SIRM红外体微缺陷分析仪
具体成交价以合同协议为准
- 公司名称 上海波铭科学仪器有限公司
- 品牌 波铭科仪
- 型号
- 产地
- 厂商性质 生产厂家
- 更新时间 2024/9/26 11:55:34
- 访问次数 123
产品标签
联系方式:高琴18117546256 查看联系方式
联系我们时请说明是化工仪器网上看到的信息,谢谢!
价格区间 | 面议 | 应用领域 | 医疗卫生,环保,食品,生物产业,综合 |
---|
Capability:
无需制样
最小测试缺陷尺寸10nm
测试缺陷浓度范围:105-109cm-3
可做外延片测试
测试样品最大尺寸300mm
上海波铭科学仪器有限公司主要提供光谱光电集成系统、晶萃光学机械和光学平台、激光器、Edmund 光学元件、Newport 产品、滨松光电探测器、卓立汉光荧光拉曼光谱仪、是德 Keysight 电学测试系统、大塚 Otsuka 膜厚仪、鑫图科研级相机、Semilab 半导体测试设备及高低温探针台系统。经过多年的发展,上海波铭科学仪器有限公司在市场上已取得了一定的地位。我们的产品和服务在行业内具有较高的知zhi名度和美誉度,客户遍布全国。我们将继续努力,不断提升市场地位和影响力。