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化工儀器網>產品展廳>物理特性分析儀器>測厚儀>白光干涉測厚儀>Filmetrics - F30、F40 膜厚測量儀

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Filmetrics - F30、F40 膜厚測量儀

參考價 19
訂貨量 ≥1
具體成交價以合同協議為準

聯系我們時請說明是化工儀器網上看到的信息,謝謝!


岱美有限公司(下面簡稱岱美)成立于1989年,是一間擁有多年經驗的性高科技設備分銷商,主要為半導體、MEMs、光通訊、數據存儲、高校及研發中心提供各類測量設備、工序設備以及相應的技術支持,并與一些重要的客戶建立了*合作的關系。

自1989年創立至今,岱美的產品以及各類服務、解決方案廣泛地運用于中國大陸、香港、中國臺灣、新加坡、泰國、馬來西亞、菲律賓等地區。
主要產品包括有:EVG晶圓鍵合設備、EVG納米壓印設備、EVG紫外光刻機、EVG涂膠顯影機、EVG硅片清洗機、EVG超薄晶圓處理設備、壓力計、流量計、等離子電源、非接觸式光學三坐標測量儀、薄膜厚度檢測儀、電容式位移傳感器、振動樣品磁強計 (VSM)、粗糙度檢測儀、電鏡 (SEM)、透鏡 (TEM)、原子力顯微鏡 (AFM)、防振臺系統、三維原子探針材料分析儀 (Atom Probe)、激光干涉儀、平面/球面大口徑動態激光干涉儀、氦質譜檢漏儀、紫外線固化儀、碳納米管生長設備等。
岱美中國擁有八十多名訓練有素的工程師,能夠為各地區用戶作出快捷、可靠的技術支持和維修服務;為確保他們的專業知識得以更新及并適應新的要求,岱美定期委派工程師前往海外接受專項技術訓練,務求為顧客提供更高質素的售后服務及技術支持。
總部位于中國香港的岱美分別在新加坡、泰國、中國臺灣、馬來西亞、菲律賓及中國大陸(上海、東莞及北京)設立了分公司及辦事處,以帶給客戶更快捷更的銷售及維修服務。
我們真誠希望和業界的用戶互相合作,共同發展!!
     

膜厚測量儀、隔震臺、磁強計

產地類別 進口 價格區間 面議
應用領域 醫療衛生,化工,電子,航天,電氣

F30 P1.png

 

F30 P2.png

 

岱美有限公司與Filmetrics從03年開始的合作關系,單是國內16年間已賣出超過600臺不同型號儀器,在國內有多個服務處均有工程師,保證能為客戶提供及時的服務。

Dymek logo.png            Filmetrics Logo.png

經濟實惠的薄膜厚度測量系統的銷售*,讓復雜測量變得簡單

 

 

 

 

應用:

通過Filmetrics膜厚測量儀新反射式光譜測量技術,多達3-4層透明薄膜厚度、 n、k值及粗糙度能在數秒鐘測得。其應用廣泛,例如:

半導體制造

液晶顯示器

生物醫療元件

微機電系統

光學鍍膜

Photoresist

光刻膠

Oxides

氧化物

Nitrides

氮化物

SOI

絕緣體上硅

Cell Gaps液晶間隙

Polyimide

聚酰亞胺保護膜

ITO

納米銦錫金屬氧化物

Polymer/Parylene   Layers

 聚合物/聚對二甲苯涂層

Membrane/Balloon Wall   Thickness

生物膜/氣泡球厚度

Drug-Coated Stent

藥物涂層支架

Silicon Membranes

硅膜

AlN/ZnO Thin Film Filters

氮化鋁/氧化鋅薄膜濾鏡

Hardness Coatings

硬鍍膜

Anti-reflection Coatings

增透鍍膜

Filters濾光

 

 

膜層實例:

幾乎任何光滑、半透明、低吸收的膜都能測。包括:

SiO2(二氧化硅)           SiNx(氮化硅)                    DLC(類金剛石碳)

Photoresist(光刻膠)     Polyer Layers(高分子聚合物層)      Polymide(聚酰亞胺)

Polysilicon(多晶硅)      Amorphous Silicon(非晶硅)

 

 基底實例:

對于厚度測量,大多數情況下所要求的只是一塊光滑、反射的基底。對于光學常數測量,需要一塊平整的鏡面反射基底;如果基底是透明的,基底背面需要進行處理使之不能反射。

包括:

Silicon(硅)         Glass(玻璃)               Aluminum(鋁)

Gas(砷化鎵)        Steel(鋼)                 Polycarbonate(聚碳酸脂)

Polymer Films(高分子聚合物膜)

產品應用,在可測樣品基底上有了*的飛躍:

●幾乎所有材料表面上的鍍膜都可以測量,即使是藥片,木材或紙張等粗糙的非透明基底。

●玻璃或塑料的板材、管道和容器。

●光學鏡頭和眼科鏡片。

 

服務:

免費樣機演示及測量

輕輕一按即可實現測量!

請聯系我們,專業的應用工程師將為你演示它是如此的方便!

優勢:

*     提供在線診斷

*     配送獨立的軟件包

*     精通的歷史功能即程序數據可存儲、復制及策劃結果

*     免費軟件升級

 

 

               thickness measurement yuanli.png

 

極易操作、快速、準確、機身輕巧及價格便宜為其主要優點,Filmetrics提供以下型號以供選擇:

一、單點測量系統(從 1nm 到 13mm 單層及多層厚度測量)

F20.jpg  F3-sX.jpg   F10-HC.jpg

F20

*銷量好的薄膜測量系統,有各種不同附件和波長(由220nm紫外線區 至1700nm近紅外線區)覆蓋范圍,為任意攜帶型,可以實現反射率、膜厚、n、k值測量。

F3-sX

能測量半導體與介電層薄膜厚度到3毫米, 例如硅片

F10-ARc

可測量鏡片和其他曲面的反射率,用于涂層厚度測量

F10-HC

測量硬涂層和防霧層厚度和折射率,聚碳酸酯硬涂層在汽車等行業應用普通

F3-CS

提供微小視野及微小樣品測量,USB連接電腦即可使用,攜帶方便

F10-AR

測量眼科鏡頭和其他彎曲表面的反射率。還可以提供測量硬涂層厚度和透射率的可選件

F10-RT

可同時測量反射率和透射率,也可選配測量膜層厚度和折射率。普遍應用于真空涂層領域

F20實現反射率跟穿透率的同時測量,特殊光源設計特別適用于透明基底樣品的測量。

 

 

二、F40 系列- 基于微米(顯微)級別光斑尺寸厚度測量

F40 with SS-Microscope.jpg

F40

可以固定到您的顯微鏡上來測量小至 1um 光斑點的厚度和折射率

這型號安裝在任何顯微鏡外,可提供小到1um光點(100倍放大倍數)來測量微小樣品。

 

三、F50/F60系列- 表面的自動測繪

F60-t with computer.png

F50

為我們的F20系列產品增添自動測繪能力,以每秒鐘 2 個點的快速測繪厚度和折射率

這型號配備全自動XY工作臺,由8"x8"18"x18"或客戶提供所需尺寸均可。通過快速掃瞄功能,可取得整片樣品厚度分布情況(mapping)

F54

能以每秒測量兩個點的速度快速的測繪薄膜厚度,樣品直徑可達450毫米

F60-t

滿足生產環境的臺式測繪系統,包括自動基準確定、凹槽定位、全封閉測量平臺以及其它裝置

 

四、F30 系列- 在線厚度監控儀器

F30.jpg       F32.jpg

F30

檢測金屬有機化學氣相沉積(MOCVD)、陰極濺鍍和其他沉積工藝中監控反射率、厚度和沉積率

這型號可安裝在任何真空鍍膜機腔體外的窗口。可實時監控長晶速度、實時提供膜厚、nk值。并可切定某一波長或固定測量時間間距。更可加裝至三個探頭,同時測量三個樣品,具紫外線區或標準波長可供選擇。

F32

實時監控薄膜頂部和底部的反射率和沉積速率

 

 

Dymek logo.png

 

上海分公司

地址: 上海市浦東金高路 2216 弄 35 號6 幢 306-308 室

電話: (021) 3861 3675,3861 3676卜先生

 

北京分公司

地址: 北京市豐臺區豐臺科技園汽車博物館東路1號院諾德中心二期號樓1102室

電話: (010) 6261 5731,6261 5735賈先生

 

 

岱美有限公司成立于1989年,是數據存儲,半導體,光學,光伏和航空航天*制造商和創新研發機構的*設備分銷商。在21世紀初期,Dymek已從我們在香港的總部擴展到亞洲,以滿足客戶的多樣化需求。在當今化的市場中,我們的客戶有連接東南亞各國的綜合供應鏈已經成為基本。我們我們的專業人員隨時準備與他們會面。

我們總部設在香港,在中國(北京和上海,以及廣東東莞)擁有強大的業務。我們還在馬來西亞,新加坡,中國臺灣,菲律賓和泰國的東南亞設有分支機構。我們所有的分支機構都已建立數十年,我們的許多客戶對我們與他們建立的長達數十年的合作關系感到滿意。

我們的目標是建立持久的關系,滿足東南亞快速增長企業的需求。對于我們的客戶,我們不僅提供設備,還提供建議和技術指導,以及時了解我們不斷發展的行業的新發展。對于我們的供應商,我們提供了深入的銷售網絡和數十年的東南亞復雜商業環境導航經驗。我們將本地客戶與來自歐洲,美國,日本和韓國的*設備連接起來。

可以立即聯系我們,了解我們如何與您合作,實現您組織的*財務目標。

 

F30 P2.png

 

岱美有限公司與Filmetrics從03年開始的合作關系,單是國內16年間已賣出超過600臺不同型號儀器,在國內有多個服務處均有工程師,保證能為客戶提供及時的服務。

Dymek logo.png            Filmetrics Logo.png

經濟實惠的薄膜厚度測量系統的銷售*,讓復雜測量變得簡單

 

 

產品簡介:

美國 Filmetrics 公司生產的薄膜厚度測量儀利用反射干涉的原理進行無損測量,可測量薄膜厚度及光學常數。測量精度達到埃級的分辯率,測量迅速,操作簡單,界面友好,是目前市場上jiju性價比的薄膜厚度測量設備。設備光譜測量范圍從近紅外到紫外線,波長范圍從200nm到1700nm可選。凡是光滑的,透明或半透明的和所有半導體膜層都可以測量。其可測量薄膜厚度在 1nm 到 13mm 之間,測量精度高達1 埃,測量穩定性高達 0.7 埃,測量時間只需一到二秒, 并有手動及自動機型可選。可應用領域包括:生物醫學(Biomedical), 液晶顯示(Displays), 硬涂層(Hard coats), 金屬膜(Metal), 眼鏡涂層(Ophthalmic) , 聚對二甲笨(Parylene), 電路板(PCBs&PWBs), 多孔硅(Porous Silicon), 光阻材料(Thick Resist),半導體材料(Semiconductors) , 太陽光伏(Solar photovoltaics), 真空鍍層(Vacuum Coatings), 圈筒檢查(Web inspection applications)等。

 

 

應用:

通過Filmetrics膜厚測量儀新反射式光譜測量技術,多達3-4層透明薄膜厚度、 n、k值及粗糙度能在數秒鐘測得。其應用廣泛,例如:

半導體制造

液晶顯示器

生物醫療元件

微機電系統

光學鍍膜

Photoresist

光刻膠

Oxides

氧化物

Nitrides

氮化物

SOI

絕緣體上硅

Cell Gaps液晶間隙

Polyimide

聚酰亞胺保護膜

ITO

納米銦錫金屬氧化物

Polymer/Parylene   Layers

 聚合物/聚對二甲苯涂層

Membrane/Balloon Wall   Thickness

生物膜/氣泡球厚度

Drug-Coated Stent

藥物涂層支架

Silicon Membranes

硅膜

AlN/ZnO Thin Film Filters

氮化鋁/氧化鋅薄膜濾鏡

Hardness Coatings

硬鍍膜

Anti-reflection Coatings

增透鍍膜

Filters濾光

 

 

膜層實例:

幾乎任何光滑、半透明、低吸收的膜都能測。包括:

SiO2(二氧化硅)           SiNx(氮化硅)                    DLC(類金剛石碳)

Photoresist(光刻膠)     Polyer Layers(高分子聚合物層)      Polymide(聚酰亞胺)

Polysilicon(多晶硅)      Amorphous Silicon(非晶硅)

 

 基底實例:

對于厚度測量,大多數情況下所要求的只是一塊光滑、反射的基底。對于光學常數測量,需要一塊平整的鏡面反射基底;如果基底是透明的,基底背面需要進行處理使之不能反射。

包括:

Silicon(硅)         Glass(玻璃)               Aluminum(鋁)

Gas(砷化鎵)        Steel(鋼)                 Polycarbonate(聚碳酸脂)

Polymer Films(高分子聚合物膜)

產品應用,在可測樣品基底上有了*的飛躍:

●幾乎所有材料表面上的鍍膜都可以測量,即使是藥片,木材或紙張等粗糙的非透明基底。

●玻璃或塑料的板材、管道和容器。

●光學鏡頭和眼科鏡片。

 

服務:

免費樣機演示及測量

輕輕一按即可實現測量!

請聯系我們,專業的應用工程師將為你演示它是如此的方便!

優勢:

*     提供在線診斷

*     配送獨立的軟件包

*     精通的歷史功能即程序數據可存儲、復制及策劃結果

*     免費軟件升級

 

 

               thickness measurement yuanli.png

 

極易操作、快速、準確、機身輕巧及價格便宜為其主要優點,Filmetrics提供以下型號以供選擇:

一、單點測量系統(從 1nm 到 13mm 單層及多層厚度測量)

F20.jpg  F3-sX.jpg   F10-HC.jpg

F20

*銷量好的薄膜測量系統,有各種不同附件和波長(由220nm紫外線區 至1700nm近紅外線區)覆蓋范圍,為任意攜帶型,可以實現反射率、膜厚、n、k值測量。

F3-sX

能測量半導體與介電層薄膜厚度到3毫米, 例如硅片

F10-ARc

可測量鏡片和其他曲面的反射率,用于涂層厚度測量

F10-HC

測量硬涂層和防霧層厚度和折射率,聚碳酸酯硬涂層在汽車等行業應用普通

F3-CS

提供微小視野及微小樣品測量,USB連接電腦即可使用,攜帶方便

F10-AR

測量眼科鏡頭和其他彎曲表面的反射率。還可以提供測量硬涂層厚度和透射率的可選件

F10-RT

可同時測量反射率和透射率,也可選配測量膜層厚度和折射率。普遍應用于真空涂層領域

F20實現反射率跟穿透率的同時測量,特殊光源設計特別適用于透明基底樣品的測量。

 

 

二、F40 系列- 基于微米(顯微)級別光斑尺寸厚度測量

F40 with SS-Microscope.jpg

F40

可以固定到您的顯微鏡上來測量小至 1um 光斑點的厚度和折射率

這型號安裝在任何顯微鏡外,可提供小到1um光點(100倍放大倍數)來測量微小樣品。

 

三、F50/F60系列- 表面的自動測繪

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F50

為我們的F20系列產品增添自動測繪能力,以每秒鐘 2 個點的快速測繪厚度和折射率

這型號配備全自動XY工作臺,由8"x8"18"x18"或客戶提供所需尺寸均可。通過快速掃瞄功能,可取得整片樣品厚度分布情況(mapping)

F54

能以每秒測量兩個點的速度快速的測繪薄膜厚度,樣品直徑可達450毫米

F60-t

滿足生產環境的臺式測繪系統,包括自動基準確定、凹槽定位、全封閉測量平臺以及其它裝置

 

四、F30 系列- 在線厚度監控儀器

F30.jpg       F32.jpg

F30

檢測金屬有機化學氣相沉積(MOCVD)、陰極濺鍍和其他沉積工藝中監控反射率、厚度和沉積率

這型號可安裝在任何真空鍍膜機腔體外的窗口。可實時監控長晶速度、實時提供膜厚、nk值。并可切定某一波長或固定測量時間間距。更可加裝至三個探頭,同時測量三個樣品,具紫外線區或標準波長可供選擇。

F32

實時監控薄膜頂部和底部的反射率和沉積速率

 

 

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上海分公司

地址: 上海市浦東金高路 2216 弄 35 號6 幢 306-308 室

電話: (021) 3861 3675,3861 3676卜先生

 

北京分公司

地址: 北京市豐臺區豐臺科技園汽車博物館東路1號院諾德中心二期號樓1102室

電話: (010) 6261 5731,6261 5735賈先生

 

 

岱美有限公司成立于1989年,是數據存儲,半導體,光學,光伏和航空航天*制造商和創新研發機構的*設備分銷商。在21世紀初期,Dymek已從我們在香港的總部擴展到亞洲,以滿足客戶的多樣化需求。在當今化的市場中,我們的客戶有連接東南亞各國的綜合供應鏈已經成為基本。我們我們的專業人員隨時準備與他們會面。

我們總部設在香港,在中國(北京和上海,以及廣東東莞)擁有強大的業務。我們還在馬來西亞,新加坡,中國臺灣,菲律賓和泰國的東南亞設有分支機構。我們所有的分支機構都已建立數十年,我們的許多客戶對我們與他們建立的長達數十年的合作關系感到滿意。

我們的目標是建立持久的關系,滿足東南亞快速增長企業的需求。對于我們的客戶,我們不僅提供設備,還提供建議和技術指導,以及時了解我們不斷發展的行業的新發展。對于我們的供應商,我們提供了深入的銷售網絡和數十年的東南亞復雜商業環境導航經驗。我們將本地客戶與來自歐洲,美國,日本和韓國的*設備連接起來。

可以立即聯系我們,了解我們如何與您合作,實現您組織的*財務目標。

 

 

 

 



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