X-RAY XDL210熒光測厚儀

X-RAY XDL210熒光測厚儀

FISCHERSCOPE X-RAY XDL 210 是一款應用廣泛的能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀。它非常適用于無損測量鍍層厚度、材料分析和溶液分析，同時還能檢測大規模生產的零部件及印刷線路板上的鍍層。

 典型的應用領域有：
• 測量大規模生產的電鍍部件
• 測量超薄鍍層，例如：裝飾鉻
• 測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層
• 測量印刷線路板
• 分析電鍍溶液

通用規格

設計用途

能量色散型 X 射線熒光鍍層測厚及材料分析儀 (EDXRF)， 用于測定超薄鍍層和溶液分析。

元素范圍

從元素氯(17) 到 鈾(92)配有可選的WinFTM®BASIC軟件時，多可同時測定 24 種元素

設計理念

臺式儀器，測量門向上開啟

測量方向

由上往下

X 射線源

X 射線管

帶鈹窗口的鎢管

高壓三檔： 30 kV，40 kV，50 kV

孔徑（準直器）

Ø 0.3 mm 可選：Ø 0.1 mm； Ø 0.2 mm；長方形 0.3 mm x 0.05 mm

測量點尺寸

取決于測量距離及使用的準直器大小，

實際的測量點大小與視頻窗口中顯示的一致

小的測量點大小約 Ø 0.2mm

X 射線探測

X 射線接收器

測量距離

比例接收器

0 ~ 80 mm，使用保護的 DCM 測量距離補償法

樣品定位

視頻系統

高分辨率CCD彩色攝像頭，沿著初級X射線光束方向觀察測量位置

手動聚焦，對被測位置進行監控

十字線（帶有經過校準的刻度和測量點尺寸）

可調節亮度的LED照明，激光光點用于定位樣品

放大倍數

40x – 160x

電氣參數

電源要求

220 V ，50 Hz

功率

大 120 W （不包括計算機）

保護等級

IP40

尺寸規格

外部尺寸

寬×深×高[mm]：570×760×650

內部測量室尺寸

寬×深×高[mm]：460×495x（參考“樣品大高度”部分的說明）

重量

94 kg