OmniScan MX ECA/ECT粘接檢測
- 公司名稱 增宜檢測技術（上海）有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號
- 產地
- 廠商性質 代理商
- 更新時間 2021/9/2 18:22:44
- 訪問次數 1576
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增宜檢測技術（上海）有限公司是一家專注于無損檢測設備，理化分析計量儀器，實驗室科研器材銷售及服務的一站式集成供應商。公司代理許多上享譽*的先進產品。
我們提供的工業產品包括超聲波檢測儀、渦流儀、激光間隙測量儀、X射線機、平板探測器、磁粉探傷機、著色滲透劑、聲發射檢測儀器、泄漏儀、內窺鏡、顯微鏡、硬度計、合金光譜儀、金相分析儀、紅外熱像儀及其它實驗室試驗檢測設備。
我們的產品廣泛應用于造船、汽車、鐵路、航空、石化、冶金、風電、核工業、軍工、特檢和高?？蒲械榷鄠€行業領域，并贏得了廣大用戶的良好口碑。
公司秉承“至信卓業，客戶至上”的經營宗旨，崇尚“專業，高效，共贏”的服務理念，為廣大客戶提供優質的產品，優質的服務。我們期待成為您長期且可信賴的合作伙伴。
主要代理如下公司產品：
奧林巴斯測厚儀/探傷儀/顯微鏡/內窺鏡/光譜儀
Third Dimension英國三維激光間隙測量儀
ZETEC探傷儀
GE美國通用電氣測厚儀/探傷儀/顯微鏡/內窺鏡/射線機
萬睿視平板探測器/管頭
Eddyfi & M2M探傷儀
美國磁通磁粉滲透
Eddyfi & M2M探傷儀
奧林巴斯超聲波相控陣OMNISCAN MX2，英國三維Third Dimension GapGun Pro激光間隙測量儀，美國萬睿視Varex射線數字平板探測器，奧林巴斯超聲波探傷儀，奧林巴斯渦流探傷儀，內窺鏡，元素分析儀，美國磁粉滲透
| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 化工 |
|---|
粘接檢測，重新打造
在同一次掃查中可以使用8種頻率
OmniScan MX ECA/ECT粘接檢測的改進特性
| OmniScan MX ECA/ECT粘接檢測重要注意事項
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高級復合材料檢測
奧林巴斯非常自豪地推出新型粘接檢測OmniScan解決方案：這無疑是復合材料檢測行業中的一大進步。如今，使用便攜式儀器獲得易于判讀的C掃描圖像已經成為現實。這種OmniScan解決方案不僅非常適用于蜂窩結構復合材料的脫粘檢測，而且還可以精確地探測到分層缺陷。這種解決方案主要為航空航天業的在役檢測而設計，但是也同樣適用于包括汽車和船舶工業在內的制造業中的檢測，如：針對復合材料船體的檢測。
已經擁有了OmniScan ECA或ECT模塊的用戶只需訂購標準的BondMaster探頭（P14和SPO-5629）及BondMaster線纜，就具備了解決方案所需的全套設備。
我們特別為復合材料檢測開發定制了MXB軟件；其新添的功能，如：向導和規范化，有助于保持操作的簡單性。
編碼系統：可以使用任何雙軸編碼掃查器檢測工件。奧林巴斯提供兩個選項：一個是適用于掃查平面或稍有彎曲表面的GLIDER掃查器；另一個是專門為掃查曲面工件（如：飛機的機身）而設計的WING掃查器，這款掃查器因具有Venturi真空吸盤系統，甚至可以在倒置狀態下進行操作。為了增強其通用性，裝有步進點擊器的手持式單軸編碼掃查器也可以與這個系統兼容。
創新型C掃描視圖
奧林巴斯再次創新，推出了全新的屏幕數據顯示方式。針對每個C掃描，操作人員都有兩個查看選項可以選擇：波幅C掃描基于信號波幅顯示顏色的變化，而不會考慮相位情況，這種C掃描可以清晰、有效地探測到脫粘缺陷；相位C掃描，使用0°到360°的彩色調色板顯示相位角的變化，有助于輕松辨別不同類型的缺陷指示，如：油灰填塞（修補）區域或分層缺陷。
相位C掃描，光標處于灌封修補區域上
低頻掃描；波幅C掃描，光標處于脫膠缺陷上 |
高頻掃描；相位C掃描，不同的彩色調色板 |
高頻掃描；相位C掃描，光標處于分層缺陷上 |
兩個C掃描視圖 |
全屏C掃描視圖 |
缺陷大小評估功能 |
需要使用的設備
這個解決方案有兩種不同的配置：手動配置和半自動配置，兩種配置都需要以下標準部件。
標準部件
OmniScan MX和ECA/ECT模塊 |
MXB軟件 |
用于連接OmniScan儀器的BondMaster探頭適配器 |
手動配置
HSB-01手持式掃查器
半自動配置
雙軸掃查器 | |
帶ACIX1520探頭架的SPO-5629-PHV探頭 |
帶ACIX1519探頭托架的S-PC-P14探頭 |
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