EmiosAT-1500 非接觸式膜厚儀

具體成交價以合同協議為準

公司名稱 大塚電子（蘇州）有限公司
品牌 OTSUKA/日本大塚
型號 EmiosAT-1500
產地
廠商性質 生產廠家
更新時間 2020/6/16 10:58:15
訪問次數 2354

產品標簽

非接觸式光學膜厚儀光學膜厚儀非接觸式測厚儀

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公司介紹 主營產品

大塚電子（蘇州）有限公司主要銷售用于光學特性評價·檢查的裝置。其裝置用于在LED、 OLED、汽車前燈等的光源·照明產業以及液晶顯示器、有機EL顯示器等平板顯示產業以及其相關材料的光學特性評價·檢查。

　　以高速·高精度·高可靠性且有市場實際應用的分光器MCPD系列為基礎，在中國的顯示器市場上有著20年以上銷售實例，為許多廠家在研究開發、生產部門所使用。并且在光源·照明相關方面，對研究機構、各個廠家的銷售量在逐步擴大。

　　在中國的蘇州有設立售后服務點，為了能迅速且周到的為顧客服務而努力。

　　我公司的母公司日本大塚電子集團，隸屬于大冢集團，一直以來都謹守大冢集團的企業理念「Otsuka-people creating new products for better health world wide」(大冢為人類的健康創造革新的產品)，不斷的推出創新產品，面向開展業務，為社會作出貢獻。

展開

zeta電位?粒徑?分子量測量系統，晶圓在線測厚系統，線掃描膜厚儀，顯微分光膜厚儀，線掃描膜厚儀，分光干涉式晶圓膜厚儀，相位差膜?光學材料檢測設備，非接觸光學膜厚儀，小角激光散射儀，多檢體納米粒徑量測系統，量子效率測量系統

詳細信息 在線詢價

產地類別	進口	價格區間	20萬-50萬
應用領域	醫療衛生,化工,能源,電子,汽車

非接觸式膜厚儀Eimos設備操作簡單，放置樣品即可測量的。一步到位。

縮短檢查工程，無標準曲線，精度高，分辨率高，輕松測量樣品的厚度。

光學方式為大冢電子*，不僅外形小巧，無論透明、粗糙還是易變形的樣品，都可以實現非接觸式的高精度測量。

非接觸式膜厚儀特點：

非接觸式測量不透明、粗糙，易變形的樣品
反復性，再現性高
無標準曲線也可知道厚度
測量徑很小，不受斑點的影響
樣品位置無需調整，放進去即可。
穩定性高，不會產生誤差，所以誰都能操作。
光學方式原理所以安全

式樣

	AT-1500
厚度范圍	10μm~1.5mm
重復性	0.1μ(2σ)以下(測量1nm的guage black)
樣品尺寸	小Φ10mm，大100mm (測量位置在中間部)
測量徑	約50μm
測量時間	1秒以下
裝置尺寸·重量	W300×D364×H400(mm)·20(kg) (本體部：開發過程中可能發生變更)
電源	AC100-220V/200V

構成圖/原理

1)構成圖

任何人都會使用大塚電子非接觸式光學膜厚儀 Eimos進行測量

2)原理

將光分別照射樣品上下部
測量距離基準面的距離。
d=dall-(d1+d2)

比較測量方法

樣品例子和測量方法的比較

		非接觸光學膜厚儀	接觸式膜厚儀	X線式膜厚儀	変位計
樣品	凝膠片	○	×	○	○
	不織布	○	×	○	×
	金屬板	○	○	○	○
	樹脂	○	○	○	○
	多孔質	○	△	○	×
	陶瓷	○	○	○	×
	紙?木	○	○	○	×
測量條件	測量時間	○ 高速	○	○	○
	非接觸測量	○ 非接觸	×	○	○
	前處理	○ 不要	○	×	○