SE-VM光譜橢偏儀03090802

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北京鴻瑞正達科技有限公司—實驗室整體建設解決方案集成者：
鴻瑞正達主要服務于高等院校、科研院所和研發企業，專注于科研領域，助力科研成果轉化。公司提供材料研究成套設備及整套解決方案，包括：高壓科學材料、金屬材料、電池研發、地質地礦材料、脆性材料、薄膜材料等研究領域的科研成套設備。

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實驗室設備，材料科學，質譜儀，電化學，電池，催化

產品簡介： SE-VM是一款高精度快速測量光譜橢偏儀。可通過橢偏參數、透射/反射率等參數的測量，快速實現光學參數薄膜和納米結構的表征分析，適用于薄膜材料的快速測量表征。支持多角度，微光斑，可視化調平系統等高兼容性靈活配置，多功能模塊定制化設計。

高精度橢偏測量解決方案；超高精度、快速無損測量；支持多角度、微光斑、可視化調平系統功能模塊靈活定制；豐富的數據庫和幾何結構模型庫，保證強大數據分析能力。廣泛應用于鍍膜工藝控制、tooling 校正等測量應用,實現光學薄膜、納米結構的光學常數和幾何特征尺寸快速的表征分析。

產品型號	SE-VM 光譜橢偏儀
主要特點	1、采用高性能進口復合光源，光譜覆蓋可見到近紅外范圍(380-1000nm) 2、高精度旋轉補償器調制、 PCRSA 配置，實現Psi/Delta光譜數據高速采集
	3、支持系列配置靈活，可根據不同應用場景支持多功能模塊化定制
	4、數百種材料數據庫、多種算法模型庫，涵蓋了目前絕大部分的光電材料
技術參數	1、自動化程度：手動變角 2、應用定位：通用型

	3、基本功能： Psi/Delta、N/C/S、R/T 等光譜
	4、分析光譜 380-1000nm(可擴至210-1650nm) 5、單次測量時間： 0.5-5s 6、重復性測量精度： 0.01nm
	7、光斑大小：大光斑 2-3mm,微光斑 200 μm
	8、入射角調節方式：手動變角 9、入射角范圍： 55-75°(5°步進),90° 10、找焦方式：手動找焦
	11、Mapping 行程：不支持
	12、支持樣件尺寸：至 180mm
可選配件	1	溫控臺
	2	Mapping 擴展模塊
	3	真空泵
	4	透射吸附組件