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化工儀器網>產品展廳>光學儀器及設備>電子顯微鏡>透射電子顯微鏡(透射電鏡/TEM)> 300 kV冷凍透射電鏡 Krios G4 Cryo-TEM

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300 kV冷凍透射電鏡 Krios G4 Cryo-TEM

具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱 賽默飛電子顯微鏡
  • 品牌 FEI/賽默飛
  • 型號
  • 產地
  • 廠商性質 生產廠家
  • 更新時間 2024/8/28 13:59:30
  • 訪問次數 1745

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聯系我們時請說明是化工儀器網上看到的信息,謝謝!


FEI公司,2016年被賽默飛世爾科技收購,成為賽默飛材料與結構分析(MSD) 電鏡事業部,是顯微鏡和微量分析解決方案的創新者和供應商。 我們提供掃描電子顯微鏡SEM,透射電子顯微鏡TEM和雙束-掃描電子顯微鏡DualBeam FIB-SEM,結合先進的軟件套件,運用廣泛的樣本類型,通過將高分辨率成像與物理、元素、化學和電學分析相結合,使客戶的問題變成有效可用的數據。

掃描電子顯微鏡,雙束電鏡,透射電子顯微鏡,冷凍電鏡,X射線光電子能譜儀,三維可視化軟件

價格區間 面議 儀器種類 熱場發射
應用領域 環保,化工

Thermo Scientific 這臺新型已獲獎Krios G4冷凍透射電子顯微鏡 (Cryo-TEM)可以使您在分子水平上地更簡單,更快以及更穩定地揭示生命。 Krios G4 Cryo-TEM是同類產品種緊湊型的TEM。它由高度穩定的 300 kV 透射電鏡平臺和行業自動上樣器(冷凍樣品自動操作裝置)組成。這使得Krios G4 Cryo-TEM非常適合自動化應用如 單顆粒分析 (SPA), 冷凍電子斷層掃描 (cryo-ET)  和 和微晶電子衍射 (microED)

通過對機械底座框架和設備外殼進行全面地重新設計,使得顯微鏡的高度降低至 3 m 以內,適用于天花板高度為 3.04 m(約 10 ft)的實驗室,從而避免了昂貴的實驗室改造費用。內置連通性設計確保整個工作流程穩健無風險,包括從樣品制備和優化到圖像采集和數據處理。

300 kV冷凍透射電鏡 Krios G4 Cryo-TEM以破紀錄的分辨率解析結構

Krios G4 Cryo-TEM 配備以 Thermo Scientific E-CFEG , Thermo Scientific Selectris 和 Selectris X 成像過濾器,以分辨率,速度及便捷性推動了冷凍電鏡的發現工作。

E-CFEG 是一種冷場發射槍,其具有的窄能散度可產生更高對比度的圖像并實現原子分辨率。這個附加元件使其可以有效地以 2.0 ? 或更小的分辨率解析結構。

Selectris 成像過濾器提供穩定性、便利性和性能。搭配以Thermo Scientific Falcon 4i 直接電子探測器,這兩個附加件使得可比上一代產品快達10倍的速度獲取更高質量圖像。

發表在 Nature 雜志上的一篇文章詳細介紹了結構生物學家如何使用配備了 Selectris 成像過濾器原型的 Krios Cryo-TEM,以分辨率研究蛋白質結構。獲得了儲鐵蛋白去鐵鐵朊 1.2 ? 分辨率的結構和 1.7 ? 分辨率的 GABA A 型受體相關蛋白結構,并在其蛋白關鍵部分獲得了更高的分辨率

使用 Thermo Scientific Krios G4 Cryo-TEM 以破紀錄的分辨率解析更多有機結構。通過創新升級提高您實驗室的生產力和性能。

Human Technopole 建立了一套新的冷凍電子顯微鏡 (cryo-EM) 機構,使科學界可以廣泛使用cryo-EM。這個先進的機構配備了多種儀器,包括 Thermo Scientific Krios G4 Cryo-TEM、Glacios Cryo-TEMTalos L120C TEM、Aquilos 2 Cryo-FIBSpectra 300 S/TEM。

優勢

300 kV冷凍透射電鏡 Krios G4 Cryo-TEM可更容易適配新建或者現有的實驗室。

可更容易適配新建或者現有的實驗室。

重新設計的內部底座框架和系統外殼將高度降至 3 m (10 ft) 以下,同時提高了系統性能并避免了昂貴的實驗室改造費用。

原子分辨率性能

原子分辨率性能

選配的配備有Falcon 4i 直接電子探測器和 E-CFEG 冷場發射源的 Selectris X 成像過濾器可提高圖像對比度,以在更短時間內使圖片達到更高分辨率。

通過軟件自動化實現生產力大化

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高級性能監控確保了自動化運行的最佳光學起點,并且 EPU 軟件能夠實現網格自動化篩選、質量監控和數據管理。

工作流程連通性

工作流程連通性

上樣盒的設計,使其換樣簡單。這使得可以在配備有自動上樣器的TEM設備間輕松切換樣品。并配備Athena軟件用于管理實驗參數和數據。


主要特點

了解Falcon 4i 直接電子探測器對產能的影響,它比往代產品的曝光時間縮短了10倍。

無像差圖像移位 (AFIS) 是一種光學模式,可在不影響圖像質量的情況下加快數據采集速度。AFIS 執行大光束位移時不會產生離軸彗差和像散。

使用無邊緣效應成像 (FFI) 可在每個樣品區采集更多的圖像,從而提高了圖片采集的日產出。 聽聽 FFI 如何幫助 Elizabeth Villa 博士實驗室的日常研究。

通過增強圖片采集設置的自動化,系統遠程監控以優化顯微鏡的使用,可提供質量檢測的實時成像以及數據管理和項目監管,實現對日常工作量大化。

可用于往代 Krios Cryo-TEM 的升級選項

電子源

  • E-CFEG:用于在真正原子分辨率下獲得更高對比度的低能散冷場發射槍

探測器和相機

  • Selectris X 成像過濾器: 適用于原子分辨率冷凍電鏡的零損能量過濾

  • Falcon 4i 直接電子探測器

  • Ceta-D microED 探測器

 

軟件和光學模塊

  • 無邊緣效應成像 (FFI) 光學模塊

  • EPU Multigrid 軟件

  • EPU Quality Monitor 軟件

Krios G4

  • 適用于 SPA 和基于結構的藥物設計的制藥專用解決方案

使用 60°C 加熱消殺解決方案加速您的病原體研究

為您的實驗室提供適用于賽默飛世爾科技 Krios G4 冷凍透射電子顯微鏡 (cryo-TEM) 的新型 60°C加熱消殺解決方案。 該附件使得可在更高生物安全級別的封閉實驗室(例如 BSL3)中進行病原體研究和綜合儀器服務,讓您可以幫助世界變得更清潔、更安全和更健康。

性能數據

離子源X-FEG(亮度場發射槍)或低能散冷 FEG (E-CFEG)
加速電壓80-300 kV
冷凍樣品自動上樣器自動且無污染的盒式上樣(最多 12 個載網)
溫度管理軟件包括液氮自動填充和冷卻調度
透鏡
  • 自動聚光鏡、物鏡和 SA 光欄系統

  • 用于自動、連續和平行樣品照明的三聚光透鏡系統

  • 具有寬間隙極靴 (11 mm) 的對稱恒度C-TWIN 物鏡 

載物臺
  • 具有 ±70 度 α 傾斜度的電腦化 4 軸樣品臺

  • 用于優化穩定性和漂移性能的帶單軸支架冷凍式載臺

成像可改變放大倍數的無旋轉成像
先進的性能監控光學顯微鏡狀態自我評估與自動校準相結合,確保實驗在理想條件下進行
實驗室尺寸要求(長 × 寬 × 高)17’ × 22’ × 10’
AFIS(無像差圖像位移)在載網孔之間移動時不會產生彗差,從而通過縮短松弛時間提高圖像產出
FFI(無邊緣效應成像)通過對每個載網孔進行多次圖像采集從而提高圖像產出
Thermo Scientific EPU 2 軟件
  • 自動樣品篩選和數據采集

  • EPU Multigrid 功能

附加組件
  • 三臺 24” 顯示器

  • 手動面板,放置在距離支柱 15 米以內的位置或最多延伸至距離支柱 300 米的位置(選配)

探測器(選配)
  • Falcon 4i 直接電子探測器

  • Thermo Scientific Ceta D 相機

  • Thermo Scientific Ceta 16M 相機

  • HAADF STEM 探測器

  • 軸上 BF/DF 探測器

能量過濾器(選配)
  • Selectris 成像過濾器

  • Selectris X 成像過濾器

  • Gatan BioContinuum 能耗過濾器 

其它選項
  • Cs 圖像校正器

  • Thermo Scientific 相位板解決方案




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