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化工儀器網>產品展廳>光學儀器及設備>光學測量儀>其它光學測量儀>M-Squared Measurement Sys M2測量系統

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M-Squared Measurement Sys M2測量系統

具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱 科藝儀器有限公司
  • 品牌 DataRay/美國
  • 型號 M-Squared Measurement Sys
  • 產地
  • 廠商性質 經銷商
  • 更新時間 2021/9/3 15:02:49
  • 訪問次數 1339
產品標簽

光學測量M2

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聯系我們時請說明是化工儀器網上看到的信息,謝謝!


科藝儀器(A &P Instrument),1984年成立于香港,著名的激光、光電產品,教學儀器及實驗室通用儀器代理商,是許多歐美在中國的代理,其中包含:博光,Apico,Velodyne,PHOTON ENERGY,Dataray,SLM,Admatec,Directphotonic,Pasco,Cole-Parmer,hrwallingford,Festo,GCC,Jasper,Matrix,Motic,Photron,PALAS,PolyScience,PreSens等。科藝儀器致力于引進優秀的產品和技術、提供給客戶完善的服務,幫助客戶解決在科研、生產中遇到的問題,帶動國內教育、科研及相關行業水平的提高。

公司產品內容涉及以下三個方面:

1. 各種激光器件及系統、光學器件及系統、精密移動控制產品及光電測試設備;

2. 大學、中學各學科的教學儀器:普通物理教學設備;工程研究及教學儀器;電工電子,電力;通信,液壓,自動化和機器人,馬達控制,空調與制冷技術;儀表與過程控制,多種培訓系統等。

3. 氣溶膠及顆粒分析監測儀及采樣器、實驗室通用儀器及設備、工業在線監測儀器、流量計、及食品、環保監測、材料測試儀器和設備。

三十多年來,科藝儀器一貫秉持“專業·品質·服務”的經營理念,切實為國內廠家和用戶提供優質的服務和產品解決方案而倍受用戶的信賴。我們以提供優質的產品和專業的服務為宗旨,以專業高效的員工隊伍為依托,以客戶的滿意為己任。科藝儀器的銷售、技術服務網絡覆蓋全國,輻射東南亞,公司已在北京、上海、廣州、深圳、成都、武漢、中國臺灣、新加坡等地設有分公司或辦事處,常駐銷售和技術人員,為客戶提供全面的售前、售中、售后支持和服務。同時我們為客戶提供更及時、周到及滿意的服務。

 

 

光譜儀;激光器;教學產品;氣溶膠測試儀器;過濾器測試系統;蠕動泵;

產地類別 進口 應用領域 地礦,能源,交通

M2測量系統

為什么關心 M2 

它是激光器或激光系統的交付質量保證或驗收標準。

? 您需要了解為什么實際“聚焦”激光光斑直徑比計算預測的要大。

? 您需要測量 M2,和/或有人給您一份 ISO 11146 標準。

? 因為 M2 是通過良好光學系統傳播的激光束的不變屬性。 因此,M2 可用于描述該光學系統中任意點的光束。 (*光學系統既不會扭曲也不會縮短光束。)

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M2 或光束質量因子是一個無量綱參數,用于表征實際激光束的缺陷程度。 M2 的值越低,光束可以越緊密地聚焦到一個小點上。 良好TEM00 光束的 M2 = 1。

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沒有任何激光束是“wan美的”。 激光腔、激光介質和/或輸出/輔助光學器件的局限性意味著大多數光束不是教科書中描述的衍射限制、高斯分布、純TEM00 模式。 復雜光束包含多種增加M2的因素 即使是理想”的實驗室氦氖激光器M2大約1.05 到1.2,而不是“wan美”TEM00 光束的1.0。

簡單M2 可以定義為: 實際光束的發散度與具有相同腰部直徑的理論衍射極限光束的發散度之比。

M2 = (Θ/θ) 其中 Θ是實際光束的實測遠場全角發散角,θ是“wan美”TEM00 高斯光束的理論遠場發散角,其束腰直徑與被測光束。

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DataRay 提供成像相機和狹縫掃描系統來測量M2、發散度、光束輪廓、光束位置、瑞利范圍等。

? BeamR'2 和 WinCamD 輪廓相機結合線性平臺移動通過束腰位置以執行符合 ISO 11146 的測量

? BeamMap2 通過多平面掃描系統提供實時 M2

移動平臺上符合 ISO 11146 標準的單平面測量系統

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ISO 11146 標準要求測量光束腰部的多個平面 (≥5) 和遠場中的多個平面 (≥5) 的二次矩光束直徑。 在大多數情況下,這需要單個平面光束分析儀通過一個Z平臺沿傳播軸移動

DataRay 基于模塊化的系統為用戶提供了 靈活性很強的M2 測量 電子表格支持選擇最佳 M2 測量配置:基于相機或基于狹縫掃描的系統、鏡頭選擇50 或 200 毫米長平移臺

WinCamD™ 相機提供最靈活的成像系統,可以在脈沖和連續波束上測量非常廣泛的 M2 波長從 190 nm 到 1350 nm,傳感器尺寸為 11.3 x 11.3 mm,像素尺寸小至 3.2 µm。

 

Beam’R2™ 是一種高分辨率 (0.1 µm) 單平面掃描系統,具有從 190 nm 到 2.5 µm 的多種波長選項以及用于測量 M2、發散度、瑞利范圍等的配置選項。

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M2DU-50 和 -200平臺

? 分辨率 < 1 µm

? DataRay 軟件控制

? 符合 RoHS 和 CE 標準

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實時 M2

BeamMap2™ 是一種高分辨率 (0.1 µm) 多 z 平面 XYZθθ 測量系統,可實時測量 M2校準、發散和束腰位置和尺寸。 BeamMap2 有兩個版本,涵蓋狹縫平面分離 d 選項為 50、100、250、500 或 750 µm 的聚焦光束。 ColliMate™ 版本涵蓋接近準直的光束,平面間距為 5mm。

BeamMap2 操作原理

? 帶有多個 XY 狹縫對的磁盤 ['puck'] 圍繞平行于 z 軸的軸旋轉,這符合 ISO 11146 標準的正交線性掃描要求。

? 狹縫在聚焦區域中以 z 方向的多個平面中精確校準。

? 狹縫放置在與局部徑向方向的 ±45° 處。 有效狹縫寬度比實際狹縫寬度大 2 倍。

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M2測量系統

波長范圍

相機系統

WinCamD-LCM4

WinCamD-UCD series

Beam’R2™

BeamMap2™

190-355


355-1100

355-1350

掃描系統

 


單平面

模型

多平面 實時 M2

型號1

190-800

BR2-Si

BMS2-Si-XXX

800-1800

BR2-IGA

BMS2-IGA-XXX

800-2500

BR2-IGA2.5

BMS2-IGA-2.5-XXX

1 不同的狹縫/平面配置可能有多個型號。 請咨詢科藝儀器銷售工程師確認選擇范圍:

訂購信息 鏡頭選擇

模型

描述

LNZ-UV-Focal Length 190-380 nm

可用焦距 - 50,75,100,150, 200,250,500 mm,直徑 25 或 50 mm,帶安裝座和墊片

LNZ-VIS-Focal Length 400-800 nm

可用焦距 - 50,75,100,150, 200,250,500 mm,直徑 25 或 50 mm,帶安裝座和墊片

LNZ-NIR- Focal Length 650-1050 nm

可用焦距 - 50,75,100,150, 200,250,500,750,1000 mm,直徑 25 或 50 mm,帶安裝座和墊片

LNZ-TEL- Focal Length 1050-1620 nm 1

可用焦距 - 50,75,100,150, 200,250,500,750,1000 mm,直徑 25 或 50 mm,帶安裝座和墊片

 

相機/掃描系統

模型


描述

相機

S-WCD-LCM4

完整的全局 CMOS 光束分析相機和配件 USB 3.0,1” 傳感器,5.5 µm 像素


S-WCD-UCD23

完整的全局 CCD 系列光束分析相機和配件 USB 2.1、2/3” 傳感器、6.5 µm 像素


S-WCD-UCD15

完整的全局 CCD 系列光束分析相機和配件 USB 2.1、1/1.8” 傳感器、4.4 µm 像素


S-WCD-UCD12

完整的全局 CCD 光束分析相機和附件 USB 2.1、1/2” 傳感器、4.65 µm 像素


S-WCD-UHR

完整的 CMOS 光束分析相機和配件 USB 2.1、1/2” 傳感器、5.2 µm 像素


S-WCD-XHR

完整的 CMOS 光束分析相機和配件 USB 2.1、1/2” 傳感器、3.2 µm 像素

平臺

M2DU-WCD-50

M2 線性平臺,2.5 µm 步長,50 mm 行程,用于相機


M2DU-WCD-200

M2 線性平臺,2.5 µm 步長,200 mm 相機行程

狹縫掃描系統

S-BR2-

Beam’R2 掃描系統 - 選擇 Si、IGA 或 IGA2300


S-BMS2

完整的 BeamMap2 系統 - 選擇 Si、IGA 或 Ext IGA2300 無需平臺

Stage

M2DU-BR2

用于 BR2 掃描系統的線性平臺

 

配件

IC

儀表盒包含客戶自定義配置的泡沫單元

ND 衰減片

全系列 ND 衰減片,包括我們新的 MagND 衰減片,可快速更換OD 0.5、1.0、2.0、3.0、4.0、5.0




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