極紫外平面反射鏡
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- 公司名稱 上海激譜光電有限公司
- 品牌 Edmund Optics
- 型號
- 產地
- 廠商性質 經銷商
- 更新時間 2024/11/27 17:25:12
- 訪問次數 431
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極紫外平面反射鏡通用規格:
直徑 (mm):
25.40 ±0.25
表面平整度 (P-V):
λ/10 @ 632.8nm
基底:
Single Crystal Silicon
涂層:
Mo/Si Multilayer
Top Layer: Silicon
Top Layer: Silicon
鍍膜類型:
Metal/Semiconductor
表面粗糙度(埃):
<3 RMS
厚度 (mm):
6.35 ±0.508
厚度容差 (mm):
0.508
產品編碼 | Dia. (mm) | 表面平整度 (P-V) | 基底 |
38-759 | 25.40 ±0.25 | λ/10 @ 632.8nm | Single Crystal Silicon |
38-760 | 25.40 ±0.25 | λ/10 @ 632.8nm | Single Crystal Silicon |
極紫外平面反射鏡是多層反射鏡,在其設計波長和入射角下實現最大反射率。這些反射鏡的特點是反射涂層沉積在一個超拋光的單晶硅基板上,表面粗糙度小于3? RMS. 45°自動光學檢驗反射鏡可用于轉向s偏振光束,而 5° 自動光學檢驗反射鏡可用于非偏振光束. 極紫外線反射鏡的應用包括相干衍射成像 (CDI) 和材料科學研究。紫外平面反射鏡也可用作高次諧波 (HHG) 光束的諧波選擇器.
注意: 附帶每個反射鏡運行樣本的測試數據.