4200-SCS 吉時(shí)利半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng) 其它儀器
- 公司名稱 深圳市晧辰電子科技有限公司
- 品牌 Keithley/美國(guó)吉時(shí)利
- 型號(hào) 4200-SCS
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 經(jīng)銷商
- 更新時(shí)間 2024/9/6 11:00:07
- 訪問次數(shù) 135
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網(wǎng)絡(luò)分析儀、無線綜合測(cè)試儀、邏輯分析儀、阻抗分析儀、信號(hào)源、信號(hào)發(fā)生器、信號(hào)分析儀、中高檔示波器
應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
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吉時(shí)利半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng) 其它儀器是用于器件、材料和半導(dǎo)體工藝參數(shù)分析的完整解決方案。這種先進(jìn)的參數(shù)分析儀具有不可比擬的測(cè)量靈敏度和精度,同時(shí)繼承了嵌入式Windows操作系統(tǒng)和吉時(shí)利交互式測(cè)試環(huán)境,
為半導(dǎo)體科研及產(chǎn)業(yè)用戶進(jìn)行半導(dǎo)體器件特性分析提供了直觀而高級(jí)的功能。
吉時(shí)利半導(dǎo)體特性分析系統(tǒng) 其它儀器使用 4200A-SCS 加快半導(dǎo)體設(shè)備、材料和工藝開發(fā)的探索、可靠性和故障分析研究。 高性能參數(shù)分析儀,提供同步電流-電壓 (I-V)、電容-電壓 (C-V) 和超快脈沖 I-V 測(cè)量。
特點(diǎn)
內(nèi)置測(cè)量視頻采用英語、中文、日語和韓語
使用數(shù)百個(gè)用戶可修改應(yīng)用測(cè)試開始您的測(cè)試
自動(dòng)實(shí)時(shí)參數(shù)提取、數(shù)據(jù)繪圖、算數(shù)函數(shù)
測(cè)量、 切換、 重復(fù)。
4200A-CVIV 多通道切換模塊自動(dòng)在 I-V 和 C-V 測(cè)量之間切換,無需重新布線或抬起探頭端部。 與競(jìng)爭(zhēng)產(chǎn)品不同,四通道 4200A-CVIV 顯示器提供本地可視查看,可快速完成測(cè)試設(shè)置,并在出現(xiàn)意想不到的結(jié)果時(shí)輕松排除故障。
特點(diǎn)
無需重新布線即可將 C-V 測(cè)量移動(dòng)到任何設(shè)備終端
用戶可配置低電流功能
個(gè)性化輸出通道名稱
查看實(shí)時(shí)測(cè)試狀態(tài)
檢定、 自定義
簡(jiǎn)單地說,4200A-SCS 可以玩全自定義且全面升級(jí),您可以對(duì)半導(dǎo)體設(shè)備、新材料、有源/無源組件、晶片級(jí)可靠性、故障分析、電化學(xué)或幾乎任何類型的樣本執(zhí)行電氣檢定和評(píng)估。
特點(diǎn)
NBTI/PBTI 測(cè)試
隨機(jī)電報(bào)噪聲
非易失內(nèi)存設(shè)備
穩(wěn)壓器應(yīng)用測(cè)試
帶分析探測(cè)器和低溫控制器的集成解決方案。
4200A-SCS 參數(shù)分析儀支持許多手動(dòng)和半自動(dòng)晶片探測(cè)器和低溫控制器,包括 Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低溫控制器。
特點(diǎn)
“點(diǎn)擊”測(cè)試定序
“手動(dòng)”探測(cè)器模式測(cè)試探測(cè)器功能
假探測(cè)器模式無需移除命令即可實(shí)現(xiàn)調(diào)試