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化工儀器網>產品展廳>物理特性分析儀器>表面/界面性能測定儀>開爾文探針系統> 英國KP開爾文探針掃描-半導體表征

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英國KP開爾文探針掃描-半導體表征

具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱 科睿設備有限公司
  • 品牌 DIATEST/德國
  • 型號
  • 產地 英國
  • 廠商性質 代理商
  • 更新時間 2024/12/10 9:53:28
  • 訪問次數 3447

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科睿設備有限公司(Cross-Tech Equipment Co.,Ltd )為多家國外高科技儀器廠家在中國地區的代理。科睿公司一貫秉承『誠信』、『品質』、『服務』、『創新』的企業文化,為廣大中國用戶提供儀器、設備,周到的技術、服務和*的整體解決方案。在科技日新月異、國力飛速發展的中國,納米科學研究、薄膜材料(包括半導體)生長和表征、表面材料物性分析、生物藥物開發、有機高分子合成等等領域,都需要與歐美發達國家*接軌的儀器設備平臺來實現。科睿設備有限公司有幸成長在這個火熱的年代,我們愿意化為一座橋梁,見證中國科技水平的提升,與中國科技共同飛速成長。
      科睿設備有限公司(Cross-Tech Equipment Co.,Ltd)總部設在中國香港,在中國上海設立了分公司,在國內多個城市設立了辦事處或維修站,旨在為客戶提供*的產品和服務。2010年,科睿設備有限公司在上海設立備品倉庫及維修中心,同時提供在大陸的各項技術服務和后期的維修保障服務,我們擁有專業的應用維修人員,并且都曾到國外廠家進行了專門的培訓。上海配備了多種維修部件,能使我們的服務更加快捷和方便。我們承諾24小時電話響應,72小時內趕到現場維修。以利于更好、更快的為中國大陸服務!
      因為信任,所以理解.我們理解用戶的困難和需求。我們已經為國內眾多科研院所和大學根據用戶的要求配制和提供了上百套系統,主要用戶包括:中科院物理所,中科院半導體所,中科院大連化學物理研究所,國家納米中心,上海納米中心,北京大學,清華大學,中國科技大學,南京大學,復旦大學,上海交通大學,華東理工大學,浙江大學,中山大學,西安交通大學,四川大學,中國工程物理研究院,香港大學,香港城市大學,香港中文大學,香港科技大學等。



光刻機,鍍膜機,磁控濺射鍍膜儀,電子束蒸發鍍膜儀,開爾文探針系統(功函數測量),氣溶膠設備,氣溶膠粒徑譜儀,等離子增強氣相沉積系統(PECVD),原子層沉積系統(ALD),快速退火爐,氣溶膠發生器,稀釋器,濾料測試系統

產地類別 進口 應用領域 能源,電子

英國KP開爾文探針掃描-半導體表征

開爾文探針掃描系統包括:

□   單點開爾文探針(大氣環境及氣氛控制環境);

□   掃描開爾文探針(大氣環境及氣氛控制環境);

□   超真空(UHV)開爾文探針;

□   濕度控制的腐蝕開爾文探針;


英國KP開爾文探針掃描-半導體表征

系統配置

這是一款可以被大多數客戶所接收的掃描開爾文探針系統,它是在ASKP基礎之上包括了彩色相機/TFT顯示器、2毫米和50微米探針、外部數字示波鏡等配置,其規格如下:

□    2毫米,50微米探針;

□    功函數分辨率 1-3 meV(2毫米針尖),5-10 meV(50微米針尖);

□    針尖到樣品表面高度可以達到400納米以內;

□    表面勢和樣品形貌3維地圖;

□    探針掃描或樣品掃描選配;

□    彩色相機、調焦鏡頭、TFT顯示器和專業的光學固定裝置;

□    參考樣品(帶相應的掃描開爾文探針系統的形貌);

□    備用的針尖放大器;

□    24個月超長質保期;


儀器的特色

□    商用的*意義上的開爾文探針系統;

□    高分辨率的功函數和表面勢,的穩定性和數據重現性;

□    非零技術(Off-null,ON) ——ON信號探測系統在高信號水平下工作,與基于零信號原理(null-based,LIA)的系統相比,不會收到噪聲的影響擁有高靈敏度;

□    高度調節技術 ——我們的儀器在測量和掃描時可以控制針尖的高度。因為功函數受樣品形貌的影響,針尖與樣品表面距離的調節意味著數據的高重現性且不會漂移;

□    該領域內,擁有的信噪比;

□    快速響應時間 ——測量速度在0.1-10秒間,遠快于其他公司產品;

□    功能強的驅動器 ——選用Voice-coil(VC)驅動器,與通常的壓電驅動器相比,VC驅動器頻率要穩定得多、控制的針尖振幅大得多、支持平行多探針操作、支持不同直徑探針操作;

□    所有開爾文探針參數的全數字控制;

ON

非零探測  Off Null detection
HR高度調節模式  Height Regulation mode
SM實際開爾文探針信號監控  Monitoring of the actual Kelvin probe signal
UC用戶通道,同時測量外部參數  User Channels, simultaneous measurement of external parameters
DC電流探測系統去除漂移效應  Current Detection system rejects stray capacity effects
PP平行板震動模式  Ideal, Parallel Plate Oscillation Mode
SA信號平均  Signal Averaging (often termed Box-Car Detection)
WA功函數平均  Work Function Averaging, Difference and Absolute reporting
DC所有探針及探測參數的數字控制  Digital Control of all Probe and Detection Parameters
QT針尖快速改變  Quick-change Tip, variable spatial resolution
DE數據輸出  Data Export to Excel, Origin, or 3rd party software
OC輸出通道  Output Channel: TTL switching of external circuit
FC法拉第籠(電磁干擾防護罩)  Faraday Cage (EMI Shield)
RS金-鋁參考樣品  Gold-Aluminium Reference Sample
額外選配項
SPV表面光伏電壓軟硬件包  Surface Photovoltage Software and Hardware Package
RH相對濕度腔  Relative Humidity Chamber
AC控制氣體進口的環境單元  Ambient Cell for controlled Gas Inlet
EDS外部數據示波鏡  External Digital Oscilloscope
OPT彩色相機  Color Camera, TFT Screen and Optical Mounts
ST針尖置換  Replacement Tips
GCT鍍金的針尖替換  Gold Coated Replacement Tips
XYZ25.4毫米手動3維控制臺  3-axis 25.4 mm Manual Stage


應用領域

吸附,電池系統,生物學和生物技術,催化作用,電荷分析,涂層,腐蝕,沉積,偶極層形成,顯示技術,教育,光/熱散發,費米級掃描,燃料電池,離子化,MEMs,金屬,微電子,納米技術,Oleds,相轉變,感光染色,光伏譜學,高分子半導體,焦熱電,半導體,傳感器,皮膚,太陽能電池,表面污染,表面化學,表面光伏,表面勢,表面物理,薄膜,真空研究,功函數工程學;





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