下一代探測器技術

SilVIR 探測器結合了兩項先進技術：硅光電倍增管（SiPM）和我們已獲*快速信號處理設計。作為FV4000和FV4000MPE系統核心突破性探測器技術，它可以大大降低噪聲、提高靈敏度和光子分辨能力。

SilVIR探測器技術

硅光電倍增管

探測器的硅光電倍增管由在蓋革模式下運行的多像素雪崩光電二極管（APD）組成。它可同時檢測到隨機入射光子，從而在更寬波長和動態范圍內實現更高的光子檢測效率。它還能提供定量數據 - 輸出脈沖的高度精確地顯示了檢測到的光子數量。

獲得*快速信號處理

我們的數字信號處理采用集成電路設計，在高速模/數（A/D）轉換器中使用了現場可編程門陣列（FPGA）半導體。

SilVIR 探測器還縮短了SiPM衰減曲線，并能根據每個輸出脈沖的高度準確檢測光子數量，同時實現了低于一個光子的極低噪聲。

功能和性能的結合

這些技術的結合實現了最高2,000光子/2 µs的線性和高動態范圍檢測。

在所有波長下的共聚焦成像中，這一探測器的光子檢測效率高于傳統使用的高靈敏度GaAsP PMT探測器。因此，SilVIR探測器能夠實現出色的信噪比（S/N），讓微弱的熒光信號清晰可見。

由于SilVIR 探測器基于半導體技術，因此其靈敏度衰減小，且不同探測器之間的個體差異非常小，有助于確保不同用戶在不同時間內獲得可靠、一致的結果。

即使在微弱熒光下也可獲得高質量的圖像

FV4000和FV4000MPE系統捕獲微弱熒光圖像的能力超越了上一代激光掃描系統。

與傳統的GaAsP-PMT探測器相比，SilVIR 探測器在紫光到近紅外波長范圍內噪聲更低，能夠更有效地探測到光子，從而可提供質量更好的圖像，尤其是在捕獲微弱熒光時。無需調整偏移量，即可拍攝到背景干凈、信號明亮的熒光圖像。更高的靈敏度意味著所需的激光功率更低，從而減少了樣品的光損傷。與我們的共振掃描單元結合使用時，您可以在更短的時間內獲得高質量、快幀率的圖像。

改變游戲規則的圖像定量

SilVIR 探測器技術能夠精確量化圖像強度，從而提供了更可靠的數據。成像數據輸出為光子數，提供了每幅圖像熒光強度的絕對值。即使在高強度水平下，更寬的動態范圍也能通過光子數準確地量化熒光強度。

體驗熒光的全動態范圍

得益于SilVIR 探測器的高動態范圍，FV4000和FV4000MPE顯微鏡無需在暗淡和明亮的熒光區域間做取舍，而是可以同時采集，不會出現信號飽和或弱信號丟失。這樣就能以更少的工作量進行準確的圖像分析和處理。

直觀的用戶界面和工作流程

傳統用于共聚焦成像的光電倍增管不僅需要根據樣品的亮度水平進行電壓調整，還要調整偏移量以降低背景噪聲。要進行這類調整，需要具備專業知識和經驗，才能獲得高質量的共聚焦圖像。

SilVIR 探測器的電壓在出廠時已針對靈敏度和低噪聲進行了優化，因此您無需對電壓和偏移進行任何調整 - 您只需調整激光功率即可達到一定的光子數。由于信噪比（S/N）與光子數成正比，因此只要保持光子數不變，就能保持穩定的圖像質量。