KM-SDY 水稻表型檢測系統
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- 公司名稱 杭州科銘光電科技有限公司
- 品牌 科銘光電
- 型號 KM-SDY
- 產地
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2024/12/16 21:17:32
- 訪問次數 187
產品標簽
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| 產地類別 | 國產 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 儀器種類 | 便攜式 | 應用領域 | 食品,農業,綜合 |
水稻育種研究中，水稻表型參數至關重要，水稻表型檢測儀可用于水稻株高、夾角、基粗、水稻畝穗數、理論產量、穗長、總粒數和千粒重以及水稻莖稈分析等指標的測量，可多點快速取樣數據可批量分析并獲取平均值。這些表型參數在水稻品種篩選、水稻產量預測、稻穗動態發育、基因定位、功能解析和水稻遺傳育種中發揮著至關重要的作用。軟件集合多方面功能為一體，一站式解決水稻的表型參數測量問題。廣泛適用于各農科院、高校、育種公司、種子站的水稻研究。
水稻表型檢測系統技術參數
測量范圍和誤差：
1、水稻畝穗數測量誤差： ≤±5%
2、稻穗形態測量范圍： 5~20cm
3、水稻夾角測量范圍： 0-180°
4、作物莖粗： 0-5.2cm
誤差
穗長誤差： ±2%
夾角測量誤差： +5%
作物莖粗測量誤差： ±1mm
千粒重測量誤差： ±2%
株高測量范圍： 0.1-1.5m
水稻莖稈測量誤差：.....±5%
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