美國GGB探針簡介：

  GGB ST系列硬針   (鎢材質 ，常用款，推薦)

   ST系列硬針是 0.020 inch (0.51mm) 直徑鎢材質針桿經過精密電化學加工成為不同的針尖直徑  ，長度為  1.5inch(38.1mm)的探針。    這 種探 針應用與絕大多數的芯片電極點測和線路點測。    ST系列硬針可以用于與刮擦或者刺穿芯片表面鈍化層。    該探針可以選擇表面鍍鎳， 如果選擇 鍍鎳則型號后面增加   “NP”。

ST系列硬針規格

ST系列探針尺寸圖

ST系列探針實物

   GGB T-4 系列軟針   (鎢材質)

•T-4 系列軟針較多的應用于點測集成電路的線路 ，電極 ，或者  FIB(聚焦離子束) 制作的 mini 電極。

•T-4 系列軟針的結構采用不同直徑鎢材質針須焊接于鍍錫的銅材質針桿上。

•其中 T-4-10 和 T-4-22 兩款是客戶反饋比較有優勢的型號 ，因為其針須直徑較細  ，具有良好的彎曲彈性  ，能夠極大的減少對芯片電極 的損害  ，在部分震動環境下面也能夠保證和電極的良好接觸。

T-4 系列硬針規格

C.        GGB 高性能微波探頭  (可提供無磁款)

常用Model 40A系列

產品特點：

( 1)   測試頻率范圍：      DC to 40 GHz

( 2)   輸入衰減   ≤ 0.8db

( 3)   反射損耗≧ 18 db

(4)   腳間距:25 to 2540um可選  (腳間距越大  ，    損耗越嚴重)

( 5)   測試重復性優于-80db

( 6)   單獨彈簧加載觸點設計

( 7)   材質：      BeCu , TungQRen or Nickel tips available

( 8)     GSG  ，    SG  ，    SG  ，    GSGSG 等可選

( 9)   同軸設計

S12 與 S11 實測數據  (插損和回損)

 產品選型：

Example：    40A-GSG-150-P 代表頻率最高到 40G ，GSG 三個端口 ，其中G與S之間的腳間距是150um ，外形是  P 型。 Model 40-  (端口)  -  (間距)  -  (外形)

備注：在磁場中 ，一般選用無磁款。

QRyle 風格：       (特殊要求，可以客制化)

D.   GGB 12C有源探頭

•輸入電容0.1pf

•輸入電阻1.0兆歐

•工作電壓范圍 -10 to +20V

•帶寬dc to 500 MHz

• 12C夾具替換用探針  ( 12C-x-xx)

•射頻探針夾具源 ，可以同時支持兩個探頭使用  ( PS-2)

美國APT開爾文探針

電學特點：

Current leakage: < 10 fA   (漏電精度高)

Frequency: > 150 MHz       (測試頻率高)

Capacitance (Guarded): < 10 fF

Impedance: 50 Ohm

Power Handling: > 125 Watts @ 18-21 Deg. C

Voltage Rating: > 250 Volts RMS @ sea level

備注：

APT開爾文探針適用于四線法測試 ，以減小線阻和接觸電阻對測試的影響 ，保證小電阻的測試準確性。

另外 ，一些高頻測試 ，比如150M左右 ，也可以采用這個。