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MTS系列三維形貌量測設備

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西努光學創建于2003 年,主營工業顯微鏡及制樣設備、鏡片測定設備,高速攝像系統、工業內窺鏡、機器視覺等工業及科研應用的檢測設備及系統集成。
西努光學秉承“以光學為核心,為客戶提供解決方案”的經驗思路,經過16年的努力,成為眾多企業、高校科研單位提供各種專業化的光學系統解決方案。并于2012 年導入SAP 管理系統,通過系統資源整合,為客戶提供更優質、快捷的專業化服務。
2016 年,我們積極引進檢測設備的同時導入制樣等配套設備以豐富我們實驗室平臺,以更好的為客戶提供現場體驗,從微米到納米滿足客戶從制樣到結果分析的一站式體驗服務。



奧林巴斯顯微鏡,奧林巴斯工業內窺鏡,iX高速攝像機,標樂金相制樣設備,威爾遜硬度計,navitar鏡頭,日立掃描電鏡,加拿大WDI光學設備

產地類別 國產 應用領域 綜合

MTS系列三維形貌量測設備:光譜共焦傳感器結構

光譜共焦位移傳感器是一種通過光學色散原  理建立距離與波長間的對應關系,利用光譜    儀解碼光譜信息,從而獲得位置信息的裝置。

在光譜共焦位移傳感器系統中,

系統的測量范圍受4個方面的因素影晌:

1. 光源光譜分布范圍

2. 色散鏡頭在工作波段范圍內的軸向色差

3. 光譜儀的工作波段

4. 光纖耦合器的工作波段

MTS系列三維形貌量測設備


光譜共焦優勢

多功能光譜共焦傳感器


我們的光潛共焦傳感器通過高品質光學鏡頭沿汜光軸在不同距離而非單個點上聚焦白光,所有的可見光波段都 在焦點上。這種多功能的光學傳感器為測雯技術開辟了新的維度。


·任何材料都可測試- 非透明/ 透明材料,漫反射/ 反射, 吸收,彩色,粗糙/ 拋光

·同軸測試避免了陰影的影響

·斜面接受度和數值孔徑使得可測量角度在反 射表面可達 45° , 漫射率表面> 80°

· Z 軸分辨率和精度- 無需 Z 軸掃描獲取測試 結果,每個測試點都可傳遞一個測試值

·超快測試速度的多點線陣傳感器允許多點平行測試

·小且恒定的光斑尺寸可實現高的橫向分辨率

·光學探頭被動,無需移動任何部件或者嵌入電

路- 可保證高的熱穩定性,長時間的可靠性和重復性


MTS系列三維形貌量測設備


測量方式對比


數碼類顯微鏡

- 表面形貌需要做景深疊加,速度慢 - 視野小

- 掃描精度取決于Z軸電機和物鏡景深

 

  

激光共聚焦類顯微鏡

- 表面形貌需要逐層掃描,速度慢 - 視野小

- 人為數據量測

 

 

 

三角反射型類光譜共焦

- Z軸分辨率更低

- 掃描易出現盲區

- 透明材質和鏡面材質效果不佳

 

 

 

白光干涉

- 使用及維護成本高

- 不適合較大的樣品和起伏比較大的樣品

- 對表面比較粗糙的樣品效果不佳



MTS優勢

 非接觸式無損測量

 最高20nm的Z軸分辨率 

 無需景深疊加速度更快

 樣品表面反射率不受限制 

 提供表面三維全部信息

 可自定義掃描區域

 可接入Q-DTS

 可接入西勵牛油果AI


MTS系列三維形貌量測設備MTS系列三維形貌量測設備

MTS系列三維形貌量測設備

MTS系列三維形貌量測設備

MTS系列三維形貌量測設備

MTS系列三維形貌量測設備

MTS系列三維形貌量測設備

MTS系列三維形貌量測設備


MTS系列三維形貌量測設備技術參數



MTS 01

MTS 02

 

 

 

 

 

光學模組

量程 1 /mm

0.2

1

0.24

0.6

10.6

點數/線

192

1200

線長/mm

0.96

1.91

1.18

2.36

11.9

點間隔/μm

5

10

0.98

1.97

9.9

Z軸分辨率/nm

20

80

25

50

800

精度 2 /nm

±80

±300

±125

±250

±4000

 

 

 

 

 

 

 

 

四軸電動平臺

采樣速率/Hz

6000

36000

XY軸行程/mm

350X350

XY軸定位精度/μm

±0.3

XY軸重復定位精度/μm

±0.15

Z軸行程/mm

5mm

Z軸定位精度/μm

±0.2

Z軸重復定位精度/μm

±0.1

T軸定位精度

±2 arcsec

T軸重復定位精度

±1 arcsec

掃描速度/mm/s

80

 

 

2D定位相機

有效像素

2464×2056

視野大小

8.6x7.2mm

光源

LED點光

 

 

 

軟件系統

光譜共焦采集功能

導航圖采集,定位功能

可選配Q-DTS數據互聯模塊,牛油果AI

2D&3D測量

長度、寬度、高度、角度、體積等測量工具

電腦系統

可定制軟件功能

報表輸出

Word、Excel等

 

①2kHz以上,測試量程隨頻率增加而降低

②20° C時垂直鏡面測量

所給數據來源于典型應用中的測試,與其他特定情況的測試會有差異。后續印刷錯誤,修訂,更新也會造成與表格中所列技術參數的不同。因此,不保證表格中此產品所給技術參數,測量結果和信息的一致性。




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