一、產(chǎn)品概述：

超景深顯微鏡是一種先進(jìn)的光學(xué)顯微鏡，能夠在較大深度范圍內(nèi)獲得清晰的圖像，適用于觀察復(fù)雜樣品的三維結(jié)構(gòu)。它通過特殊的成像技術(shù)，提供比傳統(tǒng)顯微鏡更深的景深，廣泛應(yīng)用于生命科學(xué)、材料科學(xué)和工業(yè)檢測等領(lǐng)域。

本套系統(tǒng)主要用于材料表面形貌的觀察；平面或三維測量。可采用3D觀測模式，對被測物形狀，粗糙度，表面積等進(jìn)行測量，可以做高度，寬度，橫截面，角度，R值，表面積，體積，線粗糙度，面粗糙度等的測量分析。同時可以做材料斷口、金相的觀測,陶瓷，微流道，微加工，現(xiàn)代加工制造,MEMS研究，微納制造等。

二、設(shè)備用途/原理：

·設(shè)備用途

超景深顯微鏡主要用于生物樣品、材料表面及微結(jié)構(gòu)的觀察和分析。常見應(yīng)用包括細(xì)胞形態(tài)學(xué)研究、材料缺陷檢測、電子元件的分析等。它能夠幫助研究人員更好地理解樣品的三維特性，提高分析的準(zhǔn)確性和效率。

·工作原理

超景深顯微鏡采用多焦點成像技術(shù)，通過獲取多個焦平面上的圖像，并利用圖像處理算法合成出一個具有更大景深的清晰圖像。這種方法允許用戶在一個圖像中同時觀察到樣品的多個層次，消除了因焦平面限制而導(dǎo)致的細(xì)節(jié)丟失。通過這種技術(shù)，用戶可以更全面地分析樣品的微觀特征，提升觀察效果。

三、主要技術(shù)指標(biāo)：

1. 光源類型：≤404nm半導(dǎo)體激光

2. X/Y方向測量顯示分辨率：1nm

3. Z向測量顯示分辨率：0.5 nm                  

4. 面掃描速度：≥125Hz、線掃描速度：≥7900Hz          

5. 角度特性：穩(wěn)定測量傾角≥87.1度的斜面

6.XY載物臺電動運行范圍：≥100mm*100mm