Dimension FastScan 原子力显微镜 (AFM)在不损失Dimension® Icon®分辨率的仪器性能前提下，大限度的成像速度。这项技术，解决了AFM成像速度慢的难题，大大缩短了各技术水平的AFM用户获得数据的时间。
       AFM使用效率和检测性能，Bruker开发了这套快速扫描系统，不降低分辨率，不增加操作复杂性，不影响仪器使用成本的前提下，帮助用户实现了利用Dimension快速扫描系统，即快速得到高分辨高质量AFM图像的愿望。当您对样品进行扫描时，设置实验参数为扫描速度 > 125Hz，还是在大气下或者溶液中1秒获得一张AFM图像，都能得到优异的高分辨图像。快速扫描这一技术重新定义了AFM仪器的操作和功能。。聚合物材料表征，集成光路测量，材料力学性能表征，MEMS制造，细胞表面形态观察，生物大分子的结构及性质，数据存储，金属/合金/金属蒸镀的性质研究，食品、化学品、护肤品的加工/包装，液晶材料性能表征，分子器件，生物传感器，分子自组装结构，光盘存储，陶瓷工艺，薄膜性能表征，地质、能源、环境等领域的监测等各类科研和生产工作

仪器检测性能

·  在空气或液体中成像速度是原来速度的100倍，自动激光调节和检测器调节，智能进针，大大缩短了实验时间。
·  自动测量软件和高速扫描系统结合，大幅高了实验数据的可信度和可重复性。

测量分辨率
·  Fastscan的力控制模式图像分辨率的同时，延长了探针的使用寿命。
·  扫描速度20Hz时仍能获得高质量的TappingModeTM图像，扫描速度6Hz仍能获得高质量的ScanAsyst图像。
·  低噪音，温度补偿传感器展现出亚埃级的噪音水平。

测试功能，适用于各类AFM样品
·  闭环控制的Icon和FastScan的扫描器降低了Z方向噪音，使它们Z方向的噪音水平分别低于30pm和40 pm，具有超低的热漂移率，可得到分辨的真实图像。
·  Fast Scan可以对不同样品进行测量，扫描过程中从埃级到0.1μm的无失真扫描。

不论您选择Icon扫描器获得超低噪音和分辨率的图像，还是选择Dimension FastScan AFM的扫描器进行高速扫描检测，Dimension FastScan AFM系统都会帮助您将仪器的功能开发到大程度，实现其它单一模式的仪器所达不到的效果。