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BW-AH-5520 半導體高精度自動溫度實驗系統

具體成交價以合同協議為準

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陜西博微電通科技有限責任公司是一家致力于高精度半導體測試設備、電力電子設備、電池安全管理系統及電力儲能解決方案的研發、生產、銷售的高科技企業。

公司位于古城西安西咸新區灃東新城能源金貿區,地理位置環境*,依托西安眾多高校及研究所,公司擁有一批高素質人才隊伍,從軟件開發、硬件設計、系統集成、產品升級迭代及售后服務均由專業技術人員完成,多年來公司與深圳、西安、杭州等多家高科技企業合作開發出針對半導體測試、電力電子、能源管理系統系列產品,經過技術迭代,產品功能全面,產品質量可靠,市場口碑優秀。

   公司注重產品質量注重客戶服務滿意度及產品體驗每一款產品出廠前都經過嚴格的檢驗或第三方機構監測,并持續優化產品功能、根據客戶需求定制或迭代升級產品。我們秉承“博厚共贏、服務入微”理念竭誠為每一位客戶提供可靠的、高品質的產品與服務幫助解決客戶實際使用痛點,開發難點,節約生產成本提高工作效率,助力行業發展。

半導體測試系統:(Semiconductor test system)

針對Si/SiC/GaN材料的IPM/IGBT/MOS/DIODE/BJT/SCR等功率器件、光耦、IC半導體測試產品,廣泛應用于半導體企業測試計量、封裝測試、IDM測試、晶圓測試、DBC測試以及科研教學、智能電力、軌道交通、新能源汽車、白色家電等元器件應用端產業鏈的來料檢驗、器件選型及科研及院所、實驗室的數據驗證分析和研發指導等。

半導體測試設備可針對Si/SiC/GaN材料的IPM/IGBT/MOS/DIODE/BJT/SCR等功率器件、光耦、IC可進行高精度靜態參數測試(包括導通、關斷、擊穿、漏電、增益等直流參數)測試精度可達16位ADC;動態雙脈沖(包括Turn_ON_L/Turn_OFF_L/FRD/Qg)及Rg/UIS/SC/C/RBSOA測試等;環境老化測試(包括HTRB/HTGB/H3TRB/Surge/間歇壽命IOL/功率循環PCT3000 )及熱特性測試(包括PC/TC/Rth/Zth/Kcurve等)半導體器件測試設備/雪崩耐量測試UIS、二極管浪涌測試IFSM、熱阻測試、晶閘管直流參數測試SCR、安全工作區正偏/反偏/短路安全工作區測試SOA,各類型探針臺、高精度高低溫箱及分立器件分選機系統等。

電池安全管理及儲能:(Battery safety management and energy storage system)

電池安全管理系統主要是針對電池、蓄電池組、儲能系統安全及應用電池全生命周期系統解決方案,主要產品覆蓋儲能電池BMS、后備電池BMS、動力電池BMS和電池監控數據平臺等,產品廣泛應用于儲能,云計算,數據中心,通信網絡,軌道交通,以及商業和工業設施關鍵電源領域,將成為國家綠色能源轉型重要系統保障。

 

 

半導體測試設備,功率器件可靠性測試,熱特性安全測試,儲能及電力能源安全管理系統

價格區間 10萬-30萬 應用領域 能源,電子,航天,汽車,電氣

BW-AH-5520

半導體高精度自動溫度實驗系統


產品名稱:半導體高精度自動溫度實驗系統

品牌:博微電通

名稱:半導體高精度自動溫度實驗系統

型號:BW-AH-5520

用途:BW-AH-5520半導體高精度自動溫度實驗系統采用特殊的結構設計,保證待測元器件區域溫度高穩定度及均勻度。采用雙高精度 RTD 溫度傳感器進行精密控溫及過溫保護,并具有多重保護功能,可以對器件在不同溫度下的性能進行精密測量分析及篩選。

產品電氣參數

配置規格

外形尺寸: 55W*95D*120H (cm)

產品質量:<200kg

電網環境:380VAC/50Hz,3 相 5線,35A/相

溫度范圍:-55°C~150°C(水冷式或風冷式)    -65°C~150°C(LN2制冷)     200°C(選配)

溫度精度: +/-0.1°C (-55°C~150°C)    +/-0.8°C (150°C~200°C)   溫度分辨率: 0.01°C

測試圈:4英寸/8英寸;工位數:49/98個

制冷機組:法國泰康

制冷方式:MR機械制冷(風冷/水冷)或LN2制冷

蓋子高度:10cm(4”標配)  15cm/20cm(6”& 8”選配)

遠程接口:RS-232/Ethernet

顯示控制: 7”高清電容觸摸屏

冷卻水RCW:17-25°C軟化水    壓力:0.3-1MPa    流量:8升/分鐘

產品特點

1、創新性的圓形內腔軸對稱設計,循環氣流控制,保證待測器件區域溫度的高精密穩定度及均勻度。

2、適用于DIP, SMD等各種封裝的小型電子元件、分立器件、集成電路等精密在線高低溫測試。

3、精密步進電機驅動實現自動過程測試(Leaded驅動環)。

4、根據待測器件封裝形式及規格可自定義溫測圈的工位。

5、測試試驗箱測試腔體上蓋可以自動電動升降,方便取放溫測圈,保障測安全。

6、每批次器件測量同配置參數、同工位、同溫度測點、精確測量器件的溫度特性,參數可進行批次同比環比分析。

7、配置RS-232接口及Ethernet接口,可實現遠程自動控制。

可針對以下封裝的半導體器件進行高精度自動溫度實驗測量

(1)石英晶體諧振器、振蕩器

(2)電阻、電容、電感

(3)二極管、三極管、場效應管(MOSFET)、IGBT、SCR

(4)光電耦合器

(5)MEMS

(6)聲表面波器件(SAW Device)

(7)集成電路

BW-AH-5520半導體高精度自動溫度實驗系統具備風冷式,水冷式,液氮制冷式冷卻方式;主要是用來對各種元器件及芯片等性能參數在全溫度范圍內、實現精密在線測試。






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