德國蔡司聚焦離子束掃描電子顯微鏡