日本OTSUKA玉崎科學供應大冢光學膜厚量測儀這是一款小型、低成本的膜厚計，采用高精度光學干涉法測量膜厚，操作簡單。
我們采用一體式外殼，將必要的設備存儲在主體內，實現穩定的數據采集。
盡管價格低廉，但也可以通過獲得絕對反射率來分析光學常數。

日本OTSUKA玉崎科學供應大冢光學膜厚量測儀產品信息：

• 緊湊、低成本、易于操作的膜厚測量。

• 通過選擇光譜儀和光源可以選擇測量膜厚范圍。

• 簡單的條件設定和測量操作，任何人都可以輕松測量。

• 配備實時監控功能、模擬功能等。

• 測量光斑直徑φ3mm（標準），支持從3nm到35μm的薄膜到厚膜的廣泛測量。

• 絕對反射率測量

• 膜厚分析（10層）

• 光學常數分析（n：折射率，k：消光系數）

• 功能膜、塑料
  透明導電膜（ITO、銀納米線）、相位差膜、偏光膜、AR膜、PET、PEN、TAC、PP、PC、PE、PVA、粘合劑、粘合劑、保護膜、硬涂層、防指紋代理等。

• 半導體
  化合物半導體、Si、氧化膜、氮化膜、抗蝕劑、SiC、GaAs、GaN、InP、InGaAs、SOI、藍寶石等。

• 表面處理
  DLC涂層、防銹劑、防霧劑等。

• 光學材料
  濾光片、增透膜等。

• FPD
  LCD（CF、ITO、LC、PI）、OLED（有機薄膜、封裝材料）等。

• 其他
  硬盤、磁帶、建筑材料等。