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化工儀器網>產品展廳>半導體行業專用儀器>工藝測量和檢測設備>光學薄膜測量設備>FR-ES 精簡薄膜厚度測量儀

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FR-ES 精簡薄膜厚度測量儀

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薄膜測厚儀

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岱美儀器技術服務(上海)有限公司(Dymek Company Ltd ,下面簡稱岱美)成立于1989年,是一間擁有多年經驗的高科技設備分銷商,主要為數據存儲、半導體、光通訊、高校及研發中心提供各類測量設備、工序設備以及相應的技術支持,并與一些重要的客戶建立了長期合作的關系。自1989年創立至今,岱美的產品以及各類服務、解決方案廣泛地運用于中國香港,中國大陸(上海、東莞、北京),中國臺灣,泰國,菲律賓,馬來西亞,越南及新加坡等地區。


岱美在中國大陸地區主要銷售或提供技術支持的產品:

晶圓鍵合機、納米壓印設備、紫外光刻機、涂膠顯影機、硅片清洗機、超薄晶圓處理設備、光學三維輪廓儀、硅穿孔TSV量測、非接觸式光學三坐標測量儀、薄膜厚度檢測儀、主動及被動式防震臺系統、應力檢測儀、電容式位移傳感器、定心儀等。


岱美重要合作伙伴包括有:

Thetametrisis, EVG, FSM, Opto-Alignment, Herz, PLSINTEC, Film Sense, Reditech, Lazin, Delcom, Microsense, Shb, boffotto, RTEC, Kosaka, Nanotronics, MTInc, 4D, Daeil, Microphysics,

n&k Technology, First Nano, Schmitt, LESCO, Otsuka, STI, Kurashiki, Ryokosha, SURAGUS, Westbond...


如有需要,請聯系我們,了解我們如何開始與您之間的合作,實現您的企業或者組織機構長期發展的目標。




膜厚儀,輪廓儀,EVG鍵合機,EVG光刻機,HERZ隔震臺,Microsense電容式位移傳感器

FR-ES: 精簡薄膜厚度測量特性分析系統

FR-ES 是一款輕巧便捷膜厚測量分析系統。 使用 FR-ES,用戶可以在 370-1020nm 光譜范圍內進行反射率和透射率測量。


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FR-ES 機型提供出色的膜厚測量分析性能。可用于各種不同的應用,例如:薄膜厚度、折射率、顏色、透射率、反射率等等.

FR-ES 機型提供三種波長范圍配置: VIS/NIR (370- 1020nm, NIR-N1 (850-1050nm), NIR (900-1700nm).

Then, there is a wide range of Accessories, such as:

§ 濾光片可阻擋某些光譜范圍內的光

§ FR-Mic 提供微米級別區域進行測量

§ 手動載物臺100x100mm或 200x200mm

§ 薄膜/比色皿支架用于吸光度/透射率和化學濃度測量的薄膜/比色皿支架

§ 積分球用于漫反射和全反射反射率測量


通過不同模塊的組合設置滿足任何最終用戶的需求

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