主要優(yōu)點(diǎn)&特點(diǎn)：
1、更高的靈活性
為廣大用戶群體提供全遠(yuǎn)程自動(dòng)操作的、具備表征超大納米尺度范圍的工具。
*納米材料的發(fā)展和設(shè)計(jì)需要在超大納米尺度范圍上進(jìn)行表征。
Xeuss 3.0具備這樣的測(cè)試能力，通過自動(dòng)改變配置，采集的散射矢量q可跨越5個(gè)數(shù)量級(jí)。
因此，對(duì)于給定的單個(gè)或批量樣品，任何經(jīng)過培訓(xùn)的用戶都可以在完整的測(cè)量范圍內(nèi)遠(yuǎn)程操作系統(tǒng)。
可自動(dòng)更改的測(cè)量設(shè)置包括：
- Q-Xoom通過探測(cè)器的自動(dòng)平移來改變測(cè)量分辨率 
- 使用Bonse Hart USAXS模塊可以實(shí)現(xiàn)連續(xù)的SAXS/USAXS測(cè)量
- X光源能量可選，提供3個(gè)可選光源
- 用于原位SWAXS研究的可移動(dòng)WAXS探測(cè)器

+ Q-Xoom在真空環(huán)境中移動(dòng)探測(cè)器
Q-Xoom–享受全范圍計(jì)算機(jī)控制探測(cè)器行程的靈活性
- 特性：探測(cè)器在真空中沿光路自動(dòng)移動(dòng)1 ~ 4米（取決于所選型號(hào)）
- 虛擬探測(cè)器的探測(cè)面積大于200 x 200 mm²
- 在實(shí)驗(yàn)過程中，遠(yuǎn)程操作和實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)顯示（二維和一維），減少了停機(jī)時(shí)間，優(yōu)化您的實(shí)驗(yàn)過程
- 將樣品放在固定位置為樣品環(huán)境留出空間
- 在真空中用純凈光、無窗探測(cè)器測(cè)試或在空氣中用X-Cones進(jìn)行測(cè)試

+ 自動(dòng)的Bonse-Hart USAXS模塊
測(cè)量尺度可達(dá)4.5微米，并獲取納米尺度信息
- 內(nèi)外移動(dòng)的分析晶體可確保在同一個(gè)樣品上USAXS和SAXS能夠自動(dòng)連續(xù)采集
- 高質(zhì)量SAXS和USAXS數(shù)據(jù)合并
- 無需人工操作或儀器重置
- USAXS和SAXS/WAXS入射光在一條直線上，故無需移動(dòng)樣品

+ 多種光源
對(duì)任何種類樣品(吸收，熒光，特征尺寸)的實(shí)驗(yàn)進(jìn)行優(yōu)化
- 在自動(dòng)切換光源時(shí)儀器可自動(dòng)校準(zhǔn)光路
- 多達(dá)3個(gè)光源模塊 （Cu, Mo, Cr）可以與Ga MetalJet光源一起使用
- 不同光源的高精度切換，確保不同波長對(duì)同一樣品的連續(xù)測(cè)量

2、高性能
Xeuss 3.0實(shí)驗(yàn)裝置靈活，用于測(cè)試各種樣品
尤其，以下關(guān)鍵特點(diǎn)使用戶得以優(yōu)化實(shí)驗(yàn)和結(jié)果:
- 高光通量設(shè)置和內(nèi)置低背景無噪音探測(cè)器，適合快速動(dòng)力學(xué)測(cè)試
- 探測(cè)器從WAXS位置自動(dòng)移動(dòng)到遠(yuǎn)距離的SAXS位置，且在任意位置均可探測(cè)大面積圖譜，以優(yōu)化分辨率和信噪比
- 遠(yuǎn)距離的SAXS設(shè)置可測(cè)量大特征尺寸樣品(> 300 nm)
- 可選的USAXS模塊進(jìn)行超大結(jié)構(gòu)表征(> 4 μm)

- 單個(gè)二維探測(cè)器可采集的q_max優(yōu)于49nm^-1

+ 無beamstop數(shù)據(jù)采集高動(dòng)態(tài)范圍SAXS數(shù)據(jù)
- 杜絕來自Beamstop邊緣或探測(cè)器窗口膜的寄生散射，使低q處的散射信號(hào)不受干擾
- 在采集過程中同時(shí)記錄直通光和樣品散射信號(hào)，得到精確的透射強(qiáng)度，用于獲取精確的強(qiáng)度校正
- 采集的直通光信號(hào)將整合到數(shù)據(jù)分析軟件（XSACT），提高解析結(jié)果的準(zhǔn)確性

+ 純凈光技術(shù)
- 作為一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的解決方案，Xeuss 3.0集成低維護(hù)成本的高性能微聚焦光源，亮度達(dá)到了之前高功率旋轉(zhuǎn)陽極靶光源才能實(shí)現(xiàn)的水平。
現(xiàn)在實(shí)驗(yàn)室中就可進(jìn)行諸如動(dòng)力學(xué)研究或稀釋樣品的納米粒子形狀分析的高級(jí)實(shí)驗(yàn)。另外，通過結(jié)合Xenocs公司的X射線光束和自動(dòng)無散射準(zhǔn)直系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)高分辨率（光束Δq低），這對(duì)研究大特征尺寸的樣品或進(jìn)行準(zhǔn)確中間相的分析都非常重要。
通過以下組合實(shí)現(xiàn)高光通量和高分辨率：
- 持久的高亮度微聚焦光源
- 具有高立體采集角的單次反射多層膜光學(xué)聚焦鏡
- 樣品和探測(cè)器上光束尺寸二維可控

為了保證X射線散射的測(cè)試質(zhì)量，包括稀釋的或?qū)Ρ榷鹊偷臉悠罚?span style="padding: 0px; margin: 0px; box-sizing: border-box; max-width: 100%;">Xeuss 3.0將10多年研發(fā)的高光通量和低噪音技術(shù)相結(jié)合。
主要集成功能包括：
- 從聚焦鏡到探測(cè)器傳感層的全真空系統(tǒng)
- 第三代無散射準(zhǔn)直 （于2008年由Xenocs引入市場(chǎng)）
- 真空中運(yùn)行的無窗口探測(cè)器
- 混合像素光子計(jì)數(shù)探測(cè)器
- 宇宙背景自動(dòng)扣除技術(shù)，減少環(huán)境寄生散射的影響

配備MetalJet光源，用于非常快的動(dòng)力學(xué)研究

+ Q-Xoom具有非常大的探測(cè)面積
Q-Xoom采用電腦控制探測(cè)器全程移動(dòng)，自動(dòng)調(diào)節(jié)樣品到探測(cè)器距離，優(yōu)化實(shí)驗(yàn)。
虛擬探測(cè)器增強(qiáng)測(cè)試能力：在任意的樣品到探測(cè)器距離下，結(jié)合圖譜重構(gòu)技術(shù)，任何規(guī)格的探測(cè)器的采集面積都將大于200 mm² x 200 mm²。
超大探測(cè)面積有利于優(yōu)化各向異性樣品信號(hào)的方位角覆蓋，還有利于高分辨率測(cè)試，例如在距離樣品較遠(yuǎn)處用偏置的探測(cè)器采集到更大的散射矢量，以表征較小的尺度。

3、樣品空間大
Xeuss 3.0的超大樣品腔有利于固定實(shí)驗(yàn)過程中的樣品，這是目前以至今后的理想的X射線散射平臺(tái)儀器。
*材料的研究和表征需要集成特定的或定制的樣品環(huán)境。由于其*的線站理念，Xeuss 3.0非常適用于這種新項(xiàng)目。
包括：
- 在測(cè)試過程中樣品在大樣品腔中保持固定（軸方向可持續(xù)觀察樣品，智能集成用戶自定義樣品環(huán)境）
- 樣品臺(tái)的長距離平移可用于空間分布掃描和批量測(cè)試
- 多種標(biāo)準(zhǔn)樣品環(huán)境，并具備樣品臺(tái)識(shí)別功能