赛默飞实验室设备介绍：

默飞世尔科技的 Talos™   F200X 扫描/透射电子显微 镜（S/TEM）提供速，纳米材料多维定 量表征。由于配备了多种创新功能以提高效率、精度 和使用便易度，Talos™  F200X 是学术、政府和工业 等 领域进行高级研究与分析的理想选择。

高分辨图像数据质量更好：

赛默飞世尔科技的 Talos™   F200X S/TEM 融合了高分辨 率 STEM 和 TEM 成像,行业 X 射线能量色散谱（EDS） 信号检测，以及通过成分面扫实现三维化学表征等功能。利用 智能扫描引擎、基于多个STEM    探测器的四通道合并技术，以 及微分相位衬度（DPC）成像技术，赛默飞世尔科技  Velox™    S/ TEM  控制软件显著地改善  S/TEM  成像质量，可以更好地分析 电磁结构，并实行快速、准确的 EDS 数据处理及定量分析。

赛默飞世尔科技的高亮度 X 场发射电子枪可以在提供高达标准 肖特基场发射电子枪五倍束流的同时保持较小的会聚角。用户 可以获得高信噪比及STEM、EDS   图像分辨率和更多高 分辨  TEM应用。此外，X  场发射电子枪所具有的高稳定性及使 用寿命长等特点使其具有更高的成像效率。

显示范围更广、获取图像速度更快Talos™  快速 D/TEM 成像支持 高分辨率以及原位动态成像。赛默飞世尔科技的 Ceta 16M™  相 机的视场范围更大，图像采集速率可高达每秒 25 帧。同时压电 样品台可以确保高灵敏度，无漂移成像及精确样品导航。因此    Talos™  在节约用户时间的同时可以采集更多样品数据。

赛默飞Talos™  F200X扫描/透射电子显微镜加快纳米尺度范围内分析解决问题的速度。

Talos™  F200X 采用赛默飞世尔科技保护的Super-X™  集成 EDS 系统，它配备了4 个硅漂移 X 射线探测器 (SDD)，具有  灵敏度，每秒可收集高达 105 幅能谱。通过 Super-X™  与   A-TWIN 物镜集成，Talos™  F200X 限度地提高了 X 射线收 集效率，同时达到给定束流下（即使对低强度 EDS 信号）的理  想输出计数率。

赛默飞实验室设备主要优势：

提供更优质的图像：  同时进行多重信号探测的高效率 STEM 成像技术为高质量的图像提供了更好的图像对比度

快速获取化学成分数据：快速，精确定量 的 EDS 分析技术以 揭 示纳米级成分细节。

更多应用空间：利用专用的各种原位样品杆进行原位动态实验让研究更轻松。

Talos™   采用用户友好的数字界面和人体工学设计，允许多名科学家访问图像和分析工作流程。快速图像采集与简单易用的操作平台相结合，即使是经验不丰富的操作员也可以快速收集结果。使用全程遥控操作，可以提高使用的便利度并增强环境稳定性。为了保持生产率，Talos™   还配备了新的状况监视器，  以便收集重要的仪器参数，便于远程诊断和支持。

赛默飞Talos™  F200X扫描/透射电子显微镜特征：

• 领域光学性能：恒定功率 A-TWIN 物镜。

• 易用性：快速、简单的操作切换，可用于多用户环境。

• 超稳定平台：恒定功率物镜、压电样品台、可靠的系统外壳和 遥控操作确保的稳定性。

• SmartCam 相机：数字搜索和查看相机可以提高所有应用 的处理能力，并可以在日光下操作。

• 集成的快速探测器：Ceta 16M 像素 CMOS 相机可提 供较大的视场和很高的读取速度 (25 fps @ 512×512)。

• 全程遥控操作：自动光阑系统与 Ceta 相机相结合，支持 全程遥控操作。

• 提高分析能力：Talos™  利用 EDS 三维成像技术将化学成分分 析能力从二维扩展到三维 。

安装要求：

详细数据，请参考预装指南。