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Detla 白光干涉測(cè)厚儀

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱(chēng) 廣州貝拓科學(xué)技術(shù)有限公司
  • 品牌 貝拓科學(xué)
  • 型號(hào) Detla
  • 產(chǎn)地 廣東
  • 廠商性質(zhì) 生產(chǎn)廠家
  • 更新時(shí)間 2024/7/18 15:41:09
  • 訪(fǎng)問(wèn)次數(shù) 5029

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廣州貝拓科學(xué)技術(shù)有限公司成立于2010年8月,是國(guó)家高業(yè),廣州科技小巨人企業(yè),并在廣東股權(quán)交易中心成功掛牌(股權(quán)代碼:892081),通過(guò)ISO9001-2015質(zhì)量體系認(rèn)證和知識(shí)產(chǎn)權(quán)貫標(biāo)認(rèn)定體系,擁有近20項(xiàng)國(guó)家磚利。貝拓科學(xué)一直從事光譜分析儀器領(lǐng)域,自主研發(fā)儀器有光學(xué)接觸角測(cè)量?jī)x,顯微拉曼光譜儀,表界面張力儀,白光干涉膜厚分析儀,陣列式紫外可見(jiàn)分光光度計(jì),積分球式透反射率測(cè)試儀等。具備光學(xué)設(shè)計(jì)、機(jī)械設(shè)計(jì)、軟件編寫(xiě)和算法編寫(xiě)核心能力,和中山大學(xué)、廣州大學(xué)、華南師范大學(xué)有緊密的合作關(guān)系,并且是廣州大學(xué)物理與光電學(xué)院的長(zhǎng)期實(shí)習(xí)基地。貝拓科學(xué)所研發(fā)生產(chǎn)的產(chǎn)品定位在國(guó)內(nèi)高水平,未來(lái)面向市場(chǎng)。

前臺(tái).jpg

貝拓科學(xué)陪伴著科學(xué)家一起探索未知事件,“Touch the future”作為我們的口號(hào),貝拓科學(xué)尊重以嚴(yán)謹(jǐn)?shù)目茖W(xué)理論為指導(dǎo),為科學(xué)家提供有力的科研工具。我們默默堅(jiān)持做前沿分析儀器的搬運(yùn)工,陪伴科學(xué)家不斷成長(zhǎng)。我們很榮幸作為一些有儀器生產(chǎn)廠家,例如:日本Hitachi,德國(guó)WITec,德國(guó)Bruker,英國(guó)OXFORD,美國(guó)ThermoFisher,Ametek旗下輸力強(qiáng)和普林斯頓,以及中國(guó)臺(tái)灣OtO等大電子儀器廠家的代理,一起為中國(guó)的科學(xué)家提供專(zhuān)業(yè)的服務(wù)。

 

我們的宗旨是為科學(xué)學(xué)提供更專(zhuān)業(yè),更貼心的服務(wù)。

我們的優(yōu)勢(shì)和專(zhuān)注點(diǎn)集中于材料測(cè)試方面,為了普惠科研工作者,我們還提供測(cè)試服務(wù),其中包括材料的結(jié)構(gòu)、元素分布、表面特征、物理化學(xué)特性以及光學(xué)、電學(xué)特性的分析。

材料分析領(lǐng)域代理品牌:

OXFORD(牛津)、FEI(賽默飛)、KeySight(前安捷倫納米部)、STOE、AMETEK(阿美特克)、TESCAN(泰思肯)、LEICA、KRUSS、BEL、HITACHI(日立)、OTO(中國(guó)臺(tái)灣超微光學(xué))、WITec(威泰克)、BRUKER(布魯克)、普析、徠卡、本原納米等。

 

 

 

接觸角測(cè)量?jī)x、在線(xiàn)測(cè)厚儀、光學(xué)膜厚儀、紅外光譜儀、拉曼成像光譜儀、拉曼電鏡、低溫恒溫器、掃描探針顯微鏡/原子力、納米壓痕劃痕儀、橢偏儀、熱分析、差示掃描熱儀

產(chǎn)地類(lèi)別 國(guó)產(chǎn) 價(jià)格區(qū)間 面議
應(yīng)用領(lǐng)域 化工,生物產(chǎn)業(yè),電子,印刷包裝,紡織皮革

白光干涉測(cè)厚儀介紹  

白光干涉儀利用薄膜干涉光學(xué)原理,對(duì)薄膜進(jìn)行厚度測(cè)量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面,探頭同位接收反射光線(xiàn)。TF200根據(jù)反射回來(lái)的干涉光,用反復(fù)校準(zhǔn)的算法快速反演計(jì)算出薄膜的厚度。測(cè)量范圍1nm-3mm,可同時(shí)完成多層膜厚的測(cè)試。對(duì)于100nm以上的薄膜,還可以測(cè)量n和k值。


白光干涉測(cè)厚儀特點(diǎn)

快速、準(zhǔn)確、無(wú)損、靈活、易用、性?xún)r(jià)比高

應(yīng)用案例

應(yīng)用領(lǐng)域

半導(dǎo)體(SiO2/SiNx、光刻膠、MEMS,SOI等)

LCD/TFT/PDP(液晶盒厚、聚亞酰胺ITO等)

LED (SiO2、光刻膠ITO等)

觸摸屏(ITO AR Coating反射/穿透率測(cè)試等)

汽車(chē)(防霧層、Hard Coating DLC等)


技術(shù)參數(shù)

型號(hào)

TF200-VIS

TF200-EXR

TF200-DUV

TF200-XNIR

波長(zhǎng)范圍

380-1050nm

380-1700nm

190-1100nm

900-1700nm

厚度范圍

50nm-40um

50nm-300um

1nm-30um

10um-3mm

準(zhǔn)確度1

2nm

2nm

1nm

10nm

精度

0.2nm

0.2nm

0.2nm

3nm

入射角

90°

90°

90°

90°

樣品材料

透明或半透明

透明或半透明

透明或半透明

透明或半透明

測(cè)量模式

反射/透射

反射/透射

反射/透射

反射/透射

光斑尺寸2

2mm

2mm

2mm

2mm

是否能在線(xiàn)

掃描選擇

XY可選

XY可選

XY可選

XY可選

注:1.取決于材料0.4%或2nm之間取較大者。

      2.可選微光斑附件。





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