HT-TEB-225PF 半导体器件线性快速温变箱
- 公司名称 广东皓天检测仪器有限公司
- 品牌 广皓天
- 型号 HT-TEB-225PF
- 产地 广东省东莞市常平镇常平中信路101号1号楼102室
- 厂商性质 生产厂家
- 更新时间 2024/9/3 15:07:28
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小型环境箱,高低温箱,恒温恒湿箱,交变湿热箱,复层式高低温箱,三层式恒温恒湿箱,快速温度变化箱,冷热冲击箱,紫外线老化箱,工业烤箱,精密烘箱,真空干燥箱,防爆烤箱,淋雨试验箱,摆管淋雨试验装置,滴水试验装置,砂尘试验箱,三综合(温湿+振动)箱,高低温低气压箱,大型步入式试验箱,步入式恒温恒湿室,老化房,盐雾试验箱,复合式盐雾试验室,模拟运输振动台,跌落试验机等,
产地类别 | 国产 | 价格区间 | 5万-10万 |
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应用领域 | 石油,能源,电子,电气 | 内容积 | 225 升 |
内箱尺寸 | W×D×H = 500×600×750mm | 外箱尺寸 | W×D×H = 850×1500×2030mm |
温度范围 | -20℃~+150℃ | 温度波动度 | ±0.3℃(-20℃~+100℃);±0.5℃(+100.1~+150℃) |
温度偏差 | ±1.5℃(+100.1~+150℃) | 升温时间 (平均 /min) | 线性升温速率(5℃/10℃/15℃/20℃/25℃) |
降温时间 (平均 /min) | 线性降温速率(5℃/10℃/15℃/20℃/25℃) | 使用环境 | 温度 +5℃~+35℃;湿度≤90% rh |
内箱 | 不锈钢板 SUS304 | 电源 | AC380 (1±10%) V (50±0.5) Hz 三相四线 + 保护地线 |
半导体器件线性快速温变箱
一、用途
产品研发
用于评估新开发的半导体器件在不同温度变化条件下的性能表现。通过模拟快速线性温度变化,可以发现器件在热应力下的潜在问题,为设计优化提供依据。
帮助确定半导体器件的工作温度范围和极限,以便在设计阶段就考虑到各种温度条件对器件性能的影响。
质量控制
在生产过程中,对半导体器件进行快速温变测试,确保产品符合质量标准。可以检测出可能存在的制造缺陷,如焊接不良、封装密封性差等问题。
对不同批次的产品进行一致性测试,保证产品质量的稳定性。
可靠性验证
模拟半导体器件在实际使用环境中的温度变化情况,验证其在长期使用中的可靠性。通过反复的温度循环测试,可以预测器件的寿命和故障率。
为半导体器件的可靠性认证提供测试数据,满足行业标准和客户要求。
半导体器件线性快速温变箱
二、设备在产品测试中的重要性
模拟实际工况
半导体器件在实际应用中常常会经历快速的温度变化,线性快速温变试验箱能够准确地模拟这种环境,使测试结果更接近实际使用情况。
可以帮助企业提前发现产品在实际使用中可能出现的问题,降低产品的返修率和售后成本。
加速老化测试
通过快速的温度变化,可以在较短的时间内模拟半导体器件在长期使用过程中的老化过程。这有助于缩短产品的研发周期和质量检测时间。
可以快速筛选出可靠性较低的产品,提高生产效率和产品质量。
精确控制测试条件
试验箱可以精确控制温度变化的速率、幅度和持续时间等参数,确保测试结果的准确性和可重复性。
可以根据不同的测试需求进行定制化的测试方案,满足各种半导体器件的测试要求。
提高产品可靠性
通过对半导体器件进行严格的快速温变测试,可以筛选出具有较高可靠性的产品,提高产品的市场竞争力。
可以为客户提供可靠的产品保证,增强客户对企业的信任度。
优化产品设计
根据测试结果,企业可以了解半导体器件在不同温度条件下的性能变化规律,从而优化产品的设计和制造工艺。
可以提高产品的性能和可靠性,满足市场对高品质半导体器件的需求。
满足标准:
国家标准:
GB/T 10589-1989《低温试验箱技术条件》:规定了低温试验箱的技术要求、试验方法、检验规则等,线性快速温变箱在低温性能方面需符合该标准的相关要求,如低温范围、降温速率、温度均匀性等指标。
GB/T 10586-1989《湿热试验箱技术条件》:虽然主要针对湿热试验箱,但线性快速温变箱如果具备湿热功能,也需要满足其中关于湿热环境参数控制、湿度均匀性等方面的要求。
GB/T 10592-1989《高低温试验箱技术条件》:对高低温试验箱的整体性能作出规定,包括温度范围、温度波动度、温度偏差、升降温速率等,线性快速温变箱的相关性能指标应满足此标准。
国际电工委员会标准(IEC):
IEC 60068-2-1《Environmental testing - Part 2-1: Tests - Test A: Cold》:是国际上通用的低温试验标准,规定了低温试验的方法和要求,线性快速温变箱进行低温试验时需遵循该标准。
IEC 60068-2-2《Environmental testing - Part 2-2: Tests - Test B: Dry heat》:涉及高温试验的标准,对于线性快速温变箱在高温环境下的试验条件、试验程序等作出规范。
IEC 60068-2-14《Environmental testing - Part 2-14: Tests - Test N: Change of temperature》:专门针对温度变化试验,明确了温度变化的速率、范围以及试验的持续时间等要求,线性快速温变箱的温度快速变化功能需符合该标准。
J用标准:
GJB 150.4-1986《J用设备环境试验方法 低温试验》:是J用设备进行低温试验的依据,线性快速温变箱若用于J用半导体器件测试,需满足该标准中对低温环境的各项指标要求。
GJB 150.3-1986《J用设备环境试验方法 高温试验》:规定了J用设备高温试验的条件和方法,当对J用半导体器件进行高温测试时,线性快速温变箱应符合此标准。
GJB 150.9-1986《J用设备环境试验方法 湿热试验》:如果涉及到J用半导体器件在湿热环境下的测试,线性快速温变箱要满足该标准中关于湿热试验的参数和程序要求。
其他相关标准:
MIL-STD-810D《Department of Defense Test Method Standard for Environmental Engineering Considerations and Laboratory Tests》:美国国防部的环境工程考虑和实验室测试方法标准,其中包含了对温度变化、湿热等环境试验的详细要求,线性快速温变箱在一些特定应用场景下可能需要参考此标准。
GB/T 2423.4-1993(等同于 MIL-STD-810)《电工电子产品环境试验 第 2 部分:试验方法 试验 Db:交变湿热(12h+12h 循环)》:规定了交变湿热试验的方法,线性快速温变箱进行此类试验时需按照该标准执行。
GB 2423.34-1986、MIL-STD-883C 方法 1004.2《温湿度组合循环试验》:对于温湿度组合循环试验的条件和程序作出规定,线性快速温变箱进行相关试验时要符合这些标准的要求 。