一、产品名称及型号：硅油涂布量检测仪EDX-3500

硅油是一种不同聚合度链状结构的聚有机硅氧烷。它是由二甲基二氯硅烷加水水解制得初缩聚环体，环体经裂解、精馏制得低环体，然后把环体、封头剂、催化剂放在一起调聚就可得到各种不同聚合度的混合物，经减压蒸馏除去低沸物就可制得硅油。常用的硅油，有机基团全部为甲基，称甲基硅油。近年来，有机改性硅油得到迅速发展，出现了许多具有特种性能的有机改性硅油。硅油具有很好的耐热性、电绝缘性、耐候性、疏水性、生理惰性和较小的表面张力，此外还具有低的粘温系数、较高的抗压缩性）有的品种还具有耐辐射的性能。

离型膜的硅涂布量是生产过程中质量控制的一个重要方面，涂覆太多，则影响成本。涂覆太少，则粘合层将地粘在基底上。硅油涂布量检测仪EDX-3500利用x射线荧光光谱分析技术原理对表面涂布硅含量检测来达到涂布量的生产过程控制，是一种经济有效的手段。

二、测 试 原 理

通过软件程序控制，让 X 射线发生路产生适合的 X 射线去激发测试薄膜材料中的 Si 或者其他元素，被 X 射线激发后变为不 稳定态，高能层的电子会跃迁到空穴并同时释放特定能量被探测器接收，因每个元素都有自已特定的能量特征线，通过探测器的识别，计算机软件的计算，即可准确识别该元素，并计算出含量。

仪器采用了大面积的晶体硅漂移探测器，分辨率能够达到 125eV, 能分辨Al(铝)元素和 Si(硅) 元素。

三、技 术 特 点

· 测试采用X射线荧光光谱原理，测试过程无需耗材

· 光管垂直照射，硅元素性能得到更强激发

· 测试下限好，可准确测量 0.01g/m2 的涂硅量

· 采用大面积硅漂移探测器，测试结果极其准确

· 快速采用新的模型算法，大大提高了轻元素的测量稳定性

· 配置高清液晶显示器，测试过程和测试结果一目了然

· 设备集成多个 usb 接口 , 数据和通讯传输满足多种要求

· 空气光路内部环境得到显著优化，大气环境一样可以直接测试

· 一键测试 / 操作简单智能，测试过程使用时间更短，结果更准确

四、技 术 参 数

分析范围：1ppm~100%

精度：RSD≤0.05%  Au≥90%

光管管流：0-1000uA

探测器：美国进口Amptek探测器SDD

高压电源：0-50KV

光管电压：5-50KV/可选进口光管

分辨率：129±5ev

测试时间：30-100s

五、产 品 优 势

六、应 用 领 域

各种薄膜、淋膜、离型膜等硅油涂布量的测定

各种薄膜生产过程中Si/Al元素等比量的测定

电子产品保护膜硅油残余量的测定

电子产品硫化物的残留量的测定

离型剂研发过程中的应用

1. 通过测试涂布量，探索离型涂层的离型力与涂布量的关系

2. 借助硅涂布量测试仪，可以测试离型涂层的萃取率，研究离型剂产品的固化情况

3. 控制某一个确定的涂布量值，探索其他因素对离型涂层性能的影响

4. 有机硅离型剂出厂前的检测以及客户涂布的离型剂纸（膜）的质量监测

硅油涂布量检测仪EDX-3500