EX2 自動橢圓偏振測厚儀
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- 公司名稱 北京量拓科技有限公司-C
- 品牌
- 型號
- 產地
- 廠商性質 經銷商
- 更新時間 2019/5/17 11:47:27
- 訪問次數 397
產品標簽
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EX2自動橢圓偏振測厚儀是基于消光法（或稱“零橢偏”）橢偏測量原理，針對納米薄膜厚度測量領域推出的一款自動測量型教學儀器。
EX2 自動橢圓偏振測厚儀適用于納米薄膜的厚度測量，以及納米薄膜的厚度和折射率同時測量。
EX2 自動橢圓偏振測厚儀還可用于同時測量塊狀材料（如，金屬、半導體、介質）的折射率n和消光系數k。
特點
- 經典消光法橢偏測量原理
儀器采用消光法橢偏測量原理，易于操作者理解和掌握橢偏測量基本原理和過程。
- 方便安全的樣品水平放置方式
采用水平放置樣品的方式，方便樣品的取放。
- 緊湊的一體化結構
集成一體化設計，簡潔的儀器外形通過USB接口與計算機相連，方便使用。
- 高準確性的激光光源
采用激光作為探測光波，測量波長準確度高。
- 豐富實用的樣品測量功能
可測量納米薄膜的膜厚和折射率；塊狀材料的復折射率、樣品反射率、樣品透過率。
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