產地類別 | 進口 | 價格區間 | 面議 |
---|---|---|---|
應用領域 | 綜合 | 測試下限 | 0.0125um |
探測器 | 大計數率SDD | 平臺操作 | 三維自動平臺 |
一、iEDX-150T(S)薄金鍍層測厚儀主要參數:
1、多鍍層分析,可分析鍍層1~5層(不含基材);
2、測試示值:0.001 μm,最薄可測厚度為0.0125μm;
3、元素分析范圍從鋁(Al)到鈾(U);
4、測量時間:10~30秒可選;
5、SDD探測器,能量分辨率為125eV;
6、探測器Be窗0.5mil(12.7μm);
7、微焦X射線管50kV/1mA,鉬,銠靶(高配微焦鉬靶);
8、標配6個準直器及多個濾光片,且自動切換;
9、XYZ三維全自動移動平臺,荷載最*大為5公斤;
10、高清CCD攝像頭(200萬像素),準確監控位置;
11、多變量非線性去卷積曲線擬合;
12、高性能FP/MLSQ分析;
13、儀器尺寸:618×525×490mm;
14、樣品臺尺寸:230×220mm;
15、樣品臺移動范圍:前后左右各80mm、高度90mm;
16、樣品倉尺寸:395×400×102mm。
二、圖譜界面:
1、軟件支持無標樣分析;
2、寬大分析平臺和樣品腔;
3、集成了鍍層分析界面和合金成份分析界面;
4、采用多種光譜擬合分析處理技術;
5、鍍層測厚分析精度可達到0.001μm。
三、分析報告結果:
1、直接打印分析報告;
2、報告可轉換為PDF,EXCEL格式。
四、iEDX-150T(S)薄金鍍層測厚儀樣品分析圖譜: