NANOTRAC WAVE II Zeta電位及納米粒度分析儀

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激光粒度儀 Zeta電位儀納米粒度分析儀價格供應納米粒度分析儀 Microtrac MRB

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深圳市錫成科學儀器有限公司自成立以來，一直秉承誠信經營的理念，充分考慮客戶的技術需求及資金預算，為廣大客戶推薦合適的產品及服務。

我們自研及代理的國內外多種儀器設備，已廣泛應用于材料、電子、新能源、建筑、環保及化工等領域，用戶涵蓋各類高校、研究所、企業實驗室和質檢部門等。在樣品制備、分析測試、材料及器件的性能表征等方面，深受用戶認可。

我們將一如既往，努力為客戶提供完善的實驗室一站式服務。

展開

臺階儀，光學輪廓儀，電化學工作站，納米壓痕儀，力電聯測材料試驗機，介電溫譜測量系統，電阻測試儀，原子力顯微鏡，光學顯微鏡

NANOTRAC WAVE II Zeta電位及納米粒度分析儀采用先進的“Y”型光纖探針光路設計，配置膜電極產生微電場，操作簡單，測量迅速。

無需精確定位由于電泳和電滲等效應導致的靜止層，無需外加大功率電場，無需更換分別用于測量粒度和Zeta電位的樣品池，消除由于空間位阻（不同光學元器件間的傳輸損失，比色皿器壁的折射和污染，比色皿位置的差異，分散介質的影響，顆粒間多重散射等）帶來的光學信號的損失，結果準確可靠，重現性好。

Zeta電位及納米粒度分析儀技術參數

測量原理：動態光散射法

Zeta電位測量：膜電極設計與“Y”型探頭形成微電場測量電泳遷移率

分子量測量：水力直徑或德拜曲線

測量范圍：0.3 nm - 10 µm

檢測角度：180°

重復性：±1%

Zeta電位范圍：-200mV~+200mV

Zeta粒徑范圍：10nm~20μm

電泳遷移范圍：0 - 15 (µm/s) / (V/cm)

電導率范圍：0 - 10 mS / cm

分子量范圍：<300 da="" -="">20 x 106 Da

控溫范圍：+4°C ~ +90°C

溫度精度：±0.1℃

Zeta測量重復性：±3%

Nanotrac Flex：180°動態光背散射

Nanotrac Wave II：動態光背散射

粒徑與粒形分析方法