CCD光電性能測試系統又稱CCD成像電子學系統光電聯試定量測試設備。本系統能夠解決空間光學遙感器研制中光電成像器件選型、采取抗輻射加固設計及輻射校正設 計及為光電成像器件受輻照后性能變化的機理研究提供檢測手段等諸多科學問題；同時能夠在業界對光電成像器件抗輻射性能評價的標準化和規范化起到積極推進作用。

CCD光電性能測試系統技術參數：

工作波段：380nm～1000nm(其他波長范圍可選)

動態范圍：≥80dB

光譜分辨率：≤0.5nm

峰值波長(測量精度)：優于±1nm

中心波長(測量精度)：優于±1.2nm

光譜帶寬(測量精度)：優于±2nm

相對光譜響應度(測量精度)：優于2%

有效測量區域：≤Φ120mm

暗噪聲：優于±0.5mv

信噪比(測量精度)：優于±5dB

飽和輸出電壓(測量精度)：優于±20mV

響應非均勻性(測量精度)：優于1%

響應非線性(測量重復性)：優于2%

噪聲等效曝光量(測量精度)：優于2%

光輻射響應度(測量精度)：優于2%

測試項目：

飽和輸出電壓(SV：Saturation Voltage)

暗噪聲或固態圖像噪聲(VNOISE  or VFPN)

暗信號(DS：Dark Signal)

信噪比(SNR：Signal Noise Ratio)

響應度非均勻性(PRNU：Photo Response Non Uniformity)

光輻射響應度(R)

相對光譜響應度(RS)

電荷轉移效率(CTE)

噪聲等效曝光量(NEE)

飽和曝光量(SE)

動態范圍(DR)

非線性度(NL)