PZ-1510F 芯片检测影像测量仪
参考价 | ¥ 21000 |
订货量 | ≥1 台 |
- 公司名称 北京品智创思精密仪器有限公司
- 品牌 TSI/美国
- 型号 PZ-1510F
- 产地 北京
- 厂商性质 生产厂家
- 更新时间 2024/9/22 12:54:53
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产地类别 | 国产 | 价格区间 | 2万-5万 |
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应用领域 | 电子,交通,航天,汽车,电气 |
芯片生产企业,产品有200多个品种,并在不断的增加,每种芯片产量少则几千件,多则上万件。所有的芯片需要全检,并根据不同的尺寸公差,将产品分成优、良、差三个等级。客户以往的工作方式是采用芯片检测影像测量仪,一个一个进行人工操作测量分级,这对客户来说无疑是大的工作量。面对与日俱增的工作量,对检测及分拣自动化提出了要求。
测量是我公司自动影像加探针和激光位移器测量应用软件,可以对二维测量的坐标进行可视化分析处理和检测,也可以使用探针进行三维几何元素测量,也可以用激光位移器测量平面度和高度。应用于各种精密制造业,如手机组件,模具,电子,通信,机械,五金,塑料,仪表,钟表,PCB,LCD等行业。可测量的材料包括金属,塑料,橡胶,玻璃,PCB,陶瓷等;
芯片检测影像测量仪技术参数:
工 作 台 | 仪器型号 | EVM-1510G | EVM-2010G | EVM-2515G | EVM-3020G | EVM-4030G |
金属台尺寸(mm) | 354×228 | 404×228 | 450×280 | 500×330 | 606×466 | |
玻璃台尺寸(mm) | 210×160 | 260×160 | 306×196 | 350×280 | 450×350 | |
运动行程(mm) | 150×100 | 200×100 | 250×150 | 300×200 | 400×300 | |
仪器重量(kg) | 100 | 110 | 120 | 140 | 240 | |
外型尺寸L*W*H | 756×540×860 | 670×660×950 | 720×950×1020 |