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化工儀器網>產品展廳>半導體行業專用儀器>集成電路測試與分選設備>探針臺>TS3000-HP 半自動高功率探針臺

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TS3000-HP 半自動高功率探針臺

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南京芯測軟件技術有限公司,專業打造半導體晶圓級測試及芯片檢測等系統集成平臺。公司致力為客戶提供半導體測試設備國產化改造,以及系統集成的一站式平臺服務。公司的目標是成為國內晶圓級在片測試,器件測量系統軟件、硬件的先進供應商,以滿足國內用戶需求,開發半導體測試設備和系統集成軟件定制化服務。

南京芯測的在專注于在片測試系統設備經銷與晶圓在片測試軟件的研發。涉及的設備包括:手動探針臺、半自動探針臺、全自動探針臺、硅光探針臺、射頻探針臺、高低溫探針臺、除此之外涉及經銷芯片ESD測試系統、封裝及工藝檢測設備等。我們服務的領域涵蓋半導體晶圓級在片測試、射頻微波器件測量,大功率器件測試、微組裝封裝工藝檢測、失效分析、材料測試等應用行業

 

 

 

 

探針臺,芯片ESD測試設備,TLP測試設備,CDM測試設備

 

半自動高功率探針臺產品簡介:

TS3000-HP 是 MPI 新的專用探針臺,用于在寬 -60°C 至 +300°C 的溫度范圍和寬 3 kV (三軸) / 10 kV (同軸) 和 600 A 測量范圍的晶圓#HighPower 對高功率芯片特性進行測試。該系統可以選擇在薄晶片或TAIKO晶圓上進行測試。并為超低噪聲測量集成了MPI的 SHIELDEnvironmentTM和WAFERWALLET 。

半自動高功率探針臺產品特點:

專為高壓、高電流應用而設計


           

•  在晶片大功率設備上測量高達10kV/600A

•  鍍金卡盤表面的最小接觸電阻和真空孔優化的薄晶 圓處理至50µm

•  Taiko晶圓殼牌選項

•  專用的高壓、高電流探頭

•  抗弧解決方案

半自動探 針臺|高功率探針臺|

MPI屏蔽環境™ ,用于精確測量


           

•  為高級EMI/RFI/光緊屏蔽而設計

•  FA低泄漏能力

•  準備好適應溫度范圍-60°C至300°C

人體工程學設計與安全


           

•  簡單的晶圓或單個DUT加載從前面

•  監管部門批準的安全聯鎖燈簾來保護用戶

•  集成式主動隔振裝置

• *集成的支撐器控制, 以實現更快、更安全、方 便的系統和測試操作

•  安全測試管理 (STM™) 選項,可在任何吸管溫度下 加載/卸載晶圓和自動露點控制

 

半自動高功率探針臺

 

 

 



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