產品關鍵詞：載流子遷移率、電子遷移率、空穴遷移率、渡越時間、飛行時間、TOF、載流子壽命、遷移率壽命積、瞬態光電流、水平載流子、橫向TOF、橫向載流子、二維載流子成像mapping
▌ 產品簡介
早于2012年為行業提供搭建式系統，并于2019年全新推出的業內新款自動化、集成化的飛行時間法遷移率測量商業化設備。
FlyTOF飛行時間法遷移率測量儀是東譜科技HiTran瞬態綜合光電特性測量平臺中的重要成員。該系統利用飛行時間法（time-of-flight，TOF）測量半導體材料的遷移率以及相關的光電特性，廣泛適用于各類半導體材料，如硅基半導體、第二代半導體、第三代寬帶隙半導體、有機半導體、鈣鈦礦半導體、量子點半導體、二維材料半導體、金屬-有機框架（MOF）、共價有機框架（COF）等。FlyTOF基于我司的MagicBox主機研制而成，配備便捷的上位機控制和數據測量軟件，可助力客戶進行快速、準確的測量。FlyTOF是東譜科技源頭研發產品，是業內新款自動化、集成化的飛行時間法遷移率測試商業化設備。
遷移特性是半導體基礎的性質之一，是半導體在電子學和光電子學等領域進行應用的基礎。半導體的遷移率定義為單位電場下載流子的平均漂移速度。TOF遷移率測試方法直接由遷移率的定義發展而來。 相比于一些間接的遷移率測試方法，如空間電荷限制電流（SCLC）法等，TOF的方法被認為是接近“真實”遷移率的一種測量方法。通過TOF瞬態光電流信號的分析，可以得到電子遷移率、空穴遷移率等參數；用戶還可以利用這些數據，結合材料的物理模型進行分析，得到雜質濃度、缺陷、能帶混亂度、電荷跳躍距離等參數。
作為TOF遷移率測試方法商業化應用的先行，東譜科技已攜手客戶廣泛探索了FlyTOF在有機半導體、硅基半導體、鈣鈦礦半導體、二維材料、共價有機框架等領域的應用。東譜期待與您共同開拓FlyTOF更多的應用領域。
▌ 產品特點
□ 載流子遷移率測量值覆蓋10^-9~10^6 cm^2/(V.s)
□ 專業的信號調教，電磁兼容噪聲小
□ 行業優異的TOF測試功能
□ 軟件自動控制，測試快速便捷
□ 快速換樣裝置，惰性氣體氛圍測試
□ 可實現寬溫度范圍的變溫測試（選配）
□ 可通過可視化系統看到光斑照射情況
□ 可靈活耦合各種類型的激發光源
▌ 產品功能
□ 飛行時間法瞬態光電流測量
□ 半導體材料電子遷移率測量
□ 半導體材料空穴遷移率測量
□ 載流子濃度測量
□ 載流子壽命測量
□ 可選變溫測量
□ 可選Lateral-TOF測試功能及附件
□ 可選配TOF二維掃描（mapping）功能及附件
功能說明：
標配TOF：縱向TOF；
Mapping功能：可以對TOF的信號進行二維平面的成像；
Lateral-TOF功能：可以以水平的方式對樣品的遷移率進行測試。
▌ 產品應用
| □ 有機半導體 | □ 量子點半導體 | □ 元素半導體（Si、Ge等） | □ 金屬-有機框架（MOF） | □ 二維材料 |
| □ 寬帶隙第三代半導體 | □ 鈣鈦礦材料 | □ 化合物半導體（InGaAs等） | □ 共價有機框（COF） | □ 其它半導體材料 |
▌ 規格型號
| 規格配置 | 高性能版（E300） | 標配版（S300） | 經濟版（W300） |
| TOF標配功能 | √ | √ | √ |
| Mapping模塊 | 可選 | 可選 | × |
| Lateral-TOF | 可選 | 可選 | × |
* Lateral-TOF： □ 包含顯微系統、探針系統、針對Lateral-TOF的光路及電子部件系統等，具有非標性質，詳情請與銷售專員聯系。 * 可選配置/部件： □ 337nm 納秒氣體激光器； □ 532nm納秒調Q固體激光器； □ 355 nm納秒調Q固體激光器； □ Nd:YAG激光器 1064 nm、532 nm、355 nm、266 nm； □ 可調諧 OPO 激光器，波長范圍：210-2400 nm。 | |||
▌ 測試樣例
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