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CIF-TEM 透射电镜样品杆清洗机

具体成交价以合同协议为准

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深圳市矢量科学仪器有限公司是集半导体仪器装备代理及技术服务的高新技术企业。

致力于提供半导体前道制程工艺装备、后道封装装备、半导体分析测试设备、半导体光电测试仪表及相关仪器装备维护、保养、售后技术支持及实验室整体服务。

公司目前已授实用新型权利 29 项,软件著作权 14 项,是创新型中小企业、科技型中小企业、规模以上工业企业。








冷热台,快速退火炉,光刻机,纳米压印、磁控溅射,电子束蒸发

一、产品概述:

透射电镜样品杆清洗机是一款专为透射电子显微镜(TEM)样品准备而设计的高效清洗设备。该机采用先进的清洗技术,通过超声波和化学溶剂的结合,能够有效去除样品杆表面的有机污染物、灰尘和其他杂质,确保样品在显微观察中的清洁和高质量成像。透射电镜样品杆清洗机具有自动化控制系统,操作简单便捷,并且可根据不同样品材料和清洗需求进行参数调节。广泛应用于材料科学、纳米技术和生物医学等领域,为研究人员提供可靠的样品处理解决方案,提高实验结果的准确性和重现性。

CIF透射电镜(TEM)样品杆清洗机采用远程离子清洗源设计,清洗快速高效,低轰击损伤,同时可实现常规等离子清洗。主要用于TEM透射电镜样品杆的等离子体清洗和真空检漏。

二、设备用途/原理

·设备用途

透射电镜样品杆清洗机主要用于清洗透射电子显微镜(TEM)样品杆,以去除其表面的有机污染物、灰尘和其他杂质,确保样品在显微观察中的清洁与高质量成像。该设备广泛应用于材料科学、纳米技术和生物医学等研究领域,提升实验结果的准确性和重现性。

·工作原理

该设备通常采用超声波清洗和化学溶剂相结合的方式进行清洗。首先,样品杆被放置在清洗槽中,清洗液通过超声波振动产生细小气泡,这些气泡在破裂时能够有效去除样品表面的污染物。同时,清洗液中的化学成分进一步分解和溶解杂质。清洗过程能够均匀、全面地处理样品杆,确保其表面达到所需的清洁度,以提高透射电子显微镜的成像质量和分析准确性。

三、主要技术指标:

产品型号

CIF-TEM

等离子电源

13.56MHz射频电源,射频功率5-120W可调,

远程等离子源,自动匹配器

清洗室

清洗室尺寸?180xH100mm

清洗数量

可同时清洗3支TEM样品杆

适配品牌

THERMO FISHERFEI)、日立HITACHI、捷欧路JEOL

气体控制

标配单路质量流量计(MFC)可选双路。50毫升/分,自动控制气体流量,不会受环境温度和压力变化影响

气源选择

根据需求氧气、氩气、氮气、氢气等多种清洗气源选择

真空控制

质量流量计(MFC),皮拉尼真空计,测量范围1E-5Torr

操控方式

7寸全彩触摸屏控制,中英文互动操作界面

真空泵

前级泵

抽气速率2 L/s

分子泵

极限真空:CF:5x10-6Pa,ISO-K: 3x10-5Pa

分子泵抽速 >80L/s (N2)

入口法兰:DN100CF/DN100 ISO-K  

质量保证

二年质保,终身维护

   源

220V,50/60Hz,300W

四、产品特点

1. 远程离子清洗源

2. 一机多用

3. 清洗快速高效,低轰击损伤          




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