QUASAR-R100系列 反射式膜厚儀
具體成交價以合同協議為準
- 公司名稱 北京愛蛙科技有限公司
- 品牌 晶諾微
- 型號 QUASAR-R100系列
- 產地
- 廠商性質 代理商
- 更新時間 2024/4/2 17:12:36
- 訪問次數 153
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反射式膜厚儀 QUASAR-R100系列
反射式膜厚儀 QUASAR-R100 是一款體積小巧的光譜反射式膜厚、折射率等測量儀器，操作簡單，極易上手，應用廣泛，快速準確的提供各種薄膜厚度的測量，如氧化物、氮化物、多晶硅、非晶硅、聚酰亞胺、透明導電層、光刻膠等介質薄膜、半導體薄膜以及各種涂層。廣泛應用于半導體、太陽能、LED、OLED、液晶、聚合物鍍膜及科研實驗室鍍膜等領域。反射式膜厚儀QUASAR-R100軟件還擁有豐富的的材料數據庫。客戶還可以通過軟件及自帶數據庫對材料，菜單進行管理，并具有豐富的數據查看、統計功能。
反射式膜厚儀 QUASAR-R100產品的特點
~多參數測量
可測量材料厚度、折射率（Refractive Index）、 消光系數（Extinction Coefficient）和反射率。
~各種形狀樣品測量
可測量例如4~8英寸的晶圓、方形樣品或其他各種不規則形狀樣品。
~軟件功能豐富
友善的用戶界面以及靈活豐富的軟件功能，各種豐富的數據分析及查看功能。
~簡單、易用
測量流程簡單，用戶極易上手建立測量程式。
反射式膜厚儀 QUASAR-R100應用的領域
~半導體鍍膜
~光刻膠
~抗反膜測量
~藍寶石鍍膜
~ITO 玻璃
~液晶面板鍍膜
~太陽能鍍膜
~汽車硬度層厚度
~其他介質膜厚度
反射式膜厚儀 QUASAR-R100 產品的參數規格
型號 | Quasar R100 |
厚度測量范圍 | 15nm~10um |
光源 | 380-1100nm |
測量n和k最小厚度 | 50nm |
準確度（較大者） | 2nm |
or 0.2% | |
精度★(1σ) | 0.02nm |
穩定性★ (1σ) | 0.04nm |
光斑尺寸 | 標準1.5mm |
可選配最小20um | |
樣品大小 | 直徑1mm~3mm，以及更大 |
★Si基底上對厚度約500nm的SiO2薄膜樣品連續測量30次數據的標準偏差
~產品的定制功能
可根據客戶需求搭配自動運動平臺
可根據客戶需求配置小光斑
采購中心
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