Contour 高精度三维形貌计量光学轮廓仪

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光学轮廓仪立体显微镜纳米光学显微镜干涉轮廓仪非接触光学轮廓仪

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公司介绍 主营产品

冠乾科技Grant Technology 有限公司创立于中国上海。公司为用户提供先进可靠的设备及、

仪器技术，为客户把握工艺过程，得到优质的结果而服务。
Grant是“授予”的意思，希望公司能够成为一个平台，以用户能够得到上更新更快的技术资讯，技术方案为企业目标。

冠乾科技追求品质产品、专业的应用和完善的售后服务，我们是您可以信赖的合作伙伴。

工艺设备：真空镀膜机；离子束刻蚀机，ICP刻蚀机，等

产品线丰富，元素分析:原子吸收,气相色谱，液相色谱，气质联用，紫外分光光度计等；热分析：材料表面分析：原子力显微镜，光学轮廓仪，摩擦磨损等；通用分析：扫描电镜，

实验室仪器
原子吸收光谱仪
近红外光谱仪
紫外分光光度计
电化学工作站
红外光谱仪
镀层测厚仪
数字显微镜
影像测量仪
Wafer 粗糙度检测
3D 轮廓仪
超景深显微镜
TTV 测试
扫描探针显微镜
台式扫描电镜

其他仪器：
四探针测试
离子减薄机

展开

原子力显微镜，摩擦磨损试验机，超景深显微镜，镀膜机

产地类别	进口	产品种类	非接触式轮廓仪/粗糙度仪
价格区间	100万-200万	应用领域	医疗卫生,电子,交通,航天,汽车

Contour 高精度三维形貌计量光学轮廓仪融合了高级表征、可定制选项和易用性，可以提供快速、准确和可重复的非接触式三维表面计量方法。

它的操作和分析软件系统提供了更易于使用的界面和简洁的功能，可以访问多种预编程滤镜和分析工具，用于精密加工的表面，薄膜，半导体，眼科，医疗设备，MEMS和摩擦学等领域的测量分析，可用于表面粗糙度，RDLxian进封装工艺厚度等测试。

满足计量要求，具有很好的Z轴分辨率和准确性，并在更小的占地面积内提供了布鲁克白光干涉仪（WLl）落地式型号所具备的业界认可的优点。它对反射率从0.05%到100 %的各种表面都非常易于测量。

Contour 高精度三维形貌计量光学轮廓仪拥有三款型号，分别是GT100、GT200、GT500，它们的技术参数如下：

型号	GT100	GT200	GT500
图片
样品台区别	手动样品台	自动样品台	高级自动化样品台
技术参数	扫描量程：≤10mm 垂直分辨率：＜0.01nm 水平分辨率：0.38μm min（Sparrow criterion），0.13μm（with AcuityXR）台阶高度准确性：＜0.75% 台阶高度重复性：＜0.1% 1 sigma repeatability 扫描速度：37μm/sec(with standard camera) 样品倾角：≤40°（shiny surfaces），≤87°（rough surfaces）样品高度：≤100mm（4 in.）