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化工儀器網(wǎng)>產(chǎn)品展廳>常用儀表>電子儀表>電阻測(cè)試儀> EddyCus® map 2530RM電阻率測(cè)試儀

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EddyCus® map 2530RM電阻率測(cè)試儀

具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱 杭州雷邁科技有限公司
  • 品牌 其他品牌
  • 型號(hào)
  • 產(chǎn)地
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 更新時(shí)間 2024/6/8 21:48:44
  • 訪問(wèn)次數(shù) 415

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杭州雷邁科技有限公司(Labmates Technology成立于2010公司致力于實(shí)驗(yàn)室*科學(xué)儀器和工業(yè)專用設(shè)備的研發(fā)、銷售和技術(shù)服務(wù),產(chǎn)品應(yīng)用于新材料、電子、半導(dǎo)體、化工、光伏、玻璃等眾多行業(yè)及高等院校和科研機(jī)構(gòu)。

 

公司主營(yíng)產(chǎn)品包括鐵電材料測(cè)試儀、寬頻介電阻抗譜儀、薄膜壓電測(cè)試儀、3D輪廓儀、顯微CT、光譜分析儀、X射線衍射儀和分光光度儀等分析測(cè)試儀器和設(shè)備。我們關(guān)注科技發(fā)展趨勢(shì)和動(dòng)態(tài),與時(shí)俱進(jìn)引進(jìn)新興功能性材料的分析和表征整體解決方案,已與眾多高校及科研院所建立起技術(shù)交流和合作關(guān)系,以專業(yè)應(yīng)用技術(shù)為優(yōu)勢(shì),以產(chǎn)品整體解決方案為己長(zhǎng),為用戶提供可靠的產(chǎn)品和有效的服務(wù)。

 

經(jīng)過(guò)團(tuán)隊(duì)每一個(gè)成員的持續(xù)努力和奮斗,公司不斷拓展業(yè)務(wù)范圍和知識(shí)的邊界,穩(wěn)步發(fā)展。專業(yè)的銷售和技術(shù)服務(wù)工程師,結(jié)合*的產(chǎn)品和誠(chéng)實(shí)守信的經(jīng)營(yíng)理念,贏得廣大客戶的認(rèn)可。特別在不斷涌現(xiàn)的新材料和技術(shù)方面,我們緊跟步伐,不斷開(kāi)拓,竭誠(chéng)為廣大客戶提供優(yōu)質(zhì)的產(chǎn)品和服務(wù)!

 

我們的愿景是通過(guò)提供以科學(xué)為基礎(chǔ)的高品質(zhì)、新技術(shù)的產(chǎn)品和服務(wù),成為*實(shí)驗(yàn)室的專業(yè)合作伙伴,此正是我們的英文名稱“Labmates”之寓意。我們真誠(chéng)感謝客戶的支持,期待分享一個(gè)成功的未來(lái)。

 




分光測(cè)色儀,鐵電測(cè)試儀,光學(xué)輪廓儀,原子力顯微鏡,光譜儀,測(cè)配色系統(tǒng)等實(shí)驗(yàn)室儀器和設(shè)備

產(chǎn)地類別 國(guó)產(chǎn) 類型 其他
應(yīng)用領(lǐng)域 能源,電子,電氣

EddyCus® map 2530RM電阻率測(cè)試儀在非接觸模式下自動(dòng)測(cè)量大型樣品的薄層電阻,最大可達(dá)300×300平方毫米(12×12英寸)。在手動(dòng)樣品定位時(shí),該設(shè)備會(huì)自動(dòng)測(cè)量并顯示整個(gè)樣品區(qū)域的薄層電阻的準(zhǔn)確映射。測(cè)量設(shè)置允許輕松靈活地在低于 1 分鐘的快速測(cè)量時(shí)間或超過(guò) 10,000 個(gè)測(cè)量點(diǎn)的高空間測(cè)量分辨率之間進(jìn)行選擇。

EddyCus® map 2530RM電阻率測(cè)試儀

EddyCus® map 2530RM電阻率測(cè)試儀產(chǎn)品介紹:

EddyCus® map 2530系列在非接觸模式下自動(dòng)測(cè)量大型樣品的薄層電阻,最大可達(dá)300×300平方毫米(12×12英寸)。在手動(dòng)樣品定位時(shí),該設(shè)備會(huì)自動(dòng)測(cè)量并顯示整個(gè)樣品區(qū)域的薄層電阻的準(zhǔn)確映射。測(cè)量設(shè)置允許輕松靈活地在低于 1 分鐘的快速測(cè)量時(shí)間或超過(guò) 10,000 個(gè)測(cè)量點(diǎn)的高空間測(cè)量分辨率之間進(jìn)行選擇。

EddyCus® map 2530RM電阻率測(cè)試儀




產(chǎn)品特點(diǎn):

· 非接觸式

· 快速、高重復(fù)度測(cè)量

· 高分辨率成像

· 最大 300 x 300 mm(12")的樣品成像測(cè)量

· 封裝的導(dǎo)電層的表征

· 軟件集成分析功能,例如電阻均一性分布、線掃描、單點(diǎn)分析

· 測(cè)量數(shù)據(jù)保存和導(dǎo)出功能

· 缺陷識(shí)別、分析


產(chǎn)品優(yōu)勢(shì):

·  非接觸式成像

·  高速 (5 分鐘測(cè)量10,000個(gè)檢測(cè)點(diǎn))

·  重復(fù)性和精確性

·  高分辨率 (9 90,000個(gè)檢測(cè)點(diǎn))

·  封裝后的膜層成像

·  均勻性和缺陷成像


產(chǎn)品參數(shù)

測(cè)量技術(shù)

非接觸式渦流傳感器

基材

晶圓(錠)、玻璃、箔等

最大限度。掃描區(qū)域

12 英寸/300 毫米 x 300 毫米(根據(jù)要求更大)

邊緣效應(yīng)校正/排除

2 10 毫米(取決于尺寸、范圍、設(shè)置和要求)

最大限度。樣品厚度/傳感器間隙

3 / 5 / 10 / 15 毫米(由最厚的樣品定義)

金屬薄膜(如鋁、銅)的厚度測(cè)量

2 nm 2 mm (根據(jù)薄層電阻)

掃描間距

1 / 2.5 / 5 / 10 / 25 毫米(其他應(yīng)要求提供)

每次測(cè)量點(diǎn)數(shù)(方形樣品)

0.5 分鐘 100

個(gè)測(cè)量點(diǎn) 3 分鐘 10,000 個(gè)測(cè)量點(diǎn)

掃描時(shí)間

8 英寸/200 毫米 x 200 毫米,1 10 分鐘(1 – 10 毫米間距)

12 英寸/300 毫米 x 300 毫米,2 6 分鐘(2.5 – 25 毫米間距)

設(shè)備尺寸 (w/h/d)

31.5 x 19.1 x 33.5 / 785 毫米 x 486 毫米 x 850 毫米

重量

90公斤

更多可用功能

金屬厚度成像、各向異性和薄層電阻傳感器


VLSR

LSR

MSR

HSR

VHSR

范圍 [歐姆/平方]

0.00010.1

0.110

0.1100

102000

1,000200,000

精度/偏差



± 1%

± 13%

± 3 5%

重復(fù)性 (2σ)



< 0.5%

< 1%

< 0.5%

軟件和設(shè)備操控:

· 人性化的軟件

· 實(shí)時(shí)測(cè)繪測(cè)量

· 易于使用的統(tǒng)計(jì)分析選項(xiàng)

· 預(yù)定義的測(cè)量和產(chǎn)品配方(尺寸、間距、閾值)

· CSV 和 pdf 導(dǎo)出

· 3 用戶級(jí)別

· 用于參數(shù)轉(zhuǎn)換的材料數(shù)據(jù)庫(kù)

· 邊緣效應(yīng)補(bǔ)償

· 數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)和導(dǎo)入

· 數(shù)據(jù)集的導(dǎo)出(例如到 EddyEva、MS Excel、Origin)





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